Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "impedancja elektryczna" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Fractional-order model of a non-linear inductor
Autorzy:
Lopes, A. M.
Tenreiro-Machado, J. A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/200387.pdf
Data publikacji:
2019
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
fractional-order model
inductor
electrical impedance spectroscopy
model ułamkowy
induktor
spektroskopia
impedancja elektryczna
Opis:
This paper adopts a fractional calculus perspective to describe a non-linear electrical inductor. First, the electrical impedance spectroscopy technique is used for measuring the impedance of the device. Second, the experimental data is approximated by means of fractional-order models. The results demonstrate that the proposed approach represents the inductor using a limited number of parameters, while highlighting its most relevant characteristics.
Źródło:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2019, 67, 1; 61-67
0239-7528
Pojawia się w:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Zastosowanie impedancji elektrycznej w zakresie niskich częstotliwości do detekcji obiektów zanurzonych
Application of low frequency electrical impedance for detection of submerged objects
Autorzy:
Penkowski, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/366310.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Polskie Towarzystwo Medycyny i Techniki Hiperbarycznej
Tematy:
impedancja elektryczna
dyspersja impedancji
detekcja
obiekty zanurzone
electrical impedance
impedance dispersion
detection
submerged objects
Opis:
Przedstawiono wyniki wstępnych prac doświadczalnych mających na celu wykrycie i różnicowanie obiektów zanurzonych w środowisku wodnym. Do detekcji wykorzystano pomiar impedancji elektrycznej w zakresie niskich częstotliwości. Wyniki pracy wskazują, że możliwe jest odróżnienie organizmów żywych (ryby) od przedmiotów martwych (kamienie, pęcherzyki) w sposób pewny. Metoda tego typu nie była dotąd stosowana a jej wyniki wskazują, że może być ona przydatna w sytuacji, gdy inne metody (hydroakustyczna, optyczna) nie są w stanie udzielić istotnych informacji o obiekcie zanurzonym.
Results of preliminary experiments with the detection and recognition of objects submerged in water are presented. Measurements of the electrical impedance in low frequency range were used. Results of experiments confirmed that living organism like fish can be reliably recognized from other objects (stones, bubbles, etc.). The presented method was not applied for the detection of submerged objects up till now and seems to be interesting alternative, and can give reliable results when other methods (hydroacoustic, optical) are unable to give usable information.
Źródło:
Polish Hyperbaric Research; 2012, 1(38); 131-156
1734-7009
2084-0535
Pojawia się w:
Polish Hyperbaric Research
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Vector Analysis of Electrical Networks for Temperature Measurement of MOS Power Transistors
Zastosowanie analizy wektorowej sieci elektrycznych do pomiaru temperatury tranzystorów MOS
Autorzy:
Torzyk, Błażej
Więcek, Bogusław
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2068667.pdf
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
Tematy:
Vector Network Analyzer
IR camera measurement
S-parameter
MOS transistor
electrical impedance
VNA
Wektorowy Analizator Sieci
temperatura
parametry rozpraszania
parametry S
tranzystor MOS
impedancja elektryczna
pomiary termowizyjne
Opis:
The article presents the concept of using VNA (Vector Network Analyzer) to measure the temperature of the MOS transistor junction. The method assumes that the scattering parameters of the network consisting of the transistor depend on the temperature. The tests confirmed the influence of temperature on the S11 parameter and the input network capacity during ambient temperature changes in the range of 35-70°C. Measurements were made for the gate-source (G-S) input of the system. The measurements were carried-out with the transistor in the ON/OFF states. In order to validate the measurements, the temperature of the tested element was recorded with the MWIR Cedip-Titanium thermal imaging camera.
W artykule przedstawiono koncepcję wykorzystania wektorowego analizatora sieci VNA (ang. Vector Network Analyzer) do pomiaru temperatury złącza tranzystora MOS. Metoda zakłada, że parametry rozpraszania sieci elektrycznych wewnętrznych struktur tranzystora zależą od temperatury. Badania potwierdziły wpływ temperatury na parametr S11 oraz na pojemność wejściową przy zmianie wartości temperatury otoczenia w zakresie 35-70°C. Pomiary wykonano dla wejścia bramka-źródło (G-S) układu. Pomiary przeprowadzono z tranzystorem w stanach ON/OFF. W celu walidacji pomiarów, temperaturę badanego elementu rejestrowano kamerą termowizyjną MWIR Cedip-Titanium.
Źródło:
Pomiary Automatyka Robotyka; 2021, 25, 4; 83--87
1427-9126
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Robotyka
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies