Temat: nanometrologia - Katalog OPAC zbiorów

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Metrology in Ukraine
Metrologia w Ukrainie
Autorzy:: Huk, O.
Ivakhiv, O.
Stadnyk, B.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/407694.pdf
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
Tematy:: metrology service
legislation
structure
transformation
harmonization
nanometrology
standard
measure
służba metrologiczna
prawnictwo metrologiczne
struktura
harmonizacja
nanometrologia
wzorzec
miara
Opis:: The structure of Ukrainian metrology service, tasks of everyone its unit, basic stages of development and transformation of national legislation are considered on metrology tasks and harmonization of basic concepts and organizational structure of nowadays national metrology service in Ukraine.
W artykule są rozpatrywane pod względem zadań metrologicznych oraz harmonizacji podstawowych pojęć i struktur organizacyjnych w nowoczesnych dziejach państwowej służby metrologicznej w Ukrainie: struktura ukraińskiej służby metrologicznej, zadania jej każdej odrębnej jednostki, podstawowe etapy rozwoju i transformacji ustawodawstwa krajowego.
Źródło:: Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2016, 3; 4-5
2083-0157
2391-6761
Pojawia się w:: Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: From Nanometrology to Picometrology - metrology for Human Life and technical Development in the 21st Century
Od nanometrologii do pikometrologii - metrologia dla ludzkiego życia i rozwoju technologicznego XXI wieku
Autorzy:: Afjehi-Sadat, A.
Osanna, P. H.
Durakbasa, M. N.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/158059.pdf
Data publikacji:: 2004
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: nanometrologia
pikometrologia
metrologia
życie ludzkie
rozwój technologiczny
wiek XXI
nanometrology
nanotechnology
precision manufacturing
measurement technique
quality management
picometrology
metrology
human life
technical development
21st Century
Opis:: In this article the importance of nanometrology and nanotechnology in general for scientific research and especially for production engineering is described and particulary the influence on technical development, high precision manufacturing but also for circumstancies of human life is demonstrated. High accuracy measurement technique and metrology must be given a key role in modern production environment. Essential contributions to increase the quality of products and the productive power of industrial plants can be reached through the aimed application of nanometrology.
Przedstawiono podstawowe znaczenie nanometrologii i nanotechnologii w badaniach naukowych koncentrując się przede wszystkim na inżynierii produkcji. Podkreślono wpływ nanometrologii i nanotechnologii na rozwój techniczny, wytwarzanie o wysokiej dokładności jak również ich znaczenie w życiu człowieka. Techniki pomiarowe o wysokiej dokładności i metrologia powinny odgrywać kluczową rolę w warunkach nowoczesnej produkcji. Dzięki zastosowaniom nanotmetrologii można uzyskać znaczący wzrost jakości wyrobów i zdolności produkcyjnych.
Źródło:: Pomiary Automatyka Kontrola; 2004, R. 50, nr 12, 12; 10-14
0032-4140
Pojawia się w:: Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Analiza dokładności pomiarów nanometrycznych wzorców mikrogeometrii powierzchni za pomocą mikrointerferometru i profilometru stykowego
Measurement accuracy analysis for microgeometry nanostandards with microinterferometer and stylus profilometer
Autorzy:: Ślusarski, Ł.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/209299.pdf
Data publikacji:: 2018
Wydawca:: Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
Tematy:: nanometrology
depth/height standards
microinterferometry
contact profilometry
nanometrologia
wzorce schodkowe
mikrointerferometr
profilometr stykowy
Opis:: W pracy zostały zbadane i przeanalizowane możliwości pomiarowe Samodzielnego Laboratorium Długości GUM w obszarze pomiarów wzorców wysokości nierówności powierzchni (o wysokości nierówności poniżej 1 μm) - tzw. nanowzorców, charakteryzujących powierzchnię w dwóch (2D) i trzech wymiarach (3D). Pomiary wykonano za pomocą mikrointerferometru oraz profilometru stykowego. W toku pomiarów określono możliwy dolny zakres pomiarowy i niepewność dla obu stanowisk.
The goal of the work, described in this paper, was to examine and analyse measurement capabilities of GUM Length and Angle Department in measurements of step height/depth standards with the values below 1 μm (nanostandards), with 2D, and 3D surface characteristics. Measurements were performed with microinterforometer and stylus profilometer.
Źródło:: Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej; 2018, 67, 4; 139-147
1234-5865
Pojawia się w:: Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Informacja

Wyszukujesz frazę "nanometrologia" wg kryterium: Temat

Źródło danych

Dostawca treści

Kolekcja

Rok wydania

Wydawca

Temat

Autor

Typ dokumentu

Język