Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "profilometr stykowy" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-4 z 4
    Tytuł:
    Dokładność wyznaczenia promieni zaokrąglenia profilometrem stykowym
    Accuracy of the radius evaluation with contact profilometer
    Autorzy:
    Iwasińska-Kowalska, O.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/972162.pdf
    Data publikacji:
    2010
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    profilometr stykowy
    promień zaokrąglenia
    dopasowanie
    wycinek okręgu
    chropowatość
    profilometer
    radius fitting
    circle sector
    Opis:
    Z wynikiem pomiaru chropowatości elementu o kołowym przekroju, za pomocą profilometru stykowego, wyznaczany jest opromienień dopasowanego okręgu. Zauważono, że wartości promieni wykazują błędy o charakterze systematycznym i losowym, których wielkości nie można uzasadnić niedokładnością urządzenia ani jakością obiektu mierzonego. Przyczyny błędów doszukiwano się w czterech czynnikach: rodzaju końcówki użytej do pomiaru, prędkości pomiaru, relacji wartości mierzonej wielkości średnicy i chropowatości, oraz w zakresu kątowego odwzorowania.
    The paper presents the measurement results of a radius of circularly-symmetric elements. The measurements were made using a contact profilometer. The radius is an additional parameter obtained during determining the roughness and is computed most often by the least squares method on a basis of the measurement points. In case of using the contact profilometer the radius is evaluated on the basis of a circle sector. The range and deviation of the standard radius measurement results taken by means of the used contact profilometer are given in the paper. Influence of measurement conditions was statistically examined. Influence of the tip kind on the measurement results was proved. It was most likely caused by vibrations. However, there was no significant influence of the tip length on the determined radius value. The measured sample size had statistically significant influence on the radius evaluation results as well. The Kruskal-Wallis test showed that influence of the measurement velocity on the radius measurement results was not essential. There was no statistically significant difference between the medians of the measurement results at the confidence level equal to 0.95.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 1, 1; 20-21
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Comparison of calibration standards for stylus profilometers
    Porównanie wzorców używanych do kalibracji profilometrów stykowych
    Autorzy:
    Wiśniewska, M.
    Żebrowska-Łucyk, S.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/268876.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
    Tematy:
    stylus profilometer
    calibration standard
    gauge characteristics
    profilometr stykowy
    wzorzec kalibracyjny
    charakterystyka głowicy pomiarowej
    Opis:
    The surface texture measurement results obtained with use of stylus profilometers have to be both reliable and reproducible. One of the most important factors affecting the dependability and repeatability is the instrument gauge calibration. However, as there is a wide variety of the applicable calibration artefacts, both standardised and non-standardised, a choice of a proper one becomes difficult. As a contribution to the systematisation of the specified calibration standard applications, this paper describes the most popular calibration artefacts and outlines their advantages and drawbacks.
    Profile zaobserwowane i wartości parametrów, służące do oceny chropowatości powierzchni, uzyskane przy użyciu profilometrów stykowych muszą być wiarygodne i odtwarzalne. Jednym z najważniejszych czynników, decydujących czy te warunki są spełnione, jest przeprowadzenie wzorcowania głowicy pomiarowej przyrządu ze szczególnym uwzględnieniem doboru odpowiedniego wzorca. Jednak, ze względu na mnogość dostępnych wzorców kalibracyjnych, zarówno znormalizowanych, jak i nieopisanych w dokumentach normalizacyjnych, wybór właściwego stanowi trudne wyzwanie nawet dla doświadczonego metrologa. Wzorce te różnią się nie tylko strukturą geometryczną powierzchni, ale też kształtem, wymiarami, materiałem, z którego są wykonane czy ceną. W związku z tym, usystematyzowanie wiedzy dotyczącej wzorców kalibracyjnych, ich właściwości oraz potencjalnych zastosowań wydaje się niezbędne. W artykule porównano najbardziej rozpowszechnione spośród wzorców służących do wzorcowania głowic pomiarowych profilometrów stykowych. Poza przedstawieniem najważniejszych zalet i wad tych wzorców, dokonano też oceny powtarzalności wyznaczanych przy ich użyciu wartości współczynników wzmocnienia.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2014, 38; 85-88
    1425-5766
    2353-1290
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analiza dokładności pomiarów nanometrycznych wzorców mikrogeometrii powierzchni za pomocą mikrointerferometru i profilometru stykowego
    Measurement accuracy analysis for microgeometry nanostandards with microinterferometer and stylus profilometer
    Autorzy:
    Ślusarski, Ł.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/209299.pdf
    Data publikacji:
    2018
    Wydawca:
    Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
    Tematy:
    nanometrology
    depth/height standards
    microinterferometry
    contact profilometry
    nanometrologia
    wzorce schodkowe
    mikrointerferometr
    profilometr stykowy
    Opis:
    W pracy zostały zbadane i przeanalizowane możliwości pomiarowe Samodzielnego Laboratorium Długości GUM w obszarze pomiarów wzorców wysokości nierówności powierzchni (o wysokości nierówności poniżej 1 μm) - tzw. nanowzorców, charakteryzujących powierzchnię w dwóch (2D) i trzech wymiarach (3D). Pomiary wykonano za pomocą mikrointerferometru oraz profilometru stykowego. W toku pomiarów określono możliwy dolny zakres pomiarowy i niepewność dla obu stanowisk.
    The goal of the work, described in this paper, was to examine and analyse measurement capabilities of GUM Length and Angle Department in measurements of step height/depth standards with the values below 1 μm (nanostandards), with 2D, and 3D surface characteristics. Measurements were performed with microinterforometer and stylus profilometer.
    Źródło:
    Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej; 2018, 67, 4; 139-147
    1234-5865
    Pojawia się w:
    Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analysis of influence of the shape of cutting insert on change of the parameter value describing the deviation of the profile of surface roughness
    Autorzy:
    Pelc, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/244679.pdf
    Data publikacji:
    2018
    Wydawca:
    Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych
    Tematy:
    surface roughness
    turning machining
    cutting insert
    technological quality
    contact profilometer
    chropowatość powierzchni
    jakość technologiczna
    profilometr stykowy
    Opis:
    The article presents the influence of the shape of the cutting insert on the surface roughness of the material after medium-fine turning machining. The analysis of measurements of the Ra parameter describing the arithmetic mean deviation of the surface roughness profile from the centre line of the profile by the mechanical and contact method was made using the Hommel Etamic Waveline 20 profile (Gdynia Maritime University). The tests were carried out on three stainless steel X2CrNiMo17-12-2 / 1.4404 shafts with a diameter of 80 mm, subjected to medium-precision turning machining at a length of 270 mm, using three cutting inserts made of tungsten carbide shaped T – triangular, C – rhombic, W – trigonal manufactured by Pafana. Values of used parameters are turning speed Vc = 150 m/min, depth of cut ap = 2 mm and feed f = 0.2 mm/rev. The parameters have been selected according to the manufacturer’s recommendations. The tests were carried out three times, five measurements on the length of the turned part of the rollers. The first test was made after collecting one layer of material, the second test was carried out after collecting five layers of material, and the third test was made after collecting nine layers of material. The article describes the differences between the used tiles and their effect on surface roughness, presents the results of the research, charts of measurements with averaged values and descriptive statistics of the Ra parameter were presented. It was noted that for all measurements of the Ra parameter, the smallest values were obtained using a W-shaped cutting insert. The Ra parameter using the C and T shaped plates increases with each subsequent measurement. The largest value of the Ra parameter is obtained using the T.
    Źródło:
    Journal of KONES; 2018, 25, 1; 317-323
    1231-4005
    2354-0133
    Pojawia się w:
    Journal of KONES
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-4 z 4

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies