Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "micrometer conducting lines" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Contactless method for resistance measurement of ultra-thin printed and conductive lines
Autorzy:
Szybiński, Krzysztof
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/220707.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
inkjet printing electronics
resistance measurements
micrometer conducting lines
contactless method
resonance circuits
Opis:
In this paper the problem of resistance measurement of ultrathin conductive lines on dielectric substrates dedicated for printing electronic industry is discussed. The measured line is transformed in a non-invasive way into a resonance circuit. By using a magnetic coupling between the source line and the tested line, the resistance measurement can be performed non-invasively, i.e. without a mechanical contact. The proposed contactless resistance measurement method is based on the resonance quality factor estimation and it is an example of the inverse problem in metrology.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2020, 27, 3; 427-439
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies