Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "faults isolation" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
An Expert System Coupled With a Hierarchical Structure of Fuzzy Neural Networks for Fault Diagnosis
Autorzy:
Calado, J. M. F.
Costa, I. S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/908283.pdf
Data publikacji:
1999
Wydawca:
Uniwersytet Zielonogórski. Oficyna Wydawnicza
Tematy:
rozpoznanie błędu
wykrywanie błędu
system ekspertowy
sieć neuronowa rozmyta
fault diagnosis
fault detection
fault isolation
shallow knowledge
deep knowledge
expert system
fuzzy neural network
abrupt faults
incipient faults
Opis:
An on-line fault diagnosis system, designed to be robust to the normal transient behaviour of the process, is described. The overall system consists of an expert system cascade with a hierarchical structure of fuzzy neural networks, corresponding to a multi-stage fault detection and isolation system. The fault detection is performed through the expert system by means of fault detection heuristic rules, generated from deep and shallow knowledge of the process under consideration. If a fault is detected, the hierarchical structure of fuzzy neural networks starts and it performs the fault isolation task. The structure of this diagnosis system was designed to allow for the diagnosis of single and multiple simultaneous abrupt and incipient faults from only single abrupt fault symptoms. Also, it combines the advantages of both fuzzy reasoning and neural networks learning capacity. A continuous binary distillation column has been used as a test bed of the current approach. Single, double and triple simultaneous abrupt faults, as well as incipient faults, have been considered. The preliminary results obtained show a good accuracy, even in the case of multiple faults.
Źródło:
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science; 1999, 9, 3; 667-687
1641-876X
2083-8492
Pojawia się w:
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Diagnostyka złożonych procesów przemysłowych - ograniczenia, wymagania, problemy
Diagnostics of complex industrial systems- limitations, requirements, problems
Autorzy:
Kościelny, J. M.
Syfert, M.
Bartyś, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/156885.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
diagnostyka
lokalizacja uszkodzeń
procesy przemysłowe
zmienność struktury systemu
opóźnienia symptomów
uszkodzenia wielokrotne
diagnostics
fault isolation
industrial processes
variation of system structure
symptom delays
multiple faults
Opis:
W artykule omówiono uwarunkowania i ograniczenia występujące w diagnostyce złożonych instalacji w przemyśle chemicznym, petrochemicznym, energetycznym itp. Określono wymagania stawiane systemom diagnostycznym dla takich instalacji oraz scharakteryzowano problemy istotne w procesie projektowania systemów diagnostycznych. Do problemów tych zaliczyć należy: zmienność struktury obiektu w trakcie eksploatacji, opóźnienia powstawania symptomów prowadzące do fałszywych diagnoz oraz występowanie uszkodzeń wielokrotnych. Podano sposoby rozwiązania tych problemów. Zostały one zastosowane przy realizacji systemów modelowania, diagnostyki i nadrzędnego sterowania procesów AMandD oraz DiaSter.
Limitations, requirements and problems of diagnostics of complex industrial systems is discussed in this paper. Brief discussion given in Section 1 is particularly relevant to issues typical for chemical, petrochemical, power, food etc. large scale industrial installations. Section 2 of the paper lists and discusses main limitations and restrictions that should be taken into account in design phase of industrial diagnostic system. Basic issues are connected with variations in the diagnosed system structure, delays of fault symptoms causing false diagnoses, and necessity of isolation of multiple faults. Three applicable approaches of solving the issues stated in Section 2 are described in Section 3. Here, in Subsection 3.1, a novel and robust inference scheme against system structure variation is proposed (2) and Dynamic Decomposition of the Diagnosed System is briefly described. The problems of generation of false diagnoses caused by delays of fault symptoms are discussed in Subsection 3.2. As a remedy, a simple and robust algorithm on fault delays is presented. The discussion of applicable approach allowing handling multiple faults [9] is given in Subsection 3.3. The industrial pilot applications with use of advanced diagnostic and monitoring systems AMandD [16] and DiaSter [19] are presented in the summary part (Section 4). These systems make use, among others, from approaches presented in this paper.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 7, 7; 801-805
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Stimulus with limited band optimization for analogue circuit testing
Autorzy:
Golonek, T.
Jantos, P.
Rutkowski, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221641.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
analogue circuit testing
faults isolation
evolutionary computations
amplitude spectrum
Opis:
The paper presents an analogue circuit testing method that engages the analysis of the time response to a nonperiodic stimulus specialized for the verification of selected specifications. The decision about the current circuit diagnostic state depends on an amplitude spectrum decomposition of the time response measured during the test. A shape of the test excitation spectrum is optimized with the use of a differential evolution algorithm and it allows for achieving maximum fault coverage and the optimal conditions for fault isolation. Genotypes of the evolutionary system encode the amplitude spectrum of candidates for testing stimuli by means of rectangle frequency windows with amplitudes determined evolutionarily.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2012, 19, 1; 73-84
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies