Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "gallium" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-37 z 37
Tytuł:
Gallium oxide buffer layers for gallium nitride epitaxy
Autorzy:
Korbutowicz, R
Wnek, J
Panachida, P
Serafinczuk, J
Srnanek, R
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/174303.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
hydride vapour phase epitaxy
gallium nitride
gallium oxide
thermal oxidation
buffer layer
Opis:
Gallium nitride (GaN) is very attractive semiconductor material because of its unique properties. The serious matter is a lack of easy access to bulk crystals of GaN. Synthesized crystals are precious and rather small. For these reasons almost all device manufacturers and researchers apply alternative substrates for gallium nitride devices epitaxy and it causes that the technology is intricate. Alternative substrates need buffer layers – their technology is usually complex and expensive. We have proposed a simple method to avoid large costs: applying gallium oxide – monoclinic β-Ga2O3, as the buffer layer, which has structural properties quite good matched to GaN. As the substrates made from single crystal gallium oxide are still hardly available on the market, we have used hydride vapour phase epitaxy (HVPE) GaN epilayers as a starting material. It can be GaN layer under good quality – middle or low. The oxidation process converts top GaN to β-Ga2O3 layer which can release or absorb the strain. Applying such structure in another, second, epitaxy of GaN allows to obtain good quality epitaxial structures using HVPE technique.
Źródło:
Optica Applicata; 2013, 43, 1; 73-79
0078-5466
1899-7015
Pojawia się w:
Optica Applicata
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Optimization of p-type contacts to InGaN-based laser diodes and light emitting diodes grown by plasma assisted molecular beam epitaxy
Autorzy:
Nowakowski-Szkudlarek, Krzesimir
Muziol, Grzegorz
Żak, Mikolaj
Hajdel, Mateusz
Siekacz, Marcin
Feduniewicz-Żmuda, Anna
Skierbiszewski, Czesław
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/173471.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
gallium nitride
molecular beam epitaxy
contacts
Opis:
We investigated the influence of the In0.17Ga0.83N:Mg contact layer grown by plasma assisted molecular beam epitaxy on the resistivity of p-type Ni/Au contacts. We demonstrate that the Schottky barrier width for p-type contact is less than 5 nm. We compare circular transmission line measurements with a p-n diode current-voltage characteristics and show that discrepancies between these two methods can occur if surface quality is deteriorated. It is found that the most efficient contacts to p-type material consist of In0.17Ga0.83N:Mg contact layer with Mg doping levelas high as 2 × 1020 cm–3.
Źródło:
Optica Applicata; 2020, 50, 2; 323-330
0078-5466
1899-7015
Pojawia się w:
Optica Applicata
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Beneficiation of Ga from alunite concentrates by selective acid leaching and alkaline precipitation
Autorzy:
Zhu, Mao-Lan
Chen, Hang
Zhong, Shui-Ping
Huang, Zhong-Sheng
Chen, Xi
Hu, Zhi-Biao
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/110733.pdf
Data publikacji:
2019
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
gallium
selective leaching
precipitation
alunite concentrate
Opis:
In this study beneficiation of Ga from alunite ore was investigated. The effects of the calcination temperature, H2SO4 concentration, leaching temperature and liquid-solid ratio on the dissolution characteristic of Ga, K and Al were studied. The results showed that increasing the calcination temperature, H2SO4 concentration and leaching temperature can improve the solubility of K and Al. However, higher H2SO4 concentration and lower leaching temperature can improve the dissolution of Ga, which was beneficial to recovery of Ga. On the basis of the solubility difference in H2SO4, a two-stage process of selective acid leaching and alkali precipitation of Ga was proposed. The concentration of Ga was increased significantly from 54 g/t in alunite ore to 4100 g/t in alkali precipitation product. The major elements of Al and K in alunite were recovered as the alum crystal with a purity of 99.62%.
Źródło:
Physicochemical Problems of Mineral Processing; 2019, 55, 4; 1028-1038
1643-1049
2084-4735
Pojawia się w:
Physicochemical Problems of Mineral Processing
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Modelling of changes in the resistivity of semi-insulating materials
Autorzy:
Suproniuk, Marek
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1849000.pdf
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
resistivity
semiconductor
gallium phosphide
silicon carbide
Opis:
Electrical properties of semiconductor materials depend on their defect structure. Point defects, impurities or admixture contained in a semiconductor material, strongly affect its properties and determine the performance parameters of devices made on its basis. The results of the currently used methods of examining the defect structure of semiconductor material are imprecise due to solution of ill-posed equations. These methods do not allow for determination of concentration of the defect centers examined. Improving the resolution of the obtained parameters of defect centers, determining their concentration and studying changes in the resistivity of semi-insulating materials can be carried out, among others, by modelling changes in the concentration of carriers in the conduction and valence bands. This method allows to determine how charge compensation in the material affects the changes in its resistivity. Calculations based on the Fermi-Dirac statistics can complement the experiment and serve as a prediction tool for identifying and characterizing defect centers. Using the material models (GaP, 4H-SiC) presented in the article, it is possible to calculate their resistivity for various concentrations of defect centers in the temperature range assumed by the experimenter. The models of semi-insulating materials presented in the article were built on the basis of results of testing parameters of defect centers with high-resolution photoinduced transient spectroscopy (HRPITS). The current research will allow the use of modelling to determine optimal parameters of semi-insulating semiconductor materials for use in photoconductive semiconductor switches (PCSS).
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2021, 28, 3; 581-592
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Modelling of changes in the resistivity of semi-insulating materials
Autorzy:
Suproniuk, Marek
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1849019.pdf
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
resistivity
semiconductor
gallium phosphide
silicon carbide
Opis:
Electrical properties of semiconductor materials depend on their defect structure. Point defects, impurities or admixture contained in a semiconductor material, strongly affect its properties and determine the performance parameters of devices made on its basis. The results of the currently used methods of examining the defect structure of semiconductor material are imprecise due to solution of ill-posed equations. These methods do not allow for determination of concentration of the defect centers examined. Improving the resolution of the obtained parameters of defect centers, determining their concentration and studying changes in the resistivity of semi-insulating materials can be carried out, among others, by modelling changes in the concentration of carriers in the conduction and valence bands. This method allows to determine how charge compensation in the material affects the changes in its resistivity. Calculations based on the Fermi-Dirac statistics can complement the experiment and serve as a prediction tool for identifying and characterizing defect centers. Using the material models (GaP, 4H-SiC) presented in the article, it is possible to calculate their resistivity for various concentrations of defect centers in the temperature range assumed by the experimenter. The models of semi-insulating materials presented in the article were built on the basis of results of testing parameters of defect centers with high-resolution photoinduced transient spectroscopy (HRPITS). The current research will allow the use of modelling to determine optimal parameters of semi-insulating semiconductor materials for use in photoconductive semiconductor switches (PCSS).
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2021, 28, 3; 581-592
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Modelling of changes in the resistivity of semi-insulating materials
Autorzy:
Suproniuk, Marek
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1849057.pdf
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
resistivity
semiconductor
gallium phosphide
silicon carbide
Opis:
Electrical properties of semiconductor materials depend on their defect structure. Point defects, impurities or admixture contained in a semiconductor material, strongly affect its properties and determine the performance parameters of devices made on its basis. The results of the currently used methods of examining the defect structure of semiconductor material are imprecise due to solution of ill-posed equations. These methods do not allow for determination of concentration of the defect centers examined. Improving the resolution of the obtained parameters of defect centers, determining their concentration and studying changes in the resistivity of semi-insulating materials can be carried out, among others, by modelling changes in the concentration of carriers in the conduction and valence bands. This method allows to determine how charge compensation in the material affects the changes in its resistivity. Calculations based on the Fermi-Dirac statistics can complement the experiment and serve as a prediction tool for identifying and characterizing defect centers. Using the material models (GaP, 4H–SiC) presented in the article, it is possible to calculatetheir resistivity for various concentrations of defect centers in the temperature range assumed by the experimenter. The models of semi-insulating materials presented in the article were built on the basis of results of testing parameters of defect centers with high-resolution photoinduced transient spectroscopy (HRPITS). The current research will allow the use of modelling to determine optimal parameters of semi-insulating semiconductor materials for use in photoconductive semiconductor switches (PCSS).
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2021, 28, 3; 581-592
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Cyclotron production of 68Ga via proton-induced reaction on 68Zn target
Autorzy:
Sadeghi, M.
Kakavand, T.
Rajabifar, S.
Mokhtari, L.
Rahimi-Nezhad, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/146448.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
Tematy:
production
gallium-68
zinc-68
PET
cyclotron
Opis:
68Ga is an important positron-emitting radionuclide for positron emission tomography. In this work 68Ga was produced via the 68Zn(p,n)68Ga nuclear reaction. 68Zn electrodeposition on a copper substrate was carried out by alkaline cyanide baths. 68Zn target was irradiated with a 15 MeV proton beam and a 150 mi A current. The production yield achieved was 136 mCi/ mi Aźh (5.032 GBq/mi Aźh). 68Ga was separated from zinc and copper by a combination of cation exchange chromatography and liquid-liquid extraction methods.
Źródło:
Nukleonika; 2009, 54, 1; 25-28
0029-5922
1508-5791
Pojawia się w:
Nukleonika
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Thermal Desorption of Argon Implanted into Gallium Arsenide
Autorzy:
Turek, Marcin
Droździel, Andrzej
Pyszniak, Krzysztof
Węgierek, Paweł
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2201837.pdf
Data publikacji:
2022
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
thermal desorption spectroscopy
gallium arsenide
ion implantation
Opis:
Thermal desorption of Ar implanted with energies 150 keV and 100 keV with fluence 1×10^16 cm^-2 into GaAs is considered. A sudden release of Ar is observed in temperature range 1100 -1180 K as a single narrow peak in TDS (Thermal Desorption Spectroscopy) spectra. This is accompanied by a strong background signal from atmospheric Ar trapped in various parts of the spectrometer. Desorption peak shift analysis allows estimation of desorption activation energy values - these are 3.6 eV and 2.5 eV for implantation energies 150 keV and 100 keV, respectively. These results are comparable to that measured for Ar implanted into germanium target.
Źródło:
Advances in Science and Technology. Research Journal; 2022, 16, 4; 318--326
2299-8624
Pojawia się w:
Advances in Science and Technology. Research Journal
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Production and quality control of 66Ga radionuclide
Autorzy:
Sabet, M.
Rowshanfarzad, P.
Jalilian, A.
Ensaf, M.
Rajamand, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/146278.pdf
Data publikacji:
2006
Wydawca:
Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
Tematy:
gallium-66
cyclotron
radiochemical separation
target recovery
Opis:
The purpose of this study was to develop the required targetry and radiochemical methods for production of 66Ga, according to its increasing applications in various fields of science. The 66Zn(p,n)66Ga reaction was selected as the best choice for the production of 66Ga. The targets were bombarded with 15 MeV protons from cyclotron (IBA-Cyclone 30) at the Nuclear Research Center for Agriculture and Medicine (NRCAM) with a current of 180 mA for 67 min. ALICE and SRIM (Stopping and Range of Ions in Matter) nuclear codes were used to predict the optimum energy and target thickness. Targets were prepared by electroplating 95.73% enriched 66Zn on a copper backing. Chemical processing was performed by a no-carrier-added method consisting of ion exchange chromatography and liquid-liquid extraction. Anion exchange chromatography was also used for the recovery of target material. Quality control of the product was carried out in two steps of chemical and radionuclide purity control. The activity of 66Ga was 82.12 GBq at EOB and the production yield was 410.6 MBq/mAh. The radiochemical separation yield was 93% and the yield of chemical recovery of the target material was 97%. Quality control tests showed a radionuclide purity higher than 97% and the amounts of chemical impurities were in accordance with the United States Pharmacopoeiae levels.
Źródło:
Nukleonika; 2006, 51, 3; 147-154
0029-5922
1508-5791
Pojawia się w:
Nukleonika
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Calorimetric Measurements of Ga-Li System by Direct Reaction Method
Autorzy:
Dębski, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/350810.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
gallium-lithium system
Ga-Li
calorimetry
thermochemistry
Opis:
The direct reaction calorimetric method was used for the determination of the formation enthalpy of alloys which concentrations correspond to the: Ga7Li2, Ga9Li5, GaLi, Ga4Li5, Ga2Li3, and GaLi2 intermetallic phases. The obtained experimental values of the formation enthalpy were: –18.1 ±0.8 kJ/mol at., –26.5 ±0.3 kJ/mol at., –34.7 ±0.3 kJ/mol at., –33.5 ±0.5 kJ/mol at., –32.8 ±0.3 kJ/mol at. and –24.6 ±1.4 kJ/mol at., respectively. After the calorimetric measurements, all the samples were checked by way of X-ray diffraction investigations to confirm the structure of the measured alloys. All the measured values of the formation enthalpy of the Ga-Li alloys were compared with literature data and the data calculated with use of the Miedema model.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2017, 62, 2A; 919-926
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Preparation and evaluation of a [66Ga]gallium chitosan complex in fibrosarcoma bearing animal models
Autorzy:
Pourjavadi, A.
Akhlaghi, M.
Jalilian, A. R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/147067.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
Tematy:
chitosan
gallium-66
internal radiotherapy
fibrosarcoma
intratumoral injection
Opis:
[66Ga]gallium chitosan complex was prepared with a high radiochemical purity (greater than 99%) in dilute acetic acid solution. The radiochemical purity of [66Ga]gallium chitosan complex was checked by using paper chromatography technique. The prepared complex solution was injected intratumoral to fibrosarcoma-bearing mice and the leakage of radioactivity from injection site was investigated. Approximately, 85.4% of the injected dose was retained in the injection site 54 h after injection and most of the leaked radioactivity was accumulated in the blood, liver (0.5%) and lung (6.5%).
Źródło:
Nukleonika; 2011, 56, 1; 35-40
0029-5922
1508-5791
Pojawia się w:
Nukleonika
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Biosorption Performance of Biodegradable Polymer Powders for the Removal of Gallium(III) ions from Aqueous Solution
Autorzy:
Lee, Ching-Hwa
Lin, Hang-Yi
Cadogan, Elon I.
Popuri, Srinivasa R.
Chang, Chia-Yuan
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/778539.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie. Wydawnictwo Uczelniane ZUT w Szczecinie
Tematy:
chitosan
crab shell powder
gallium
Langmuir-Freundlich
kinetics
Opis:
Gallium (Ga) is considered an important element in the semiconducting industry and as the lifespan of electronic products decrease annually Ga-containing effluent has been increasing. The present study investigated the use of biodegradable polymer powders, crab shell and chitosan, in the removal of Ga(III) ions from aqueous solution. Ga(III) biosorption was modeled to Lagergren-first, pseudo-second order and the Weber-Morris models. Equilibrium data was modeled to the Langmuir, Freundlich and Langmuir-Freundlich adsorption isotherms to determine the probable biosorption behavior of Ga(III) with the biosorbents. The biosorbents were investigated by Fourier Transform Infrared Spectroscopy, X-ray Diffraction and Scanning Electron Microscopy/Energy Dispersive Spectra analysis.
Źródło:
Polish Journal of Chemical Technology; 2015, 17, 3; 124-132
1509-8117
1899-4741
Pojawia się w:
Polish Journal of Chemical Technology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Uranium and neodymium partitioning in alkali chloride melts using low-melting gallium-based alloys
Autorzy:
Melchakov, S. Y.
Maltsev, D. S.
Volkovich, V. A.
Yamshchikov, L. F.
Lisienko, D. G.
Osipenko, A. G.
Rusakov, M. A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/146407.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
Tematy:
neodymium
uranium
gallium
separation factor
reductive extraction
pyrochemical reprocessing
Opis:
Partitioning of uranium and neodymium was studied in a ‘molten chloride salt – liquid Ga-X (X = In or Sn) alloy’ system. Chloride melts were based on the low-melting ternary LiCl-KCl-CsCl eutectic. Nd/U separation factors were calculated from the thermodynamic data as well as determined experimentally. Separation of uranium and neodymium was studied using reductive extraction with neodymium acting as a reducing agent. Efficient partitioning of lanthanides (Nd) and actinides (U), simulating fission products and fissile materials in irradiated nuclear fuels, was achieved in a single stage process. The experimentally observed Nd/U separation factor valued up to 106, depending on the conditions.
Źródło:
Nukleonika; 2015, 60, No. 4, part 2; 915-920
0029-5922
1508-5791
Pojawia się w:
Nukleonika
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Behavior of gallium and germanium associated with zinc sulfide concentrate in oxygen pressure leaching
Autorzy:
Liu, F.
Liu, Z.
Li, Y.
Wilson, B. P.
Lundstrom, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/110812.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
zinc sulfide concentrate
gallium
germanium
pyrite
oxygen pressure leaching
Opis:
The Fankou zinc concentrate (Guangdong province, China) was mineralogically characterized and results showed that the main germanium-bearing minerals in the sample comprised of zinc sulfide and galena, whereas gallium-bearing minerals were pyrite, sphalerite and silicate. Oxygen pressure leaching of zinc sulfide concentrate was carried out in order to investigate the effect of pressure, leaching time, sulfuric acid and copper concentrations on the leaching behavior of gallium and germanium. Under optimum conditions, leaching of Zn, Fe, Ge and Ga reached 98.21, 90.45, 97.45 and 96.65%, respectively. In the leach residues, it was determined that some new precipitates, such as PbSO4, CaSO4 and SiO2, were formed, which co-precipitated a certain amount of Ga and Ge from the leach solution. The results clearly indicated that Ga and Ge were much more difficult to leach than Zn, and provided answers to why the leaching efficiency of Ga is 10% lower when compared to Ge.
Źródło:
Physicochemical Problems of Mineral Processing; 2017, 53, 2; 1047-1060
1643-1049
2084-4735
Pojawia się w:
Physicochemical Problems of Mineral Processing
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Comparison of photoconductive semiconductor switch parameters with selected switch devices in power systems
Autorzy:
Piwowarski, Karol
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1818252.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Stowarzyszenie Elektryków Polskich
Tematy:
electronic devices
electric switch
photoconductive semiconductor switches
gallium phosphide
Opis:
Currently, work is underway to manufacture and find potential applications for a photoconductive semiconductor switch made of a semi-insulating material. The article analyzes the literature in terms of parameters and possibilities of using PCSS switches, as well as currently used switches in power and pulse power electronic system. The results of laboratory tests for the prototype model of the GaP-based switch were presented and compared with the PCSS switch parameters from the literature. The operating principle, parameters and application of IGBT transistor, thyristor, opto-thyristor, spark gap and power switch were presented and discussed. An analysis of the possibilities of replacing selected elements by the PCSS switch was carried out, taking into account the pros and cons of the compared devices. The possibility of using the currently made PCSS switch from gallium phosphide was also discussed.
Źródło:
Opto-Electronics Review; 2020, 28, 2; 74--81
1230-3402
Pojawia się w:
Opto-Electronics Review
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Comparison of photoconductive semiconductor switch parameters with selected switch devices in power systems
Autorzy:
Piwowarski, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1818254.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Stowarzyszenie Elektryków Polskich
Tematy:
electronic devices
electric switch
photoconductive semiconductor switches
gallium phosphide
Opis:
Currently, work is underway to manufacture and find potential applications for a photoconductive semiconductor switch made of a semi-insulating material. The article analyzes the literature in terms of parameters and possibilities of using PCSS switches, as well as currently used switches in power and pulse power electronic system. The results of laboratory tests for the prototype model of the GaP-based switch were presented and compared with the PCSS switch parameters from the literature. The operating principle, parameters and application of IGBT transistor, thyristor, opto-thyristor, spark gap and power switch were presented and discussed. An analysis of the possibilities of replacing selected elements by the PCSS switch was carried out, taking into account the pros and cons of the compared devices. The possibility of using the currently made PCSS switch from gallium phosphide was also discussed.
Źródło:
Opto-Electronics Review; 2020, 28, 2; 74--81
1230-3402
Pojawia się w:
Opto-Electronics Review
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Simple, responsive and cost effective simultaneous quantification of Ga(III) and In(III) in environmental water samples
Autorzy:
Grabarczyk, M.
Adamczyk, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2082480.pdf
Data publikacji:
2019
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Agrofizyki PAN
Tematy:
gallium(III)
indium(III)
trace analysis
environmental
water samples
Opis:
The simultaneous determination of Ga(III) and In(III) in environmental water samples was described. The procedure was based on adsorptive stripping voltammetry using an in situ plated bismuth film electrode as a working electrode. In order to obtain low detection limits and satisfactory separations of gallium and indium peaks on the voltammogram, cupferron was used as a complexing agent. The optimum composition of the supporting electrolyte was found to be: 0.1 mol l-1 acetate buffer (pH=5.0), 2 × 10-4 mol l-1 cupferron, 2 × 10-4 mol l-1 Bi(III), optimal voltammetric parameters were found to be: accumulation potential -0.9 V, accumulation time 60 s. The linear range of Ga(III) as well as In(III) was observed over a concentration range from 2.5 × 10-8 mol l-1 to 1.5 × 10-6 mol l-1. The method was satisfactorily applied to the simultaneous quantification of gallium and indium in environmental water samples. This facilitated a promising application of the recommended procedure for monitoring the environment, which is necessary to evaluate the soil-plant system.
Źródło:
International Agrophysics; 2019, 33, 2; 161-166
0236-8722
Pojawia się w:
International Agrophysics
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Active Damping in Series Connected Power Modules with Continuous Output Voltage
Autorzy:
Ulmer, Sabrina
Schullerus, Gernot
Sönmez, Ertugrul
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1955969.pdf
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
power electronics
modularity
scalability
GaN
gallium nitride
active filter damping
Opis:
This paper presents a modular and scalable power electronics concept for motor control with continuous output voltage. In contrast to multilevel concepts, modules with continuous output voltage are connected in series. The continuous output voltage of each module is obtained by using gallium nitride (GaN) high electron motility transistor (HEMT)s as switches inside the modules with a switching frequency in the range between 500 kHz and 1 MHz. Due to this high switching frequency a LC filter is integrated into the module resulting in a continuous output voltage. A main topic of the paper is the active damping of this LC output filter for each module and the analysis of the series connection of the damping behaviour. The results are illustrated with simulations and measurements.
Źródło:
Power Electronics and Drives; 2021, 6, 41; 314-335
2451-0262
2543-4292
Pojawia się w:
Power Electronics and Drives
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Zintegrowany proces otrzymywania monokryształów SI GaAs metodą Czochralskiego z hermetyzacją cieczową
Integrated process of SI GaAs crystals manufacturing by the Liquid Encapsulated Czochralski method
Autorzy:
Hruban, A.
Orłowski, W.
Mirowska, A.
Strzelecka, S.
Piersa, M.
Jurkiewicz-Wegner, E.
Materna, A.
Dalecki, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/192082.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:
SI GaAs
obróbka termiczna
EPD
gallium arsenide
LEC thermal annealing
Opis:
Standardowa technologia otrzymywania półizolujących monokryształów SI GaAs składa się z 3 etapów tzn. syntezy, monokrystalizacji i obróbki termicznej, która jest niezbędna dla uzyskania rezystywności ρ ≥ 107 Ohmcm i ruchliwości nośników ładunku μ ≥ 5000 cm2/Vs. Synteza i monokrystalizacja są wykonywane w ramach jednego procesu w wysokociśnieniowym urządzeniu Czochralskiego. Standardowa obróbka termiczna jest procesem osobnym polegającym na wygrzewaniu kryształów w zamkniętych ampułach kwarcowych w atmosferze par As. Proces ten jest pracochłonny, wymaga dodatkowych urządzeń oraz zwiększa koszty. Przedmiotem pracy było uproszczenie technologii wytwarzania monokryształów SI GaAs przez obróbkę cieplną zintegrowaną z procesami syntezy i monokrystalizacji. Przeprowadzono zintegrowane procesy monokrystalizacji i wygrzewania otrzymując monokryształy o średnicach 2" i 3" i ciężarze ~ 3 kg. Własności takich kryształów porównano z monokryształami wytwarzanymi w procesach standardowych. Wykazano, że właściwości fizyczne takie jak: rezystywność, ruchliwość i gęstość dyslokacji nie zależą od sposobu prowadzenia procesu (standardowy, zintegrowany) lecz są tylko funkcją temperatury wygrzewania. Proces zintegrowany upraszcza technologię wytwarzania, a jednocześnie obniża poziom stresów termicznych eliminując pękanie kryształów.
A standard technological process of manufacturing SI GaAs single crystals consists of 3 steps, namely synthesis, crystal growth and thermal annealing, which are necessary to reach high resistivity (ρ ≥ 107 Ohmcm) and high carrier mobility (μ ≥ 5000 cm2/Vs). Usually both synthesis and crystal growth are realized in one process in a high pressure Czochralski puller. The thermal annealing process is carried out in a sealed quartz ampoule under arsenic (As) vapor pressure. This increases the costs of the process due to a need for the equipment and, in addition, is time consuming. The subject matter of this work was the improvement of the SI GaAs technology by integrating the thermal annealing step with synthesis and crystal growth. The integrated manufacturing processes of SI GaAs crystals with 2" and 3" in diameter and ~ 3000 g in weight were performed. Their physical properties were compared with these of the crystals obtained in a standard process. Preliminary results of this work indicate that it is possible to improve the SI GaAs technology and decrease the manufacturing costs. They also prove that thermal stress in the crystals can be decreased, as a result of which cracks will not appear during the mechanical treatment (cutting, lapping).
Źródło:
Materiały Elektroniczne; 2012, T. 40, nr 3, 3; 38-47
0209-0058
Pojawia się w:
Materiały Elektroniczne
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Development of [66Ga]oxine complex; a possible PET tracer
Autorzy:
Jalilian, A.
Rowshanfarzad, P.
Sabet, M.
Rahiminejad-Kisomi, A.
Rajamand, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/146276.pdf
Data publikacji:
2006
Wydawca:
Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
Tematy:
gallium-66
oxine
positron emission tomography
blood cell labeling
stability
Opis:
The aim of this work is development of a possible blood cell labeling agent for ultimate use in PET. Gallium-66 (T1/2 = 9.49 h) is an interesting radionuclide that has a potential for positron emission tomography (PET) imaging of biological processes with intermediate to slow target tissue uptake. Oxine has been labeled with this radionuclide in the form of [66Ga]gallium chloride for its possible diagnostic properties. In this study, 66Ga was produced at a 30 MeV cyclotron (IBA-Cyclone 30) via the 66Zn(p,n)66Ga reaction. The production yield was 445.5 MBq/mAh. The [66Ga]oxine complex was obtained at pH = 5 in phosphate buffer medium at 37°C in 10 min. Radio-TLC showed a radiochemical purity of more than 98 š 2%. The chemical stability of the complex was checked in vitro with a specific activity of 1113 GBq/mmol. The serum stability and log P of the complex were calculated. The produced [66Ga]oxine can be used for diagnostic studies, due to its desirable physico-chemical properties both in vitro and in vivo according to internationally accepted limits.
Źródło:
Nukleonika; 2006, 51, 3; 155-159
0029-5922
1508-5791
Pojawia się w:
Nukleonika
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Modelling and Simulation of Normally-Off AlGaN/GaN MOS-HEMTs
Autorzy:
Taube, A.
Sochacki, M.
Szmidt, J.
Kamińska, E.
Piotrowska, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/226802.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
gallium nitride
MOS-HEMT
high electron mobility
transistor
AlGaN
GaN
simulation
Opis:
The article presents the results of modelling and simulation of normally-off AlGaN/GaN MOS-HEMT transistors. The effect of the resistivity of the GaN:C layer, the channel mobility and the use of high-κ dielectrics on the electrical characteristics of the transistor has been examined. It has been shown that a low leakage current of less than 10⁻⁶ A/mm can be achieved for the acceptor dopant concentration at the level of 5×10¹⁵cm⁻³. The limitation of the maximum on-state current due to the low carrier channel mobility has been shown. It has also been demonstrated that the use of HfO₂, instead of SiO₂, as a gate dielectric increases on-state current above 0.7A/mm and reduces the negative influence of the charge accumulated in the dielectric layer.
Źródło:
International Journal of Electronics and Telecommunications; 2014, 60, 3; 253-258
2300-1933
Pojawia się w:
International Journal of Electronics and Telecommunications
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Recycling of Gallium from End-of-Life Light Emitting Diodes
Autorzy:
Nagy, S.
Bokányi, L.
Gombkötő, I.
Magyar, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/356762.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
LED
LED recycling
LED chip
gallium
mechanical enrichment
mechanochemical activation
leaching
Opis:
Nowadays Light Emitting Diodes (LEDs) are widely utilized. They are applied as backlighting in Liquid Crystal Displays (LCD) and TV sets or as lighting equipments in homes, cars, instruments and street-lightning. End of life equipments are containing more and more LEDs. The recovery of valuable materials – such as Ga, Au, Cu etc. – from the LEDs is essential for the creating the circular economy. First task is the development of a proper recycling technology. Most of the researchers propose fully chemical or thermal-chemical pathway for the recycling of LEDs. In the meantime our approach based on the thorough investigation of the structure and composition of LEDs, and shown in this paper, is the combination of mechanical and chemical techniques in order to recover more valuable products, as well as to facilitate the mass transfer. Our laboratory scale experiments are introduced, the final aim of which is Ga recovery in accordance with our above approach. It was experimentally proved that the LED chips contain Ga and can be recovered by mechanical processes along with copper-product. Ga is presented on the surface of the chips in GaN form. Mechano-chemical activation in high energy density stirred medium mill and the following acidic leaching resulted in the enrichment of 99.52% of gallium in the pregnant solution.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2017, 62, 2B; 1161-1166
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Preparation and primary evaluation of 66Ga-DTPA-chitosan in fibrosarcoma bearing mice
Autorzy:
Akhlaghi, M.
Pourjavadi, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/147065.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
Tematy:
DTPA-chitosan
degree of modification (DM)
gallium-66
radiolabeled
intratumoral injection
Opis:
Chitosan was chemically modified by diethylenetetraaminepentaacetic acid (DTPA) in different degrees of modification (DM = 6.1, 10.3, 15.7 and 20.9%). DTPA-chitosans were radiolabeled with gallium-66 radionuclide. The effect of several factors on labeling yield such as degree of modification, acidity and concentration of DTPA-chitosan solution, contact time and radioactivity was investigated. Radiolabeled DTPA chitosans were intratumorally injected to fibrosarcoma bearing mice and the leakage of radioactivity from the injection site was evaluated. In comparison with chitosan, all DTPA chitosans showed better efficiency in preventing the leakage of radioactivity from tumor lesion and DTPA-chitosan (DM = 10.3%) was the best which led to remaining 97% of injected dose in the injection site after 54 h of injection. The highest leaked radioactivity from the injection site was in the lungs, liver, spleen and the kidneys. Our results indicated that the DTPA modified chitosan can be an effective carrier for therapeutic radionuclides for tumor treatment by the intratumoral injection technique.
Źródło:
Nukleonika; 2011, 56, 1; 41-47
0029-5922
1508-5791
Pojawia się w:
Nukleonika
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Two-dimensional modeling of surface photovoltage in metal/insulator/n-GaN structure with cylindrical symmetry
Autorzy:
Matys, M
Powroznik, P
Kupka, D
Adamowicz, B
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/174326.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
surface photovoltage
gallium nitride
metal-insulator-semiconductor (MIS) structure
interface states
photodetector
Opis:
The rigorous numerical analysis of the surface photovoltage (SPV) versus excitation UV-light intensity (Φ), from 104 to 1020 photon/(cm2s) in a metal/insulator/n-GaN structure with a negative gate voltage (VG = –2 V) was performed using a finite element method. In the simulations we assumed a continuous U-shape density distribution function Dit(E) of the interface states and n-type doping concentration ND = 1016 cm–3. The SPV signal was calculated and compared in three different characteristic regions at the interface, namely i) under the gate centre, ii) near the gate edge and iii) between the gate and ohmic contact. We attributed the differences in SPV(Φ) dependences to the influence of the interface states in terms of the initial band bending and interface recombination controlled by the gate bias. The obtained results are useful for the design of GaN-based UV-radiation photodetectors.
Źródło:
Optica Applicata; 2013, 43, 1; 47-52
0078-5466
1899-7015
Pojawia się w:
Optica Applicata
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Application of poly-energy implantation with H+ ions for additional energy levels formation in GaAs dedicated to photovoltaic cells
Autorzy:
Węgierek, Paweł
Pietraszek, Justyna
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/141449.pdf
Data publikacji:
2019
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
energy levels
gallium arsenide
intermediate band solar cells
ion implantation
thermal admittance spectroscopy
Opis:
: The aim of this article is to present the results of research aimed at confirmation whether it is possible to form an intermediate band in GaAs implantation with H+ ions. The obtained results were discussed with particular emphasis on possible applications in the photovoltaic industry. As it is commonly known, the idea of intermediate band solar cells reveals considerable potential as the most fundamental principle of the next generation of semiconductors solar cells. In progress of the research, a series of GaAs samples were subjected to poly-energy implantation of H+ ions, followed by high-temperature annealing. Tests were conducted using thermal admittance spectroscopy, under conditions of variable ambient temperature, measuring signal frequency in order to localize deep energy levels, introduced by ion implantation. Activation energy ∆E was determined for additional energy levels resulting from the implantation of H+ ions. The method of determining the activation energy value is shown in Fig. 2 and the values read from it are σ0 = 10−9 (Ω·cm)−1 for 1000/T0 = 3.75 K−1 and σ1 = 1.34 × 10−4 (Ω·cm)−1 for 1000/T1 = 2.0 K−1 . As a result, we obtain ∆E ≈ 0.58 eV. It was possible to identify a single deep level in the sample of GaAs implanted with H+ ions. Subsequently, its location in the band gap was determined by estimating the value of ∆E. However, in order to confirm whether the intermediate band was actually formed, it is necessary to perform further analyses. In particular, it is necessary to implement a new analytical model, which takes into consideration the phenomena associated with the thermally activated mechanisms of carrier transport as it was described in [13]. Moreover, the influence of certain parameters of ion implantation, post-implantation treatment and testing conditions should also be considered.
Źródło:
Archives of Electrical Engineering; 2019, 68, 4; 925-931
1427-4221
2300-2506
Pojawia się w:
Archives of Electrical Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Monokryształy SI GaAs o orientacji [310] jako materiał na podłoża do osadzania warstw epitaksjalnych
[310]-oriented SI GaAs single crystals as material for epitaxial substrates
Autorzy:
Hruban, A.
Orłowski, W.
Strzelecka, S.
Piersa, M.
Jurkiewicz-Wegner, E.
Mirowska, A.
Rojek, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/192032.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:
arsenek galu
SI GaAs
metoda Czochralskiego
LEC
orientacja
gallium arsenide
Czochralski method
orientation
Opis:
Celem pracy było dowiedzenie warunków otrzymywania półizolacyjnych monokryształów arsenku galu (SI-GaAs) o orientacji [310] i średnicy 2” i 3”. Synteza i monokrystalizacja przebiegała pod wysokim ciśnieniem metodą LEC (Liquid Encapsulated Czochralski). Dobrano warunki termiczne i technologiczne pozwalające otrzymywać monokryształy o średnicy 2” i 3” i ciężarze odpowiednio 2000 g i 3000 g. Monokryształy posiadały wysokie parametry elektryczne (ρ, μ) - typowe dla monokryształów półizolacyjnych o wysokim stopniu czystości. Gęstość dyslokacji kryształów [310] była o (0,5 - 1,5) rzędu niższa w porównaniu z kryształami o orientacji [100]. Warstwy epitaksjalne osadzone na podłożach o orientacji [310] wykazały lepszą morfologię powierzchni w porównaniu z osadzonymi na podłożu [100].
The subject matter of this research work included the synthesis and growth conditions of [310]-oriented SI GaAs (semi-insulating gallium arsenide) crystals 2” or 3” in diameter. High pressure processes were applied for the synthesis and growth of LEC crystals. Thermal conditions and process parameters were determined to obtain single crystals 2” and 3” in dia, 2000 g and 3000 g in weight, respectively. They had high electrical parameters (ρ, μ), characteristic of semi-insulating high purity GaAs. Dislocation density (EPD) of [310]-oriented crystals was (0.5 - 1.5) orders of magnitude lower than in the case of the [100]-orientation. Epitaxial layers grown on [310]-oriented substrates exhibited better surface morphology than those deposited on [100]-oriented substrates.
Źródło:
Materiały Elektroniczne; 2013, T. 41, nr 2, 2; 18-25
0209-0058
Pojawia się w:
Materiały Elektroniczne
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Damage distributions in GaAs single crystal irradiated with 84Kr (394 MeV), 209Bi (710 MeV) and 238U (1300 MeV) swift ions
Autorzy:
Didyk, A. Y.
Komarov, F. F.
Vlasukova, L. A.
Gracheva, E. A.
Hofman, A.
Yuvchenko, V. N.
Wiśniewski, R.
Wilczyńska, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/146738.pdf
Data publikacji:
2008
Wydawca:
Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
Tematy:
semiconductors
gallium arsenide
swift heavy ions
inelastic energy loss
atomic force microscopy (AFM)
Opis:
We are presenting a study of damage distribution in GaAs irradiated with 84Kr ions of energy EKr = 394 MeV up to the fluence of 5 × 1012 ion/cm-2. The distribution of damage along the projected range of 84Kr ions in GaAs was investigated using selective chemical etching of a single crystal cleaved perpendicularly to the irradiated surface. The damage zone located under the Bragg peak of 84Kr ions was observed. Explanation of the observed effects based on possible processes of channeling of knocked target atoms (Ga and As) is proposed.
Źródło:
Nukleonika; 2008, 53, 2; 77-82
0029-5922
1508-5791
Pojawia się w:
Nukleonika
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Zastosowanie tranzystorów HEMT z azotku galu w impulsowych przekształtnikach mocy
Autorzy:
Janke, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/118450.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Politechnika Koszalińska. Wydawnictwo Uczelniane
Tematy:
azotek galu
GaN
tranzystory HEMT
impulsowe przekształtniki mocy
gallium nitride
HEMT transistor
power converters
Opis:
Praca zawiera przegląd problematyki zastosowań tranzystorów HEMT (high electron mobility transistors) w wysokosprawnych układach przekształtników mocy. Wymieniono najważniejsze wymagania stawiane elementom półprzewodnikowym we współczesnych przekształtnikach energoelektronicznych. Przedstawiono główne cechy heterostruktur GaN-GaAlN i tranzystorów opartych na takich strukturach. Przedyskutowano różne rozwiązania konstrukcyjno-technologiczne struktur HEMT o cechach tranzystora normalnie wyłączonego (pracującego ze wzbogaceniem). Pokazano przykładowe parametry tranzystorów HEMT pracujących dla energoelektroniki. Omówiono także wybrane rozwiązania impulsowych przekształtników BUCK i BOOST oparte na tranzystorach HEMT i ich główne właściwości.
The applications of gallium nitride (GaN) high electron mobility transistors (HEMT) in modern power converters are reviewed. Basic demands for semiconductor devices used in switch-mode high efficiency power converters are summarized. Specific features of GaN-GaAlN heterostructure and HEMT’s are briefly described. Different solutions of enhancement-mode HEMT applicable in power converters of resulting parameters of HEMT-based enhancement-mode transistors are given. The exemplary power converters based on GaN HEMT’s, including BUCK and BOOST circuits are presented and their features discussed.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej; 2016, 9; 5-27
1897-7421
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
First vertical-cavity surface-emitting laser made entirely in Poland
Autorzy:
Gębski, Marcin
Śpiewak, Patrycja
Kołkowski, Walery
Pasternak, Iwona
Głowadzka, Weronika
Nakwaski, Włodzimierz
Sarzała, Robert P.
Wasiak, Michał
Czyszanowski, Tomasz
Strupiński, Włodzimierz
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2173617.pdf
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
semiconductor laser
GaAs
gallium arsenide
optical communication
VCSEL
laser półprzewodnikowy
arsenek galu
komunikacja optyczna
Opis:
The paper presents the first vertical-cavity surface-emitting lasers (VCSELs) designed, grown, processed and evaluated entirely in Poland. The lasers emit at »850 nm, which is the most commonly used wavelength for short-reach (<2 km) optical data communication across multiple-mode optical fiber. Our devices present state-of-the-art electrical and optical parameters, e.g. high room-temperature maximum optical powers of over 5 mW, laser emission at heat-sink temperatures up to at least 95°C, low threshold current densities (<10 kA/cm2) and wall-plug efficiencies exceeding 30% VCSELs can also be easily adjusted to reach emission wavelengths of around 780 to 1090 nm.
Źródło:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2021, 69, 3; art. no. e137272
0239-7528
Pojawia się w:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Refractive index and salinity sensors by gallium-doped zinc oxide thin film coated on side-polished fibers
Autorzy:
Tien, Chuen-Lin
Mao, Hao-Sheng
Mao, Tzu-Chi
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1835762.pdf
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
refractive index
thin film
side-polished fiber
lossy mode resonance
gallium-doped zinc oxide
Opis:
This work presents a high-sensitivity refractive index and salinity sensor by using fiber-optic side-polishing and electron-beam evaporation techniques. Thin film coated on the flat surface of side-polished fibers can generate a lossy mode resonance (LMR) effect. A gallium-doped zinc oxide (GZO) thin film was prepared by an electron-beam evaporation with the ion assisted deposition method. The residual thickness of the side-polished fiber was 76.5 μm, and GZO film thickness of 69 nm was deposited on the flat surface of the side-polished fiber to fabricate LMR-based fiber sensors. The variation in the optical spectrum of LMR-based fiber sensors was measured by different refractive index saline solutions. The LMR wavelength shift is caused by the refractive index change, which is nearly proportional to the salinity. The corresponding sensitivity of the proposed fiber-optic sensor was 3059 nm/RIU (refractive index unit) for the refractive index range of 1.333 to 1.398. To evaluate the sensitivity of LMR salinity sensors, the saline solution salinities of 3.6%, 7.3%, 10.9%, 14.6%, 18.2% and 21.9% were measured in this work. The experimental result shows that the sensitivity of the proposed salinity sensor is 9.94 nm/%.
Źródło:
Optica Applicata; 2021, 51, 1; 23-36
0078-5466
1899-7015
Pojawia się w:
Optica Applicata
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
First vertical-cavity surface-emitting laser made entirely in Poland
Autorzy:
Gębski, Marcin
Śpiewak, Patrycja
Kołkowski, Walery
Pasternak, Iwona
Głowadzka, Weronika
Nakwaski, Włodzimierz
Sarzała, Robert P.
Wasiak, Michał
Czyszanowski, Tomasz
Strupiński, Włodzimierz
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2090716.pdf
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
semiconductor laser
GaAs
gallium arsenide
optical communication
VCSEL
laser półprzewodnikowy
arsenek galu
komunikacja optyczna
Opis:
The paper presents the first vertical-cavity surface-emitting lasers (VCSELs) designed, grown, processed and evaluated entirely in Poland. The lasers emit at »850 nm, which is the most commonly used wavelength for short-reach (<2 km) optical data communication across multiple-mode optical fiber. Our devices present state-of-the-art electrical and optical parameters, e.g. high room-temperature maximum optical powers of over 5 mW, laser emission at heat-sink temperatures up to at least 95°C, low threshold current densities (<10 kA/cm2) and wall-plug efficiencies exceeding 30% VCSELs can also be easily adjusted to reach emission wavelengths of around 780 to 1090 nm.
Źródło:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2021, 69, 3; e137272, 1--6
0239-7528
Pojawia się w:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Application of GaN transistors to increase efficiency of switched-mode power supplies
Zastosowanie tranzystorów GaN do zwiększenia sprawności przetwornic impulsowych
Autorzy:
Aksamit, W.
Rzeszutko, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/267239.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Tematy:
gallium nitride
GaN transistors
power conversion
efficiency
azotek galu
tranzystory GaN
straty mocy w tranzystorach GaN
Opis:
During the last few years Gallium Nitride became a rapidly growing technology in the power conversion market. GaN HEMT transistors are now offered by several manufacturers and it is expected that in the nearest future they will replace conventional Si transistors in many applications. The aim of this article is to present the actual benefits of GaN transistors over Si by comparing both technologies from the point of view of power losses. It is shown that thanks to lower internal capacitances and lower reverse recovery charge GaN transistors offer significant improvements in power conversion efficiency, especially at higher frequencies. Calculations of power losses are performed on the example of a buck converter. Different types of GaN transistors with different voltage ratings are analyzed.
W ciągu ostatnich lat na rynku elektroniki mocy nastąpił dynamiczny rozwój technologii GaN. Tranzystory GaN HEMT są obecnie oferowane przez kilku producentów i przewiduje się że w najbliższym czasie w wielu zastosowaniach zastąpią one tradycyjne tranzystory Si. Celem tej publikacji jest przestawienie rzeczywistych zalet tranzystorów GaN w odniesieniu do Si poprzez porównanie obu technologii pod kątem strat mocy. W artykule pokazano że dzięki niższym pojemnościom wewnętrznym i niższemu ładunkowi QRR tranzystory GaN pozwalają na znaczącą poprawę sprawności, szczególnie przy wyższych częstotliwościach przełączania. Obliczenia strat mocy zostały przeprowadzone na przykładzie przetwornicy typu buck. Przeanalizowane zostały różne typy tranzystorów GaN o różnych napięciach znamionowych.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2016, 49; 11-16
1425-5766
2353-1290
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Photodiode based on the epitaxial phosphide gallium with increased sensitivity at a wavelength of 254 nm
Fotodioda oparta na epitaksjalnym fosforku galu o zwiększonej wrażliwości przy długości fali 254 nm
Autorzy:
Dobrovolsky, Yurii G.
Lipka, Volodymyr M.
Strebezhev, Volodymyr V.
Sorokatyi, Yurii O.
Sorokatyi, Mykola O.
Andreeva, Olga P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/408832.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
Tematy:
photodiode
gallium phosphide
sensitive, 254 nm
Schottky barrier
fotodioda
fosforek galu
czułość, 254 nm
bariera Schottky'ego
Opis:
The paper showsthe results of the development of a photodiode technology based on gallium phosphide structure n+-n-GaP-Au with high sensitivity. It provides the ion etching of the surface of the gallium phosphide before an application of a leading electrodeof gold. The barrier layerof a 20 nm thick gold is applied to thesubstrate in the magnetic field of GaP. When forming the contact with the reverse sideof the indium substrate at 600°C, there occurs the annealing of the gold barrier layer. At the maximum of the spectral characteristics obtained by the photodiode, it has a sensitivity of 0.13A/W, and at a wavelength of 254 nm – about 0.06 A/W. The dynamic range of the photodiode is not less than 107.
Artykuł pokazuje rezultaty rozwoju technologicznegofotodiody opartej na fosforku galu o strukturze n+-n-GaP-Auo wysokiej czułości. Umożliwia to wytrawianie jonowe powierzchni fosforku galu, zanim zastosowana zostanie elektroda przewodząca wykonana ze złota. Złota warstwa barierowa o grubości 20 nm jest nakładana na podłoże GaP w polu magnetycznym. Gdy powstaje stykz tyłu podłoża indowego w temperaturze 600°C, złota warstwa barierowa jest wyżarzana. Przy maksymalnej charakterystyce spektralnej uzyskanej przezfotodiodę, ma ona czułość 0,13 A/W, a przy długości fali 254 nm –około 0,06 A / W. Zakres dynamiczny fotodiody wynosi co najmniej 107.
Źródło:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2020, 10, 1; 36-39
2083-0157
2391-6761
Pojawia się w:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Crystal Lattice Damage and Recovery of Rare-Earth implanted Wide Bandgap Oxides
Autorzy:
Sarwar, Mahwish
Ratajczak, Renata
Ivanov, Vitalii
Mishra, Sushma
Turek, Marcin
Wierzbicka, Aleksandra
Woźniak, Wojciech
Guziewicz, Elżbieta
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2204945.pdf
Data publikacji:
2022
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
wide bandgap oxides
zinc oxide
gallium oxide
rare earth
ion implantation
Rutherford backscattering spectrometry
low temperature photoluminescence
Opis:
Rare earth (RE) elements are important for the optical tuning of wide bandgap oxides (WBO) such as β-Ga2O3 or ZnO, because β-Ga2O3:RE or ZnO:RE show narrow emission lines in the visible, ultra-violet and infra-red region. Ion implantation is an attractive method to introduce dopant into the crystal lattice with an extraordinary control of the dopant ion composition and location, but it creates the lattice damage, which may render the dopant optically inactive. In this research work, we investigate the post-implantation crystal lattice damage of two matrices of wide-bandgap oxides, β-Ga2O3 and ZnO, implanted with rare-earth (RE) to a fluence of 5 x 10^14, 1 x 10^15 and 3 x 10^15 atoms/cm^2, and post-growth annealed in Ar and O2 atmosphere, respectively. The effect of implantation and annealing on both crystal lattices was investigated by channeling Rutherford backscattering spectrometry (RBS/C) technique. The level of crystal lattice damage caused by implantation with the same RE fluences in the case of β-Ga2O3 seems to be higher than in the case of ZnO. Low temperature photoluminescence was used to investigate the optical activation of RE in both matrices after performed annealing.
Źródło:
Advances in Science and Technology. Research Journal; 2022, 16, 5; 147--154
2299-8624
Pojawia się w:
Advances in Science and Technology. Research Journal
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Zmienność zawartości pierwiastków krytycznych (Be, Co, Ga, Ge) w węglu kamiennym LZW
Variability in the content of critical elements (Be, Co, Ga and Ge) in bituminous coal of the Lublin Coal Basin
Autorzy:
Auguścik, J.
Wasilewska-Błaszczyk, M.
Wójtowicz, J.
Paszek, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2061693.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Państwowy Instytut Geologiczny – Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
pierwiastki krytyczne
beryl
gal
german
kobalt
węgiel kamienny
korelacja
LZW
critical elements
beryllium
gallium
germanium
cobalt
hard coal
correlation
Lublin Coal Basin
Opis:
Przeprowadzone badania węgla kamiennego złoża Bogdanka, leżącego w obrębie Lubelskiego Zagłębia Węglowego (LZW) wykazały, że analizowane pierwiastki (Co, Ga, Ge) charakteryzują się dużą zmiennością. Wyjątek stanowił beryl (Be), który cechuje się zmiennością przeciętną. Badania korelacji między pierwiastkami potwierdziły wyniki wcześniejszych badań dotyczących występowania statystycznie istotnej korelacji między galem i kobaltem (Ga–Co). Otrzymane wyniki badań zawartości poszczególnych pierwiastków krytycznych były dalece odbiegające od dotychczas prezentowanych w opracowaniach naukowych publikowanych i niepublikowanych dla LZW. Badania te nie potwierdziły postulowanych wcześniej prawidłowości i wysokich koncentracji tych pierwiastków w węglach LZW. Uwierzytelniono jednak znacznie większe koncentracje tych pierwiastków w spągu pokładów. Analiza kontrolna prób wykonana w dwóch niezależnych laboratoriach wykazała duże rozbieżności w wynikach oznaczeń, szczególnie w odniesieniu do zawartości germanu; prawdopodobnie jest to związane z bardzo niskimi zawartości tego pierwiastka i trudnościami jego oznaczania.
The research on bituminous coal from the Lublin Coal Basin (LCB) has shown high variability of the chemical elements Co, Ge and Ga. An exception is beryllium that features medium variability. Analysis of the correlation between the elements confirms the results of previous studies on the occurrence of the statistically significant correlation between gallium and cobalt. The obtained contents of particular critical elements differed much more from those presented up-to-date in both published and unpublished scientific reports on the LCB. The research did not confirm regularities and high concentrations of the elements in the LCB coals, as postulated earlier. However, much higher concentrations of the elements were detected in the seam footwalls. The control analysis of the samples performed by two independent laboratories indicated huge discrepancies in the results, especially for the content of germanium, due to very low values and difficulty in marking this element.
Źródło:
Biuletyn Państwowego Instytutu Geologicznego; 2016, 466; 7--15
0867-6143
Pojawia się w:
Biuletyn Państwowego Instytutu Geologicznego
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wpływ powłok HfO2 i Al2O3 na dynamikę sieci nanodrutów GaN. Analiza statystyczna wyników spektroskopii Ramana
Influence of HfO2 and Al2O3 Shells on Lattice Dynamics of GaN Nanowires. Statistical Analysis of the Results of Raman Spectroscopy
Autorzy:
Szymon, Radosław
Zielony, Eunika
Sobańska, Marta
Żytkiewicz, Zbigniew
Lipiński, Tomasz
Nowacki, Krzysztof
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/chapters/28328178.pdf
Data publikacji:
2023-12-14
Wydawca:
Politechnika Częstochowska. Wydawnictwo Politechniki Częstochowskiej
Tematy:
analiza statystyczna
azotek galu
nanodruty
rdzeń-powłoka
skaningowa mikroskopia elektronowa
spektroskopia Ramana
core-shell
gallium nitride
nanowires
Ramana spectroscopy
scanning electron microscopy
statistical analysis
Opis:
Rozwój nanotechnologii w przypadku związków półprzewodnikowych z grupy III-V oferuje nowe możliwości wytwarzania wydajniejszych urządzeń optoelektronicznych pracujących w zakresie światła UV. Ich przykładem są nanodruty rdzeń-powłoka na bazie azotku galu (GaN). Cechą nanodrutów jest duży stosunek powierzchni do objętości oraz wysoka jakość struktury krystalicznej. Badania nanostruktur wymagają odpowiedniego przystosowania metod charakteryzacji, których wykorzystanie napotyka ograniczenia technologiczne. Rozwiązaniem jest analiza danych uzyskiwanych podczas pomiarów i zastosowanie metod, które pozwolą potwierdzić występowanie istotnych statystycznie różnic, a także zapewnić odtwarzalność wyników. W niniejszym rozdziale zaproponowano wykorzystanie metod wnioskowania statystycznego w celu zweryfikowania występowania istotnych statystycznie różnic w częstościach wzbudzeń fononowych wyznaczanych na podstawie pomiarów widm Ramana. Pomiary ramanowskie i analizę danych przeprowadzono dla serii próbek nanodrutów typu rdzeń GaN – powłoka Al2O3 lub HfO2, otrzymanych na podłożu krzemowym. Zmierzone częstości wzbudzeń fononowych, w szczególności modu GaN E2high, poddano analizie, wykazując istotne statystycznie różnice pomiędzy próbkami o różnych grubościach powłok. Potwierdzono ich wpływ na właściwości strukturalne i dynamikę sieci krystalicznej nanodrutów. Pokazano również, że wykorzystanie podejścia statystycznego w analizie wyników ramanowskich istotnie zwiększa ich wiarygodność.
The development of nanotechnology of the III-V compounds semicon- ductors provides new opportunities for producing highly-efficient optoelectronic devices that operate in the UV light range. One example is the core-shell nanowires based on gallium nitride (GaN), which have high surface-to-volume ratio and high- quality crystalline structure. However, characterization of nanostructures requires the adaptation of appropriate techniques, which are limited by external factors. To overcome these limitations, data obtained from measurements must be analysed with methods which confirm statistically significant differences, as well as ensure the reproducibility of results. This chapter proposes using statistical inference methods to verify statistically significant differences in the frequencies of phonon excitations, determined with Raman spectra measurements. Raman measurements and data analysis were carried out for a series of GaN nanowires of GaN coated with Al2O3 or HfO2 shells, obtained on a silicon substrate. The analysis of phonon excitation frequencies, especially the GaN E2high mode, confirmed statistically sig- nificant differences between samples. The influence of the shells on the structural properties and crystal lattice dynamics of nanowires was also confirmed. Moreover, the study shows that using a statistical approach in the analysis of Raman results significantly improves their reliability.
Źródło:
Potencjał innowacyjny w inżynierii materiałowej i zarządzaniu produkcją; 69-80
9788371939457
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Badania ewaluacyjne tranzystora 650 V E-HEMT GaN do zastosowań w wysokosprawnych przekształtnikach DC/DC
Evaluation of a 650 V E-HEMT GaN transistor for high-efficiency DC/DC converters
Autorzy:
Czyż, P.
Cichowski, A.
Śleszyński, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/269112.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Tematy:
azotek galu
GaN
E-HEMT
przekształtnik obniżający
napięcie
straty mocy
gallium nitride
enhancement mode
high electron mobility transistor E-HEMT
DC/DC converters
power losses
Opis:
Tematem artykułu są badania wysokonapięciowego tranzystora z azotku galu typu E-HEMT w aplikacji przekształtnika obniżającego napięcie typu buck. W pracy przedstawiono krótką charakterystykę i zalety półprzewodników szerokoprzerwowych, a także opis tranzystora GS66508P-E03 w obudowie do montażu powierzchniowego (SMD). Następnie poruszono problem chłodzenia łącznika mocy SMD i przeprowadzono badanie porównawcze dwóch układów chłodzenia. Wykazano, że zaproponowany układ jest ponad dwa razy bardziej wydajny niż zalecany przez producenta. W głównej części opracowania zaprezentowano wyniki pomiarów sprawności przekształtnika. Osiągnięto sprawność > 92 % dla układu twardo przełączającego o częstotliwości pracy 200 kHz. Tym samym potwierdzono możliwość budowania wysokosprawnych przekształtników z tranzystorami GaN.
In this paper a brief description of wide-bandgap semiconductors is given. Particularly, advantages of a 650 V GaN EHEMT transistor GS66508P-E03 are shown. This power switch is experimentally evaluated in a synchronous buck with two transistors in a half bridge configuration. The experimental results show that GaN transistors have very low total losses even when operating at high frequencies. The efficiency over 92% is achieved at the frequency of 200 kHz with 5 A output current and output power at a rate of 310 W. Additionally, in this work two different cooling systems for surface mounted transistor are compared. In a prototype for thermal evaluation one transistor has the cooling system with thermal vias through the PCB and alternatively the second one has the cooling system with the copper stud. The proposed cooling system with the copper stud is proven to have the twice smaller thermal resistance than the system with thermal vias. Another advantage is that in the same conditions the transistor is cooler and has lower on-resistance, what decreases the power losses.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2015, 47; 31-34
1425-5766
2353-1290
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-37 z 37

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies