Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "mikroskopia sił atomowych (AFM)" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-15 z 15
    Tytuł:
    TEM & AFM - Complementary Techniques for Structural Characterization of Nanobainitic Steel
    TEM & AFM – komplementarne techniki charakteryzacji struktury nanobainitycznej
    Autorzy:
    Dworecka, J.
    Jezierska, E.
    Rębiś, J.
    Rożniatowski, K.
    Świątnicki, W.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/353216.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    transmission electron microscopy TEM
    atomic force microscopy (AFM)
    nanobainite
    bearing steel
    elektronowy mikroskop transmisyjny (TEM)
    mikroskopia sił atomowych (AFM)
    struktura nanobainityczna
    stalowe łożyska
    Opis:
    The aim of this study was to analyse and to identify the phases which formed in 100CrMnSi6-4 bearing steel after the nanostructuring heat treatment. Especially designed thermal treatment parameters were applied in order to obtain a nanobainitic structure. Two different microscopic techniques were used for the precise examination of the microstructures obtained: transmission electron microscopy (TEM) and atomic force microscopy (AFM). Both analyses confirm that the examined steel has a nanocrystalline structure. However, it was discovered that the selected analysis methods affected the results of the plate thickness measurements.
    Celem pracy była analiza struktury i identyfikacja faz powstałych podczas procesu nanostrukturyzacji stali łożyskowej 100CrMnSi6-4. Chcąc wytworzyć strukturę nanobainityczną przeprowadzono obróbkę cieplną o specjalnie dobranych parametrach. Następnie wykonano precyzyjną analizę otrzymanej mikrostruktury wykorzystując w tym celu dwie zaawansowane techniki mikroskopowe: transmisyjną mikroskopię elektronową (TEM) oraz mikroskopię sił atomowych (AFM). Badania wykonane obiema technikami potwierdziły, że badano stal o strukturze nanobainitycznej. Wykazano też, że zależnie od zastosowanej techniki badawczej otrzymano różnice w wartościach zmierzonych grubościach elementów struktury.
    Źródło:
    Archives of Metallurgy and Materials; 2015, 60, 3A; 1591-1593
    1733-3490
    Pojawia się w:
    Archives of Metallurgy and Materials
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    A Comparison between Contact and Tapping AFM Mode in Surface Morphology Studies
    Autorzy:
    Bramowicz, M.
    Kulesza, S.
    Rychlik, K.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/298112.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Uniwersytet Warmińsko-Mazurski w Olsztynie
    Tematy:
    mikroskopia sił atomowych
    AFM
    topografia powierzchni
    atomic force microscopy (AFM)
    surface topography
    Opis:
    The paper presents recent results from studies of a surface topography of a platinum calibration grid on silicon substrate obtained in both contact and tapping modes of the AFM microscope. The results are analyzed in order to determine the influence of the scan set-up and the SPM probe onto estimated fractal parameters and surface anisotropy ratio.
    Źródło:
    Technical Sciences / University of Warmia and Mazury in Olsztyn; 2012, 15(2); 307-318
    1505-4675
    2083-4527
    Pojawia się w:
    Technical Sciences / University of Warmia and Mazury in Olsztyn
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Development of a hybrid Atomic Force microscope and Optical Tweezers apparatus
    Autorzy:
    Zembrzycki, K.
    Pawłowska, S.
    Nakielski, P.
    Pierini, F.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/31343079.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Instytut Podstawowych Problemów Techniki PAN
    Tematy:
    optical tweezers
    atomic force microscopy (AFM)
    AFM/OT
    mikroskopia sił atomowych
    szczypce optyczne
    Opis:
    The role of mechanical properties is essential to understand molecular, biological materials and nanostructures dynamics and interaction processes. Atomic force microscopy (AFM), due to its sensitivity is the most commonly used method of direct force evaluation. Yet because of its technical limitations this single probe technique is unable to detect forces with femtonewton resolution. In this paper, we present the development of a combined atomic force microscopy and optical tweezers (AFM/OT) instrument. The system is based on a commercial AFM and confocal microscope. The addition of three lasers along with beam shaping and steering optics, on which the optical tweezer is based upon, provide us with the ability to manipulate small dielectric objects suspended in a fluid. Additionally, this same device allows for direct displacement and force measurement with very high resolution and accuracy in the same AFM scanning zone. We have also fitted a laser and a set of filters to observe fluorescent samples appropriately exited. We show that this is a great improvement of a standalone AFM force resolution and more so opens a way to conduct experiments using a hybrid double probe technique with high potential in nanomechanics, molecules manipulation and biological studies. This paper describes in detail the construction of all the modules such as the trapping laser optics, detection laser optics and the fluorescence module. Also, due to its importance on the performance of the equipment, the electronics part of the detection system is described. In the following chapters the whole adjustment and calibration is explained. The performance of the apparatus is fully characterized by studying the ability to trap dielectric objects and quantifying the detectable and applicable forces. The setting and sensitivity of the particle position detector and force sensor is shown. We additionally describe and compare different optical tweezer calibration methods. In the last part we show the ability of our instrument to conduct experiments using the proposed double-probe technique, in this case to study interaction forces between two particles.
    Pomiary własności mechanicznych i sił w mikro i nanoskali mają bardzo ważne znaczenie w badaniach dynamiki i oddziaływań materiałów biologicznych i nanostruktur. Mikroskopia sił atomowych (ang. AFM), z uwagi na swoją czułość, jest najczęściej używaną techniką do bezpośredniego pomiaru sił. Jednak z powodu swoich ograniczeń nie jest w stanie mierzyć sił z rozdzielczością w zakresie femtonewtonów. Takie możliwości stwarza metoda optyczna oparta na tzw. szczypcach optycznych (ang. OT). Z drugiej strony z uwagi na fizyczne ograniczenia tej metody pomiary charakteryzujące oddziaływujące powierzchnie w niewielkich odległościach, nadal wymagają stosowania mikroskopii sił atomowych. W poniższej pracy opisujemy unikalną konstrukcję hybrydową bazującą na połączeniu obu technik w jednym systemie. Skonstruowany system (AFM/OT) oparty jest na autorskiej modyfikacji komercyjnego mikroskopu AFM (firmy NT-MDT) i jest możliwy do zastosowania zasadniczo w każdym innym dostępnym na rynku mikroskopie typu AFM. Modyfikacja polega zasadniczo na budowie dodatkowego systemu optycznego formującego wiązki trzech laserów, na których bazują szczypce optyczne. Umożliwia to manipulację małymi obiektami dielektrycznymi zawieszonymi w płynie i precyzyjną detekcję ich położenia. Dzięki takiej modyfikacji stworzony system AFM/OT pozwala na bezpośrednie pomiary przemieszczenia oraz siły z bardzo dużą rozdzielczością i dokładnością w obszarze działania sondy AFM. Dodatkowo system został wyposażony w laser i elementy optyczne pozwalające na pobudzanie i detekcję fluorescencji odpowiednio przygotowanych obiektów. Wykazujemy, że ten instrument istotnie poprawia zakres i rozdzielczość sił mierzonych za pomocą standardowego mikroskopu AFM, jak również otwiera drogę do przeprowadzania eksperymentów z użyciem hybrydowej techniki dwóch sond, mającej wysoki potencjał zastosowań w nanomechanice, badaniach biologicznych i nanomanipulacji. Niniejsza praca przedstawia szczegóły konstrukcyjne zbudowanych modułów szczypiec optycznych, jak i układ elektroniczny pozwalający na precyzyjne pomiary przemieszczeń obiektów uwięzionych przez szczypce optyczne. W kolejnych partiach pracy przedstawiona jest procedura dostrajania układu optycznego i metodyka kalibracji systemu pomiaru sił i przemieszczeń. Podstawowe parametry aparatury zostają w pełni scharakteryzowane poprzez zbadanie jej zdolności do manipulacji dielektrycznymi obiektami oraz do mierzeni wywieranych na nie sił. Dodatkowo przedstawiamy opis i porównanie różnych metod kalibracji szczypiec optycznych. W ostatniej części pracy przedstawiamy na przykładzie pomiaru oddziaływań bliskiego kontaktu dwóch cząstek koloidalnych potencjał naszego instrumentu dla przeprowadzania pomiarów z jednoczesnym użyciem techniki dwóch sond (AFM/OT).
    Źródło:
    IPPT Reports on Fundamental Technological Research; 2016, 2; 1-58
    2299-3657
    Pojawia się w:
    IPPT Reports on Fundamental Technological Research
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Assessment of the possibilities of using atomic force microscopy (AFM) for characterisation of polymeric nanofiltration membrane surfaces
    Ocena możliwości wykorzystania mikroskopu sił atomowych w badaniach powierzchni polimerowych membran nanofiltracyjnych
    Autorzy:
    Kowalik-Klimczak, A.
    Gierycz, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/257281.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
    Tematy:
    atomic force microscopy (AFM)
    nanofiltration
    polymeric membranes
    surface roughness
    mikroskopia sił atomowych
    nanofiltracja
    membrany polimerowe
    chropowatość powierzchni
    Opis:
    In this study, the possibility of using an atomic force microscopy to analyse the surface structure of the polymeric nanofiltration membranes was investigated. Analysis of the obtained results allowed one to conclude that the size of the scanned surface directly affects the measurement result of both the average and root-mean-square roughness of tested membranes. Therefore, it is necessary to compare the results obtained for the same size of the scanned surface.
    W pracy zbadano możliwość zastosowania mikroskopu sił atomowych do analizy struktury powierzchni polimerowych membran nanofiltracyjnych. Analiza uzyskanych wyników pozwoliła na stwierdzenie, że wielkość skanowanej powierzchni bezpośrednio wpływa na wynik pomiaru zarówno chropowatości średniej arytmetycznej, jak i kwadratowej testowanych membran. Konieczne jest zatem porównywanie wyników uzyskanych dla takich samych wielkości skanowanej powierzchni.
    Źródło:
    Problemy Eksploatacji; 2014, 3; 17-25
    1232-9312
    Pojawia się w:
    Problemy Eksploatacji
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Charakterystyka nanostrukturalna materiału genetycznego do zastosowania w terapii genowej
    Nanostructural characteristics of genetic material for gene therapy application
    Autorzy:
    Duda, M.
    Frączkowska, K.
    Przybyło, M.
    Kopaczyńska, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/261139.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki. Katedra Inżynierii Biomedycznej
    Tematy:
    kondensacja DNA
    spermidyna
    terapia genowa
    mikroskopia sił atomowych
    DNA condensation
    spermidine
    gene therapy
    atomic force microscopy (AFM)
    Opis:
    Terapia genowa jest obecnie bardzo dynamicznie rozwijającą się techniką biomedyczną, która może znaleźć zastosowanie w medycynie w leczeniu chorób przewlekłych i dziedzicznych. Badania skupiają się na opracowywaniu nowych strategii dotyczących procesów kondensacji i ochrony materiału genetycznego (DNA) wprowadzanego do komórki docelowej. Struktura i stopień upakowania dostarczanego DNA wpływają na kluczowe właściwości fizykochemiczne, determinujące czy wprowadzony wektor rekombinowany ulegnie ekspresji, czy też degradacji. Związki chemiczne, zwane czynnikami kondensującymi, to substancje powodujące zwinięcie DNA, a stopień kondensacji materiału genetycznego zależy bezpośrednio od rodzaju i stężenia użytego czynnika kondensującego. Do cząsteczek wykazujących właściwości kondensujące należą poliaminy, w opisywanym eksperymencie zastosowano poliaminę – spermidynę. Przeprowadzone badania miały na celu charakterystykę nanostrukturalną materiału genetycznego pod wpływem działania czynnika kondensującego. W wyniku analizy wykonanej za pomocą mikroskopii sił atomowych (AFM) wykazano, że plazmid DNA ulega kondensacji pod wpływem spermidyny, formując struktury rozetowe.
    Gene therapy is a new promising method that may find many applications in modern biomedicine. Especially, it may be a powerful tool in chronic and hereditary diseases treatment. Current studies focus on development of novel strategies concerning genetic material (DNA) condensation and protection, whilst it is introduced into the cellular nucleus. Once the DNA enters the cell, it’s either passed on and expressed in the nucleus or degraded by intracellular nucleases. The structure and the degree of compaction influence physicochemical properties that determine what will happen to delivered genetic material. DNA coiling can be caused by chemical compounds called compaction agents, such as polyamines like spermidine used in this study. The aim of this research was to examine the nanostructural characteristics of genetic material exposed to compaction agent. The measurements and analysis performed by atomic force microscopy (AFM) indicate that DNA plasmid undergoes condensation and forms rosette-like structures once subjected to spermidine.
    Źródło:
    Acta Bio-Optica et Informatica Medica. Inżynieria Biomedyczna; 2015, 21, 1; 1-8
    1234-5563
    Pojawia się w:
    Acta Bio-Optica et Informatica Medica. Inżynieria Biomedyczna
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Description of Surface Topography of Metal Matrix Composite Castings
    Autorzy:
    Gawdzińska, K.
    Bryll, K.
    Gucma, M.
    Pijanowski, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/382957.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    metal matrix composites
    surface topography
    profilography
    confocal microscopy
    atomic force microscopy (AFM)
    kompozyty metalowe
    topografia powierzchni
    profilograf
    mikroskopia konfokalna
    mikroskopia sił atomowych
    Opis:
    The paper presents studies of topography of the metal matrix composite castings using profilography, confocal microscopy and atomic force microscopy. The examined materials were composites from the ex-situ group, manufactured by the saturation of reinforcement (aluminosilicate or carbon) with the liquid aluminum alloy (AlSi9 or AlSi11). The materials were observed on the various surface state, resulting from different stages of preparation of the polished section for the metallographic between the composite matrix and reinforcement.
    Źródło:
    Archives of Foundry Engineering; 2014, 14, 1 spec.; 169-174
    1897-3310
    2299-2944
    Pojawia się w:
    Archives of Foundry Engineering
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Wybrane techniki obrazowania stosowane w kryminalistyce.
    Selected imaging techniques applied in forensic science
    Autorzy:
    Łasińska, Anna
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/501703.pdf
    Data publikacji:
    2018-03-15
    Wydawca:
    Agencja Bezpieczeństwa Wewnętrznego
    Tematy:
    techniki obrazowania
    mikroskopia
    SEM
    mikroanaliza rentgenowska
    EDS
    spektroskopia Ramana
    mikroskopia sił atomowych
    AFM
    imaging techniques
    microscopy
    X-ray microanalysis
    Raman spectroscopy
    atomic force microscopy
    Opis:
    W artykule przedstawiono zagadnienia obejmujące różne techniki obrazowania wykorzystywane w kryminalistyce. Rozwój technologii obserwowany we współczesnym świecie pociąga za sobą zmiany we wszystkich dziedzinach życia, usprawniając, przyspieszając oraz otwierając je na nowe możliwości badawcze. Wykorzystanie zaawansowanej technologii pozwala na precyzyjną analizę materiału dowodowego. Możliwość obserwacji różnych próbek w dużych powiększeniach jest niezbędna przy wykonywaniu ich dokumentacji (badanie morfologii powierzchni, ustalanie cech diagnostycznych). Zastosowanie mikroskopii optycznej, elektronowej lub sił atomowych, a także zintegrowanych z nimi systemów spektroskopowych jest podstawowym, a zarazem potężnym narzędziem służącym wykonywaniu obserwacji różnorodnych materiałów.
    The article presents issues that include various imaging techniques used in forensics. Technology development observed in the modern world, implies changes in all areas of life, improving, speeding up and opening them to new research capabilities. The use of advanced technology allows precise analysis of the evidence. The opportunity to observe different samples at high magnification is necessary in the performance of their documentation (examination of the morphology of the surface, setting the diagnostic characteristics). The application of optical microscopy, electron microscopy or atomic force microscopy, and integrated spectroscopic systems is an essential and powerful tool for implementation observations of a variety of materials.
    Źródło:
    Przegląd Bezpieczeństwa Wewnętrznego; 2018, 10, 18; 89-119
    2080-1335
    2720-0841
    Pojawia się w:
    Przegląd Bezpieczeństwa Wewnętrznego
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Utilization of AFM mapping of surfaces mechanical properties in diagnostics of the materials for electrotechnics
    Wykorzystanie mapowania właściwości mechanicznych powierzchni technikami AFM w diagnostyce materiałów stosowanych w elektrotechnice
    Autorzy:
    Sikora, A.
    Bednarz, Ł.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/158826.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
    Tematy:
    mikroskopia sił atomowych
    tryb NanoSwing
    elektrotechnika
    atomic force microscopy (AFM)
    time-resolved tapping mode
    mechanical properties mapping
    nanomaterials
    material science
    Opis:
    Atomic force microscopy (AFM) is one of the most powerful diagnostic methods used in micro- and nanoscale imaging of the topography and various physical properties of the surface. As this method involves the scanning tip/sample interaction, it is possible to observe the response of the surface on periodically changing load causing by the scanning tip. By utilizing so called time-resolved tapping mode, we could perform the mapping of the surface's mechanical properties: stiffness, adhesion, energy dissipation and others. In this paper we present the idea of the NanoSwing imaging technique developed at Electrotechnical Institute, Division of Electrotechnology and Materials Science in Wrocław as well as the examples of the measurement results.
    Mikroskopia sił atomowych (AFM) jest jedną z najbardziej zaawansowanych technik diagnostycznych w mikro- i nanoskali, stosowaną w procesie obrazowania topografii oraz różnych właściwości fizycznych powierzchni. Wykorzystanie oddziaływania ostrze skanujące-próbka umożliwia obserwację odpowiedzi materiału na okresowe zmiany nacisku wywoływane przez ostrze, dzięki czemu możliwa jest ocena właściwości mechanicznych próbki. Zastosowanie trybu dynamicznego z analizą oscylacji skrętnych belki skanującej w domenie czasu, umożliwiło wykonywanie mapowania takich parametrów jak: sztywność, adhezja, rozpraszanie energii i inne. W niniejszej pracy zaprezentowano koncepcję działania trybu NanoSwing opracowanego we wrocławskim oddziale Instytutu Elektrotechniki. Przedstawiono także przykładowe wyniki pomiarów wykonanych z wykorzystaniem tego trybu.
    Źródło:
    Prace Instytutu Elektrotechniki; 2011, 253; 15-25
    0032-6216
    Pojawia się w:
    Prace Instytutu Elektrotechniki
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Selected imaging techniques applied in forensic science
    Wybrane techniki obrazowania stosowane w kryminalistyce
    Autorzy:
    Łasińska, Anna
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/501727.pdf
    Data publikacji:
    2018-03-15
    Wydawca:
    Agencja Bezpieczeństwa Wewnętrznego
    Tematy:
    imaging techniques
    microscopy
    SEM
    X-ray microanalysis
    EDS
    Raman spectroscopy
    atomic force microscopy
    AFM
    techniki obrazowania
    mikroskopia
    mikroanaliza rentgenowska
    spektroskopia Ramana
    mikroskopia sił atomowych
    Opis:
    The article presents issues that include various imaging techniques used in forensics. Technology development observed in the modern world, implies changes in all areas of life, improving, speeding up and opening them to new research capabilities. The use of advanced technology allows precise analysis of the evidence. The opportunity to observe different samples at high magnification is necessary in the performance of their documentation (examination of the morphology of the surface, setting the diagnostic characteristics). The application of optical microscopy, electron microscopy or atomic force microscopy, and integrated spectroscopic systems is an essential and powerful tool for implementation observations of a variety of materials.
    W artykule przedstawiono zagadnienia obejmujące różne techniki obrazowania wykorzystywane w kryminalistyce. Rozwój technologii obserwowany we współczesnym świecie pociąga za sobą zmiany we wszystkich dziedzinach życia, usprawniając, przyspieszając oraz otwierając je na nowe możliwości badawcze. Wykorzystanie zaawansowanej technologii pozwala na precyzyjną analizę materiału dowodowego. Możliwość obserwacji różnych próbek w dużych powiększeniach jest niezbędna przy wykonywaniu ich dokumentacji (badanie morfologii powierzchni, ustalanie cech diagnostycznych). Zastosowanie mikroskopii optycznej, elektronowej lub sił atomowych, a także zintegrowanych z nimi systemów spektroskopowych jest podstawowym, a zarazem potężnym narzędziem służącym wykonywaniu obserwacji różnorodnych materiałów.
    Źródło:
    Przegląd Bezpieczeństwa Wewnętrznego; 2018, 10, 18; 283-309
    2080-1335
    2720-0841
    Pojawia się w:
    Przegląd Bezpieczeństwa Wewnętrznego
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Badania doświadczalne zużycia główki endoprotezy stawu biodrowego ze stopu kobalt-chrom oraz z tlenku aluminium
    An experimental study of the nano-scratch behavior of a femoral head
    Autorzy:
    Leshchynsky, V.
    Soifer, Y.
    Wierusz-Kozłowska, M.
    Markuszewski, J.
    Woźniak, W.
    Bielousova, O.
    Weinert, H.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/211696.pdf
    Data publikacji:
    2009
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Obróbki Plastycznej
    Tematy:
    endoprotezy stawu biodrowego
    mechanizm zużycia
    topografia powierzchni
    mikroskopia sił atomowych
    hip replacement prosthesis
    wear mechanism
    surface topography
    atomic force microscopy (AFM)
    Opis:
    Artykuł dotyczy badań doświadczalnych zużycia główek endoprotez stawu biodrowego wykonanych w ramach zakresu badań na symulatorach ruchu endoprotez kolanowych i biodrowych prowadzonych w Instytucie Obróbki Plastycznej w Poznaniu we współpracy z Katedrą i kliniką Ortopedii i Traumatologii Uniwersytetu Medycznego w Poznaniu z udziałem Uniwersytetu Tel Aviv. Zużycie wciąż jest znaczącym czynnikiem wpływającym na uszkodzenia implantów. Badania in-vivo wykazują, że na większe zużycie wpływa chropowatość powierzchni protez główki kości udowej. W przypadku endoprotezy stawu biodrowego z wkładką z polietylenu, zuzycie bardziej miękkiego polietylenu jest powodowane chropowatością powierzchni główki, która niszczy powierzchnię polietylenu i odłącza jego cząstki. W artykule opisano wyniki badań morfologii powierzchni główki implantu po eksploatacji oraz wyniki modelowania procesu uszkodzenia tej powierzchni poprzez nanoindentację i nanozarysowania celem lepszego zrozumienia mechanizmu procesu zużywania się endoprotezy stawu biodrowego. Badania przeprowadzono metodą mikroskopii sił atomowych (AFM). Badania wykazały poważne uszkodzenia powierzchni kobaltowo – chromowej i ceramicznej główki. Stwierdzono, ze zarysowania na główce kości udowej w nanoskali powstają w wyniku formowania się bryłowatych wypukłości o niskiej gęstości, które mogą działać jako inicjatory powstawania produktów zużycia, co wydaje się być jedną z głównych przyczyn zużycia polietylenu w pierwszym etapie eksploatacji implantu stawu biodrowego.
    Bearing wear continues to be a contributing factor to implant failure. Prosthetic femoral heads roughen in vivo which leads to increased wear. For a femoral head articulating against polyethylene, wear of softer polyethylene is known to be caused by the hard asperities on the surface of the femoral head, that destroy polyethylene surface and detach polyethylene particles. In the present work in order to better understand the mechanism of femoral head prosthesis wear process we studied the femoral head surface morphology after implant articulation and modeled the damage of the femoral head surface by nanoindentation and nanoscratching with Atomic Force Microscopy Technique. The Atomic Force Microscopy examination of scratching process revealed a severe surface damage cobalt-chrome and alumina femoral head surface. The nano-scale scratch of femoral heads is shown to result in formation of lumpy protuberances with low density which can act as a precursor for wear particles that seems to be one of the main reasons of polyethylene wear at least at the first (running) stage of the HIP implant articulation.
    Źródło:
    Obróbka Plastyczna Metali; 2009, 20, 4; 30-42
    0867-2628
    Pojawia się w:
    Obróbka Plastyczna Metali
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analysis of the surface geometry of the orthodontic archwire and their influence on the bacterial adhesion
    Autorzy:
    Ziębowicz, B.
    Woźniak, A.
    Ziębowicz, A.
    Ziembińska-Buczyńska, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/366963.pdf
    Data publikacji:
    2019
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Komputerowej Nauki o Materiałach i Inżynierii Powierzchni w Gliwicach
    Tematy:
    archwires
    b-Ti
    AFM
    atomic force microscope
    SEM/EDS
    confocal microscopy
    pitting corrosion
    łuk ortodontyczny
    mikroskop sił atomowych
    mikroskopia konfokalna
    korozja wżerowa
    Opis:
    Purpose: The aim of this work is to characterize the surface geometry of the orthodontic archiwire and their influence of the pitting corrosion resistance and bacterial adhesion. Design/methodology/approach: In the paper, the results of the SEM/EDS analysis and microscopic observation of the samples surface and analysis of geometrical structure with the use Atomic Force Microscope (AFM) and Confocal Microscopy were presented as well as the pitting corrosion test and surface roughness and microhardness measurements were performed. Additionally the microbiological study after bacterial breeding with the use Scanning Electron Microscope was carried out. Findings: In the basis of the investigation, it can be concluded that the surface geometry of archwire has a significant impact on their pitting corrosion resistance in artificial saliva solution and on the bacterial adhesion. The obtained results show satisfactory properties and surface geometry of the tested orthodontic wires for use in the human oral environment. Research limitations/implications: In the future, it is planned to extend the research with physicochemical properties and the influence of oral hygiene products on the corrosive behaviour of the material. Limitations in the conducted tests refer to archwire design – a small diameter making measurements difficult. Practical implications: The oral environment is an extremely aggressive corrosive environment. The orthodontic elements should have very good corrosion resistance and biocompatibility. The focus should be on continuously improving orthodontic wires in terms of material quality and topography of its surface topography. Originality/value: The research is conducted in the field of biomedical engineering, which is part of material engineering and is used for the field of dentistry and microbiology.
    Źródło:
    Journal of Achievements in Materials and Manufacturing Engineering; 2019, 93, 1-2; 32-40
    1734-8412
    Pojawia się w:
    Journal of Achievements in Materials and Manufacturing Engineering
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analysis of cells elasticity based on force-distance curves obtained from atomic force microscopy
    Autorzy:
    Płaczek, B.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/333853.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Uniwersytet Śląski. Wydział Informatyki i Nauki o Materiałach. Instytut Informatyki. Zakład Systemów Komputerowych
    Tematy:
    atomic force microscopy
    AFM
    Young's modulus
    force curve
    indentation model
    curve fitting
    mikroskopia sił atomowych
    moduł Younga
    krzywa siły
    model wcięcia
    dopasowywanie krzywej
    Opis:
    Automated techniques for measuring elasticity parameters of cells enable development of new diagnosis methods. An important elasticity parameter is the Young’s modulus (YM), which has been effectively used to characterize different cell properties, e. g., platelet activation, locomotion, differentiation, and aging. This paper deals with the problem of automated determination of cells YM based on the force-distance curves obtained from atomic force microscope. During experiments, the YM of cells was determined by using contact point detection and curve fitting algorithms. Experimental results were compared for two theoretical models of indentation: Hertz model, and Sneddon model. The results show that single indentation model allows a satisfactory accuracy to be obtained only for a subset of the force-distance curves. The most appropriate model for a given curve can be selected based on the fitting error analysis.
    Źródło:
    Journal of Medical Informatics & Technologies; 2015, 24; 173-179
    1642-6037
    Pojawia się w:
    Journal of Medical Informatics & Technologies
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analiza polimerowych membran nanofiltracyjnych za pomocą nowoczesnych technik badawczych
    Analysis of polymeric nanofiltration membranes by modern techniques
    Autorzy:
    Kowalik-Klimczak, A.
    Bednarska, A.
    Grądkowski, M.
    Gierycz, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/947443.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Chemii Przemysłowej
    Tematy:
    polimerowe membrany nanofiltracyjne
    analiza powierzchni
    potencjał zeta
    skaningowa mikroskopia elektronowa
    mikroskopia sił atomowych
    rentgenowska spektroskopia fotoelektronowa
    nanofiltration polymeric membranes
    surface modern research techniques
    zeta potential
    scanning electron microscopy
    atomic force microscopy (AFM)
    X-ray photoelectron spectroscopy
    Opis:
    Za pomocą nowoczesnych technik analizy powierzchni, takich jak: pomiary potencjału zeta, skaningowa mikroskopia elektronowa, mikroskopia sił atomowych oraz rentgenowska spektroskopia fotoelektronów, zbadano dwa rodzaje membran polimerowych przeznaczonych do nanofiltracji. Stwierdzono, że ww. techniki analityczne umożliwiają komplementarne określenie właściwości fizykochemicznych powierzchni polimerowych membran nanofiltracyjnych, a tym samym ułatwiają dobór membrany do określonego zastosowania.
    In the paper, two types of nanofiltration polymeric membranes are examined using modern techniques including zeta potential measurement, scanning electron microscopy, atomic force microscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. The authors argue that the presented techniques are suitable for the complementary determination of physicochemical properties of polymeric nanofiltration membranes and consequently give information necessary for the proper selection of amembrane for a particular application.
    Źródło:
    Polimery; 2016, 61, 5; 339-346
    0032-2725
    Pojawia się w:
    Polimery
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    New thermoplastic poly(carbonate-urethane) elastomers
    Autorzy:
    Kultys, A.
    Rogulska, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/779306.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie. Wydawnictwo Uczelniane ZUT w Szczecinie
    Tematy:
    elastomery termoplastyczne
    elastomery poliuretanowe
    diole
    diizocyjanian 4,4'-difenylometanu
    diizocyjanian heksano-1,6-diylu
    właściwości termiczne
    właściwości mechaniczne
    mikroskopia sił atomowych
    thermoplastic polyurethane elastomers
    poly(hexane-1,6-diyl carbonate) diol
    4,4'-diphenylmethane diisocyanate
    thermal properties
    mechanical properties
    atomic force microscopy (AFM)
    Opis:
    Two series of novel thermoplastic poly(carbonate-urethane) elastomers, with different hard-segment content (30 - 60 wt %), were synthesized by melt polymerization from poly(hexane-1,6-diyl carbonate) diol of Mn = 2000 as a soft segment, 4,4'-diphenylmethane diisocyanate (MDI) or hexane-1,6-diyl diisocyanate (HDI) and 6,6'-[methylenebis(1,4-phenylenemethylenethio)]dihexan-1-ol as a chain extender. The structure and basic properties of the polymers were examined by Fourier transform infrared spectroscopy, X-ray diffraction analysis, atomic force microscopy, differential scanning calorimetry, thermogravimetric analysis, Shore hardness and tensile tests. The resulting TPUs were colorless polymers, showing almost amorphous structures. The MDI-based TPUs showed higher tensile strengths (up to 21.3 MPa vs. 15.8 MPa) and elongations at break (up to 550% vs. 425%), but poorer low-temperature properties than the HDI-based analogs.
    Źródło:
    Polish Journal of Chemical Technology; 2011, 13, 1; 23-30
    1509-8117
    1899-4741
    Pojawia się w:
    Polish Journal of Chemical Technology
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-15 z 15

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies