Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "image sensors" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-5 z 5
Tytuł:
System pomiarowy do obserwacji efektów prądu ciemnego przetworników obrazu
A measurement system for observation of dark current effect of image sensors
Autorzy:
Michalak, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/153124.pdf
Data publikacji:
2006
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
system pomiarowy
obserwacja
efekty prądu ciemnego przetworników obrazu
measurement systems
observation
dark curent effect of image sensors
Opis:
W pracy przedstawiono system pomiarowy do obserwacji i rejestracji efektów prądu ciemnego przetworników obrazu. Na podstawie zarejestrowanych obrazów można dokonać wstępnej oceny jakości badanego przetwornika (matrycy). W systemie wykorzystano kartę akwizycji obrazu oraz oprogramowanie IMAQ (Image Acquisition), które jest elementem graficznego środowiska programowania systemów pomiarowych LabView (National Instruments). Przedstawiono przykładowy program do obserwacji efektów szumów i prądu ciemnego przetworników obrazu. Pokazano przykłady zarejestrowanych obrazów ilustrujące omawiane zagadnienie.
In this article a measurement system for observation of quality of image sensors (CCD cameras) was presented. An image acquisition card NI PCI 1411 and LabView environment IMAQ (National Instruments) were used. An example program for observation noise effect and dark current of image CCD sensors was shown. Some registered images of noise effect for examined YK-3027D CCD camera were presented.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2006, R. 52, nr 6, 6; 19-21
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Measurement and performance evaluation of a silicon on insulator pixel matrix
Autorzy:
Ntavelis, D.
Harik, L.
Sallese, J.-M.
Kayal, M.
Hatzopoulos, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/397821.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
technika SOI tranzystora polowego MOS
czujnik obrazu
pompować ładunek
pierwsza kolejność delta-sigma
SOI MOSFET
image sensors
charge pumping
first order delta-sigma
Opis:
A new technique for driving silicon-on-insulator pixel matrixes has been proposed in |1|, which was based on transient charge pumping for evacuating the extra photo-generated charges from the body of the transistor. An 8x8 pixel matrix was designed and fabricated using the above technique. In this paper, the measurement set-up is described and the performance evaluation procedure is given, together with results of its implementation on the fabricated pixel matrix. The results show the applicability of the charge pumping technique and the effective operation of the image sensor.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2010, 1, 3; 299-304
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
SLAM algorithm without odometric sensors usage in context of different computing processor types
Autorzy:
Fiedeń, Mateusz
Miotk, Michał
Dąbek, Przemysław
Muraszkowski, Artur
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1189909.pdf
Data publikacji:
2019
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
cyfrowe przetwarzanie obrazów
SLAM
CUDA
brak czujników odometrycznych
digital image processing
absence of odometric sensors
Opis:
SLAM stands for a simultaneous localization and mapping. It’s used in construction of autonomic robots, designed for work in topographically unknown areas or dynamically changing environment. In its simplest form it utilizes distance sensor, lidar for example, and displacement data obtained from encoders. Thanks to application of appropriate strategies of adding next scan iterations and filtration of obtained data, it allows to create accurate maps with minimal computing power required. However, usage of encoders is not always possible, as in case of boats, legged robots or drones. To solve this problem, there’s proposed an algorithm that allows for localization and mapping in described situation, with a discussion on type of processors used by program. Because of the task specifics, it’s necessary to match many obtained simultaneously measurements with created map. For this purpose, the differences between algorithm version using only CPU, by spreading the task between different processor threads, and algorithm version that utilize graphical computing acceleration, that make calculations on many parallel CUDA cores, were checked. Both implementations were tested on the corridor inside building with results in the form of charts comparing time needed for separated iterations to complete.
Źródło:
Interdisciplinary Journal of Engineering Sciences; 2019, 7, 1; 28--37
2300-5874
Pojawia się w:
Interdisciplinary Journal of Engineering Sciences
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wyznaczanie terenowej zdolności rozdzielczej sensorów cyfrowych w oparciu o cele kalibracyjne
Determining the ground resolved distance for digital sensors using calibration targets
Autorzy:
Orych, A.
Walczykowski, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/129847.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Stowarzyszenie Geodetów Polskich
Tematy:
teledetekcja
interpretacja zdjęć
terenowa zdolność rozdzielcza
sensory cyfrowe
cele kalibracyjne
image interpretation
remote sensing
ground resolved distance
digital sensors
calibration targets
Opis:
Jednym z najistotniejszych parametrów opisujących jakość i przydatność interpretacyjną satelitarnych i lotniczych zobrazowań teledetekcyjnych jest ich rozdzielczość przestrzenna. Zobrazowania o dobrej rozdzielczości terenowej umożliwią interpretatorowi dokonanie dokładniejszej analizy i bardziej szczegółowego rozpoznania niżeli byłoby to możliwe na podstawie zobrazowań o niższej rozdzielczości. W przypadku sensorów cyfrowych możemy rozróżnić dwa parametry opisujące rozdzielczość powierzchniową obrazów: GRD (Ground Resolved Distance) i GSD (Ground Sampling Distance). GSD jest to częstość próbkowania i określa jedynie wielkość piksela w terenie. Parametr GRD jednak określa najmniejszą wielkość, jaka może zostać rozróżniona na zobrazowaniu. Terenowa zdolność rozdzielcza wyznaczana jest na podstawie specjalnie skonstruowanych testów kalibracyjnych. Testy te przyjmują szereg kształtów, form i rozmiarów. Cechują się zróżnicowanym kontrastem pomiędzy poszczególnymi elementami. Cele kalibracyjne wykorzystywane były od wielu lat do wyznaczania terenowej zdolności rozdzielczej sensorów analogowych. Najnowsze badania rozdzielczości sensorów cyfrowych wykonane na podstawie tych samych tradycyjnych celów kalibracyjnych pokazały, iż niektóre tradycyjne cele nie są odpowiednie. W celu poprawnego zbadania rozdzielczości sensorów cyfrowych niezbędne są pewne zmiany w konstrukcji takiego celu. Wartości GRD wyznaczone na podstawie istniejących celów obarczone są dużymi błędami spowodowanymi artefaktami występującymi na pozyskanych obrazach. Wynika to ze sposobu, w jaki promieniowanie rejestrowane jest przez detektor cyfrowy. Zespół Zakładu Teledetekcji i Fotogrametrii WAT przeprowadził serię doświadczeń, które pozwoliły na określenie optymalnych parametrów celu kalibracyjnego, który służyłby do wyznaczania terenowej zdolności rozdzielczej sensorów cyfrowych. Dodatkowo badania pozwoliły na opisanie metodyki prowadzenia analizy wizualnej pozyskanych zobrazowań. W badaniach tych przeanalizowano parametry specyficzne dla zobrazowań cyfrowych.
One of the main parameters describing the quality and interpretational usefulness of satellite and aerial remote sensing images is their spatial resolution. Imagery characterized by a high ground resolution enable the interpreter to conduct a more detailed analysis and more thorough interpretation than possible with images of lower resolution. When working with digital sensors we can distinguish two parameters which define the spatial resolution of images: GRD (Ground Resolved Distance) and GSD (Ground Sampling Distance). GSD is the sampling frequency and only describes the size of the pixel on the ground. The GRD parameter describes the smallest length which can be recognized on the image. The ground resolved distance is determined based on especially constructed calibration targets. These targets can take several forms, shapes and sizes. They are characterized by a difference in contrast between its individual segments. Calibration targets have been used for many years to determine the ground resolved distance of analogue sensors. The newest research on digital sensors based on the same traditional calibration targets have shown that some of these targets are now inadequate. In order to correctly determine the resolution of digital sensors, changes must be made to the structure of the targets. The GRD value calculated based on existing targets is laden with large errors caused by artifacts occurring on the acquired images. These are the result of the way energy is registered by a digital sensor. A research team from the Remote Sensing and Photogrammetry Department of the military University of Technology has conducted a number of experiments which have allowed to determine the optimal parameters of a calibration target for establishing the ground resolved distance of digital sensors. Additionally, the experiments allowed description of a new methodology for analyzing the acquired imagery. In these experiments a number of parameters specific to digital imagery had been analyzed.
Źródło:
Archiwum Fotogrametrii, Kartografii i Teledetekcji; 2010, 21; 291-300
2083-2214
2391-9477
Pojawia się w:
Archiwum Fotogrametrii, Kartografii i Teledetekcji
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Działalność polskiego komitetu optoelektroniki stowarzyszenia elektryków polskich
Activity of Polish Optoelectronics Committee, Association of Polish Electrical Engineers
Autorzy:
Woliński, W.
Romaniuk, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1199081.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Napędów i Maszyn Elektrycznych Komel
Tematy:
optoelektronika
optyka
optyka zintegrowana
technika laserowa
technika światłowodowa
lasery półprzewodnikowe
telekomunikacja światłowodowa
czujniki światłowodowe
optoelektronika medyczna
optoelektronika informacyjna
optoelektronika obrazowa
fotowoltaika
metrologia optoelektroniczna
fotonika
ogólnokrajowe projekty i programy naukowo-techniczne z obszaru optoelektroniki
optoelectronics
optics
integrated optics
laser technology
optical fibre technology
semiconductor lasers
optical fibre communications
optical fibre sensors
medical optoelectronics
optoelectronic metrology
information optoelectronics
image optoelectronics
photovoltaics
photonics
research and technical projects and programs in optoelectronics in Poland
Opis:
The paper presents, in a concise manner, activities of the Polish Optoelectronics Committee of the Association of Polish Electrical Engineers (PKOpto SEP) since its establishment in 1985. Aim of the paper is to gather and remind chosen historical data concerning Polish optoelectronics experiencing tempestuous technological development during this time period. The authors were insightful observers, active participants and initiators of many of these developments, and among others were founder members of the Committee. PKOpto SEP was then very important and active, centrally located, opinion-forming and action-initiating community body. It played an important role in the life and development of the Polish optoelectronics technical and research communities, recurrent professional education and lifelong learning of experts in optoelectronics, local integration and opening of Polish research community to wide international cooperation. Traces of this early, exceptionally operative Committee activities may be observed in Polish optoelectronics research and technical community till today. These early activities of the Committee gave birth to numerable initiatives, undertakings, projects and programs, out of which some last till today in the form of recognized series of conferences, realized, implemented, and practically applied research projects for science, industry, safety, defense and medicine, but also for active research and technical community and social organizations. Introduction to the paper marks the area of PKOpto activities. Persons involved in Committee establishing are reminded. Working groups of the Committee embraced more than 200 persons and covered the whole area of optoelectronics. PKOpto SEP was undertaking continuously various domestic and international initiatives. It initiated and was engaged in organization of National Optoelectronics Schools, conferences, symposia, supported professional publishing in the area of laser technology, optoelectronics applications in medicine, telecommunications, industry and research. The paper is ended with a short reflection concerning PKOpto activities today and perspectives in the nearest future.
Artykuł przedstawia w znacznym skrócie działalność Polskiego Komitetu Optoelektroniki Stowarzyszenia Elektryków Polskich (PKOpto SEP) od momentu jego powstania w roku 1985. Celem artykułu jest zebranie i przypomnienie wybranych danych historycznych dotyczących krajowej optoelektroniki przeżywającej burzliwy rozwój technologiczny w tym okresie. Autorzy artykułu byli obserwatorami, aktywnymi uczestnikami i inicjatorami wielu z tych procesów rozwojowych. PKOpto SEP, jako bardzo ważne i aktywne, opiniotwórcze i inicjatywne ciało społeczne, odegrał istotną rolę w życiu i rozwoju krajowego środowiska naukowo-technicznego optoelektroniki w Polsce, kształceniu ustawicznym kadr zawodowych, integracji lokalnej i otwarciu tego środowiska na współpracę międzynarodową. Wyraźne ślady tej wczesnej, niezwykle aktywnej i pożytecznej działalności Polskiego Komitetu Optoelektroniki obserwowane są w polskim środowisku naukowo-technicznym do dzisiaj. Z ówczesnej działalności Komitetu narodziło się wiele inicjatyw, przedsięwzięć, projektów które trwają do dnia dzisiejszego w postaci ustabilizowanych serii konferencji, zrealizowanych projektów badawczych na rzecz nauki i przemysłu, a także aktywnych społecznych organizacji naukowotechnicznych. We wstępie artykułu zasygnalizowano obszar działalności Komitetu. W dalszej kolejności przedstawiono osoby zaangażowane w jego powstanie. Zespoły robocze Komitetu, w których działało łącznie ponad 200 osób, obejmowały cały obszar optoelektroniki. Komitet podejmował inicjatywy krajowe i międzynarodowe na rzecz środowiska naukowo – technicznego optoelektroniki, angażował się w organizację Krajowych Szkół Optoelektroniki, sympozjów i konferencji, wspierał wydawnictwa zawodowe w obszarze techniki laserowej, zastosowań optoelektroniki w medycynie, telekomunikacji, przemyśle i badaniach naukowych. Artykuł podsumowano krótką refleksją dotyczącą całości dorobku historycznego oraz działalności Komitetu w dniu dzisiejszym i perspektywom w najbliższej przyszłości.
Źródło:
Maszyny Elektryczne: zeszyty problemowe; 2017, 4, 116; 205-211
0239-3646
2084-5618
Pojawia się w:
Maszyny Elektryczne: zeszyty problemowe
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-5 z 5

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies