The paper presents an analogue circuit testing method that engages the analysis of the time response to a nonperiodic stimulus specialized for the verification of selected specifications. The decision about the current circuit diagnostic state depends on an amplitude spectrum decomposition of the time response measured during the test. A shape of the test excitation spectrum is optimized with the use of a differential evolution algorithm and it allows for achieving maximum fault coverage and the optimal conditions for fault isolation. Genotypes of the evolutionary system encode the amplitude spectrum of candidates for testing stimuli by means of rectangle frequency windows with amplitudes determined evolutionarily.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00