Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "electron emission" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-12 z 12
    Tytuł:
    Field emission and microstructural characterization of diamond films deposited by HF CVD method
    Emisja polowa i charakterystyka mikrostruktury warstw diamentowych nanoszonych przy użyciu metody HF CVD
    Autorzy:
    Jarzyńska, D.
    Staryga, E.
    Znamirowski, Z.
    Fabisiak, K.
    Gotszalk, T.
    Woszczyna, M.
    Strzelecki, W.
    Dłużniewski, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/296561.pdf
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Politechnika Łódzka. Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
    Tematy:
    warstwa diamentowa
    domieszkowanie
    emisja elektronowa
    diamond film
    doping
    electron emission
    Opis:
    Electron emission from diamond films (DF) deposited using HF CVD technique on silicon substrates has been studied. The field emission characteristics were analyzed using the Fowler-Nordheim model. The diamond films were also characterized by Scanning Electron Microscopy (SEM), Atomic Force Microscopy (AFM), Raman Spectroscopy (RS) and Electron Spin Resonance (ESR) techniques. The correlation between electron field emission of investigated films, Raman spectra and concentration of paramagnetic centres has been discussed. The electron emission properties of diamond films improved after doping with nitrogen. The field emission was obtained at turn-on electric field equal to about 10 V/µm and about 3 V/µm, for undoped diamond films and N-doped diamond films, respectively. It seems that the change of turn-on field values and other emissive properties of thin diamond layers may be caused by different content of non-diamond phase (e.g. graphite phase) induced by doping.
    Przeprowadzono badania emisji polowej z warstw diamentowych osadzonych przy użyciu metody HF CVD na podłożach krzemowych typu n i p. Charakterystyki emisyjne analizowano na podstawie modelu Fowlera-Nordheima. Wytworzone warstwy scharakteryzowano przy użyciu następujących metod: SEM, AFM, spektroskopii Ramana i Elektronowego Rezonansu Spinowego (ESR). Przeprowadzono dyskusję wyników, wskazując na korelację pomiędzy wynikami emisji polowej a koncentracją centrów paramagnetycznych oraz widmami ramanowskimi badanych warstw diamentowych. Zaobserwowano znaczną poprawę właściwości emisyjnych heterostruktur, w których warstwa diamentowa domieszkowana została azotem. Dla układów z niedomieszkowanymi warstwami diamentowymi wartość natężenia pola włączeniowego wynosiła około 10 V/ µm, zaś dla domieszkowanych azotem warstw diamentowych wartość ta równa jest 3 V/µm. Różnice w wartościach pola włączeniowego dla odpowiednich układów wynikają prawdopodobnie z różnej zawartości materii grafito-podobnej w badanych warstwach diamentowych. Warstwy domieszkowane azotem są silnie zdefektowane i zawierają znaczną ilość materii grafitopodobnej.
    Źródło:
    Scientific Bulletin. Physics / Technical University of Łódź; 2007, 28; 13-26
    1505-1013
    2449-982X
    Pojawia się w:
    Scientific Bulletin. Physics / Technical University of Łódź
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Investigations of electron emission from DLC thin films deposited by means of RF PCVD at various self-bias voltages
    Autorzy:
    Jarzyńska, D.
    Znamirowski, Z.
    Cłapa, M.
    Starga, E.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/308665.pdf
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
    Tematy:
    DCL
    RF PACVD
    Raman spectroscopy
    turn-on field
    electron emission
    effective work function
    Opis:
    The aim of this paper is to report the results of field emission experiments on undoped, flat diamond-like carbon (DLC) thin films deposited at various self-bias voltages using radio frequency plasma chemical vapor deposition (RF PCVD) technique. It has been observed that the emission properties improve when the absolute value of self-bias voltage becomes higher, e.g., the turn-on field value decreases. The correlation between electron field emission and sp2 content in these films showed improvement of electron emission properties of DLC films for higher amount of sp2 phase.
    Źródło:
    Journal of Telecommunications and Information Technology; 2007, 3; 39-43
    1509-4553
    1899-8852
    Pojawia się w:
    Journal of Telecommunications and Information Technology
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Electron optics column for a new MEMS-type transmission electron microscope
    Autorzy:
    Krysztof, M.
    Grzebyk, T.
    Górecka-Drzazga, A.
    Adamski, K.
    Dziuban, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/201167.pdf
    Data publikacji:
    2018
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    MEMS
    miniature TEM
    electron emission
    focusing of electron beam
    electron optics column
    emisja elektronów
    ogniskowanie
    wiązka elektronów
    mikrostruktura TEM
    Opis:
    The concept of a miniature transmission electron microscope (TEM) on chip is presented. This idea assumes manufacturing of a silicon-glass multilayer device that contains a miniature electron gun, an electron optics column integrated with a high vacuum micropump, and a sample microchamber with a detector. In this article the field emission cathode, utilizing carbon nanotubes (CNT), and an electron optics column with Einzel lens, made of silicon, are both presented. The elements are assembled with the use of a 3D printed polymer holder and tested in a vacuum chamber. Effective emission and focusing of the electron beam have been achieved. This is the first of many elements of the miniature MEMS (Micro-Electro-Mechanical System) transmission electron microscope that must be tested before the whole working system can be manufactured.
    Źródło:
    Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2018, 66, 2; 133-137
    0239-7528
    Pojawia się w:
    Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Digital approach to thermionic emission current to voltage conversion for high-voltage sources of electrons
    Cyfrowe podejście do metody konwersji natężenia prądu termoemisji elektronowej na napięcie dla wysokonapięciowych źródeł elektronów
    Autorzy:
    Kania, Bartosz
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/2174741.pdf
    Data publikacji:
    2022
    Wydawca:
    Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
    Tematy:
    electron emission
    electron source
    control system synthesis
    digital control
    emisja elektronów
    źródło elektronów
    synteza systemu sterowania
    sterowanie cyfrowe
    Opis:
    The thermionic emission current is used in many vacuum devices such as evaporators, rare gas excimers, or electron beam objects for highenergy physics. The stability of the thermionic emission current is a very important requirement for the accuracy of those devices. Hence, there is a number of control systems that use a feedback signal directly proportional to the emission current in order to stabilize the thermionic emission current. Most of them use feedback from a high-voltage anode circuit to a low-voltage cathode circuit. However, there is a novel solution that uses linear cathode current distribution and processing of two cathode circuit voltage signals for converting the emission current to voltage. However, it is based on old-fashioned analog technology. This paper shows the thermionic emission current to voltage conversion method with the use of a digital control system. A digital realization of a multiplicative-additive algorithm is presented and proper work in closed-loop mode is confirmed.
    Prąd termoemisji elektronowej jest wykorzystywany w wielu przyrządach próżniowych takich jak ewaporatory, ekscymery gazów rzadkich czy w fizyce wysokich energii. Stabilność natężenia prądu termoemisji elektronowej jest ważnym wymaganiem w kontekście dokładności tych przyrządów. Istnieje wiele układów regulacji natężenia prądu termoemisji elektronowej, które używają sygnału sprzężenia zwrotnego wprost proporcjonalnego do natężenia prądu termoemisji elektronowej w celu jego stabilizacji. Większość z nich wykorzystuje sprzężenie od wysokonapięciowego obwodu anody do niskonapięciowego obwodu katody. Istnieje nowe rozwiązanie, które wykorzystuje liniowy rozkład prądu katody oraz przetwarzanie dwóch sygnałów z obwodu katody w celu konwersji natężenia prądu termoemisji na napięcie. Niestety metoda ta bazuje na przestarzałej technologii analogowej. W niniejszej pracy pokazana została konwersja natężenia prądu termoemisji elektronowej na napięcie z użyciem cyfrowego układu automatycznej regulacji. Cyfrowa realizacja algorytmu multiplikatywno-addytywnego została zaprezentowana, a poprawna praca w zamkniętej pętli sprzężenia zwrotnego potwierdzona.
    Źródło:
    Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2022, 12, 4; 78--81
    2083-0157
    2391-6761
    Pojawia się w:
    Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Vacuum microdevices
    Autorzy:
    Grzebyk, T.
    Górecka-Drzazga, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/201008.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    vacuum microsystems
    miniature vacuum pump
    field-emission electron source
    MEMS
    Opis:
    In the paper MEMS-type microsystems working in vacuum conditions are described. All the benefits and drawbacks of vacuum generated in microcavities are discussed. Different methods are used to produce vacuum in microcavity of MEMS. Some bonding techniques, sacrificial layer method or getter materials are presented. It is concluded that the best solution would be to invent some kind of vacuum micropump integrated with MEMS structure. Few types of already existing vacuum micropumps are shown, but they are not able to generate high vacuum. As the most promising candidate for miniaturization an orbitron pump was selected. The working principle and novel concepts of its construction are described. The most important part of the micropump, used for gas ionization, is a field-emission electron source. Results of a research on a lateral electron source with gold emissive layer for integration with a micropump are presented.
    Źródło:
    Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2012, 60, 1; 19-23
    0239-7528
    Pojawia się w:
    Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Stabilizacja wybranych parametrów strumienia termoelektronów w gazowych źródłach jonów
    Stabilization of selected parameters electron beam ion sources
    Autorzy:
    Kuś, D.
    Sikora, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/408179.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
    Tematy:
    próżnia
    jonizacja
    prąd termoemisji elektronowej
    energia elektronów
    stabilizator
    próżniomierz jonizacyjny
    spektrometr mas
    vacuum
    ionization
    thermionic electron emission current
    electron energy
    stabilizer
    ionization gauge
    mass spectrometer
    Opis:
    W pracy przedstawiono przegląd rozwiązań stosowanych w próżniomierzach jonizacyjnych i spektrometrach mas wykorzystujących strumień termoelektronów do jonizacji materii w postaci gazowej, w szczególności przykłady konstrukcji źródeł jonów oraz układów polaryzacji ich elektrod. Na podstawie wyników przeprowadzonej analizy zaproponowano nowy sposób detekcji prądu termoemisji elektronowej dla układów stabilizacji natężenia strumienia i energii elektronów.
    This paper presents an overview of the vacuum measurement instruments using electron - impact gas ion sources, especially examples of the ion sources and biasing systems. Based on the analysis results a new thermionic emission current detection method to implementation in stabilizer of ionizing beam intensity and electron energy has been proposed.
    Źródło:
    Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2012, 4a; 15-17
    2083-0157
    2391-6761
    Pojawia się w:
    Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analiza wrażliwościowa spektrometru mas z innowacyjnym układem polaryzacji źródła elektronów
    Sensitivity analysis of mass spectrometer with innovative biasing system ofin an electron source
    Autorzy:
    Sikora, J.
    Szczepaniak, L.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/155334.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    wrażliwość
    spektrometr mas
    układ polaryzacji
    prąd emisji elektronowej
    napięcie przyśpieszające
    sensitivity
    mass spectrometer
    biasing system
    ion current
    electron emission current
    accelerating voltage
    Opis:
    Praca prezentuje wyniki badań wrażliwości spektrometru mas z nowatorskim układem polaryzacji źródła elektronów, zapewniającym niezależny dobór natężenia prądu emisji elektronowej i napięcia przyśpieszającego elektrony. Dzięki takiemu rozwiązaniu możliwe jest wyznaczenie wrażliwości natężenia prądu jonowego niezależnie względem natężenia prądu emisji elektronowej i napięcia przyśpieszającego elektrony. Badania objęły również pozostałe charakterystyki spektrometru mas oraz wrażliwości natężenia prądu jonowego względem ciśnienia i napięcia przyspieszającego jony. Wyniki potwierdzają zalety nowego rozwiązania w spektrometrze mas.
    The sensitivity measurement results of a mass spectrometer (Fig. 1) with an innovative biasing system in an electron source [1] are presented. The biasing system ensures that an accelerating voltage and an electron emission current are independent of each other. Owing to that, the sensitivity of an ion current versus the electron emission current (Fig. 2), and independently versus the electron accelerating voltage (Fig. 3) can be determined. The researches included the determination of the mass spectrometer characteristics and sensitivity of the ion current in function of a pressure (Fig. 4.) and the ion current in function of an ion accelerating voltage (Fig. 5, Fig. 6). The results confirm that new biasing system is highly suitable for the mass spectrometer.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 3, 3; 256-259
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Measurements of fast electron beams and soft X-ray emission from plasma-focus experiments
    Autorzy:
    Surała, W.
    Sadowski, M. J.
    Kwiatkowski, R.
    Jakubowski, L.
    Żebrowski, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/147850.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
    Tematy:
    electron beams
    X-ray emission
    plasma focus
    hot spots
    Opis:
    The paper reports results of the recent experimental studies of pulsed electron beams and soft X-rays in plasma-focus (PF) experiments carried out within a modifi ed PF-360U facility at the NCBJ, Poland. Particular attention was focused on time-resolved measurements of the fast electron beams by means of two different magnetic analyzers, which could record electrons of energy ranging from about 41 keV to about 715 keV in several (6 or 8) measuring channels. For discharges performed with the pure deuterium fi lling, many strong electron signals were recorded in all the measuring channels. Those signals were well correlated with the fi rst hard X-ray pulse detected by an external scintillation neutron-counter. In some of the analyzer channels, electron spikes (lasting about dozens of nanoseconds) and appearing in different instants after the current peculiarity (so-called current dip) were also recorded. For several discharges, fast ion beams, which were emitted along the z-axis and recorded with nuclear track detectors, were also investigated. Those measurements confi rmed a multibeam character of the ion emission. The time-integrated soft X-ray images, which were taken side-on by means of a pinhole camera and sensitive X-ray fi lms, showed the appearance of some fi lamentary structures and so-called hot spots. The application of small amounts of admixtures of different heavy noble gases, i.e. of argon (4.8% volumetric), krypton (1.6% volumetric), or xenon (0.8% volumetric), decreased intensity of the recorded electron beams, but increased intensity of the soft X-ray emission and showed more distinct and numerous hot spots. The recorded electron spikes have been explained as signals produced by quasi-mono-energetic microbeams emitted from tiny sources (probably plasma diodes), which can be formed near the observed hot spots.
    Źródło:
    Nukleonika; 2016, 61, 2; 161-167
    0029-5922
    1508-5791
    Pojawia się w:
    Nukleonika
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Wear characteristics and defects analysis of friction stir welded joint of aluminium alloy 6061-T6
    Charakterystyka zużycia i analiza uszkodzeń złącza ze stopu aluminium 6061-T6 zgrzewanego tarciowo z przemieszaniem
    Autorzy:
    Kumar, R.
    Chattopadhyaya, S.
    Hloch, S.
    Krolczyk, G.
    Legutko, S.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1365830.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    friction stir welding (FSW)
    wear
    defect
    grinding machine
    field emission scanning electron microscope (FESEM)
    zgrzewanie tarciowe z przemieszaniem
    zużycie
    uszkodzenie
    szlifierka
    mikroskopy polowe
    Opis:
    This paper deals with the wear characteristics and defects developed during friction stir welding at different process parameter of aluminium alloy (AA) 6061-T6 having thickness 6 mm. Four welded samples are prepared with rotational speed 500 rpm, 710 rpm, 1000 rpm and with welding speed of 25 mm/min & 40 mm/min. Welded samples and base material are put in wear condition under grinding machine for 120 s. Material removal is measure by taking the difference of weight before and after wear. Different types of defects and fracture are observed on the wear surface. These defects and fractures are analysed under field emission scanning electron microscope (FESEM). It is concluded that material removal from welded sample is less compared to base metal, hence wear resistance increases after friction stir welding.
    Praca dotyczy charakterystyki zużycia i uszkodzeń podczas zgrzewania tarciowego z przemieszaniem stopu aluminium (AA) 6061T6 o grubości 6 mm dla zmiennych parametrów. Cztery zgrzewane próbki były wykonane z prędkością obrotową 500 obr/min, 710 obr/min, 1000 obr/min dla prędkości zgrzewania 25 mm/min i 40 mm/min. Zgrzewane próbki i materiał bazowy były poddawane zużywaniu za pomocą szlifierki w czasie 120 s. Ubytek materiału mierzono jako różnicę wagi przed i po zużywaniu. Różne rodzaje wad i pęknięć zaobserwowano na zużytej powierzchni. Wady i pęknięcia analizowano za pomocą mikroskopu polowego (FESEM). Stwierdzono, że ubytek materiału ze zgrzewanych próbek jest mniejszy w porównaniu z ubytkiem dotyczącym materiału bazowego. Zwiększa się więc odporność na zużycie po zgrzewaniu tarciowym z przemieszaniem.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2016, 18, 1; 128-135
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Pre-treatment effect on the structure of bacterial cellulose from Nata de Coco (Acetobacter xylinum)
    Wpływ wstępnej obróbki na strukturę celulozy bakteryjnej z Nata de Coco (Acetobacter xylinum)
    Autorzy:
    Rusdi, Rusaini Athirah Ahmad
    Halim, Norhana Abdul
    Nurazzi, Mohd Norizan
    Abidin, Zul Hazrin Zainal
    Abdullah, Norli
    Che Ros, Fadhlina
    Ahmad, Nurazlin
    Azmi, Ahmad Farid Mohd
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/2088276.pdf
    Data publikacji:
    2022
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Chemii Przemysłowej
    Tematy:
    bacterial cellulose
    structure
    X-ray diffraction
    Fourier transform infrared spectroscopy
    field emission scanning electron microscopy
    celuloza bakteryjna
    struktura
    dyfrakcja rentgenowska
    spektroskopia w podczerwieni z transformacją Fouriera
    skaningowa mikroskopia elektronowa z emisją polową
    Opis:
    This paper presents a structural analysis of various methods to produce bacterial cellulose (BC) from Nata de Coco (Acetobacter xylinum). BC sheet, BC chem and BC mech powders were successfully prepared using oven drying, chemical and mechanical treatment. The X-ray diffraction (XRD), Fourier transform infrared (FTIR) spectroscopy, and field emission scanning electron microscopy (FESEM) were used to analyze the structure of prepared BC. The structure of bacterial cellulose was compared with the structure of commercial microcrystalline cellulose (MCC) and cotton fabric. The XRD results showed that the BC sheet sample had the highest degree of crystallinity (81.76%) compared to cotton cellulose (75.73%). The crystallite size of cotton was larger than the BC sheet, with the value of 6.83 ηm and 4.55 ηm, respectively. The peaks in the FTIR spectra of all BC were comparable to the commercial MCC and cotton fabrics. FESEM images showed that the prepared BC sheet, BC mech, and BC chem had an almost similar structure like commercial MCC and cotton fabric. It was concluded that simple preparation of BC could be implemented and used for further BC preparation as reinforcement in polymer composites, especially in food packaging.
    Niniejszy artykuł zawiera analizę struktury celulozy bakteryjnej (BC) wytworzonej z Nata de Coco (Acetobacter xylinum) różnymi metodami. Folia BC i proszki BC chem oraz BC mech zo -stały wytworzone poprzez suszenie w piecu, obróbkę chemiczną i mechaniczną. Do oceny struktury celulozy bakteryjnej stosowano dyfrakcję rentgenowską (XRD), spektroskopię Fouriera w podczerwieni (FTIR) i skaningową mikroskopię elektronową z emisją polową (FESEM). Strukturę celulozy bakteryjnej porównano ze strukturą handlowej celulozy mikrokrystalicznej (MCC) i tkaniny bawełnianej. Wyniki XRD wykazały, że najwyższy stopień krystaliczności miała próbka arkusza BC (81,76%) w porównaniu z celulozą bawełnianą (75,73%). Wielkość krystalitów bawełny była większa niż folii BC i wynosiła, odpowiednio, 6,83 ηm oraz 4,55 ηm. Piki widm FTIR wszystkich otrzymanych form celulozy bakteryjnej były porównywalne z komercyjnymi tkaninami bawełnianymi i z celulozy mikrokrystalicznej. Zdjęcia FESEM folii BC oraz proszków BC mech i BC chem również były podobne do komercyjnej MCC i tkaniny bawełnianej. Stwierdzono, że z wykorzystaniem prostych technik można otrzymać BC, która może być stosowana jako wzmocnienie w kompozytach polimerowych, w szczególności w opakowaniach do żywności.
    Źródło:
    Polimery; 2022, 67, 3; 110--118
    0032-2725
    Pojawia się w:
    Polimery
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Optical emission spectroscopy of plasma streams in PF-1000 experiments
    Autorzy:
    Jakubowska, K.
    Kubkowska, M.
    Skladnik-Sadowska, E.
    Malinowski, K.
    Marchenko, A. K.
    Paduch, M.
    Sadowski, M. J.
    Scholz, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/146628.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
    Tematy:
    dense plasma focus (DPF)
    optical emission spectroscopy
    deuterium Balmer series
    Ar II lines
    electron density
    Boltzmann plot
    Opis:
    The optical spectroscopy in the visible range was used to determine properties of the dense magnetized plasma generated in the PF-1000, a 1 MJ plasma focus device operating in the Institute of Plasma Physics and Laser Microfusion (IPPLM) in Warsaw, Poland. The experiments were performed in a vacuum chamber pumped out to the basic pressure of 2 x 10.5 hPa. The initial pressure of the pure deuterium filling was 2.9 hPa, while that of the deuterium--argon mixture was 1.07 hPa of D2 and 0.13 hPa of Ar. The deuterium-plasma emission contained the Balmer series (Dalfa, Dbeta and Dgamma) and a few distinct copper (Cu I) lines originating from the inner electrode material. The emission of the deuterium-argon plasma was rich in Ar II lines. The electron density (ne), averaged over line of sight, of order of 1016 cm.3 was calculated on the basis of the Dalfa and Dbeta emission only, because the D�ż line was strongly self-absorbed. A group of the Ar II spectral lines was used to estimate the excitation temperature (Texc = 3 eV) by means of a Boltzmann plot. Additionally, the temporal evolution of the electron density was determined on basis of the Stark broadening of the Dalfa and Dgamma lines.
    Źródło:
    Nukleonika; 2011, 56, 2; 125-129
    0029-5922
    1508-5791
    Pojawia się w:
    Nukleonika
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Druga rewolucja w konstrukcji lamp rentgenowskich
    The second revolution in the design of X-ray tubes
    Autorzy:
    Jezierski, Grzegorz
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/2171856.pdf
    Data publikacji:
    2022
    Wydawca:
    Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
    Tematy:
    lampa wyładowcza
    lampa rentgenowska Coolidge’a
    źródło elektronów
    termoemisja
    emisja polowa
    nanotechnologia MEMS
    nanorurki węglowe
    mikroostrze
    discharge tubes
    Coolidge X-ray tube
    electron source
    thermoemission
    field emission
    MEMS
    nanotechnology
    carbon nanotubes
    micro-tips
    Opis:
    W artykule przedstawiono najnowsze osiągnięcia w konstrukcji lamp rentgenowskich, które można określić drugą rewolucją. Mianowicie podstawowy problem jaki stwarzają dotychczasowe rozwiązania wynikające ze stosowania termicznego źródła elektronów (m.in. problem chłodzenia, sterowania pracą lampy) został rozwiązany poprzez wykorzystanie nanotechnologii do konstrukcji innowacyjnych źródeł elektronów w oparciu o emisję polową (nanorurki węglowe czy mikro-ostrza).
    The article presents the latest achievements in the design of X-ray tubes, which can be described as the second revolution. Namely, the basic problem posed by the current solutions resulting from the use of a thermal electron source (including the problem of cooling, tubes control) has been solved by using nanotechnology to construct innovative electron sources based on field emission (carbon nanotubes or micro-tips).
    Źródło:
    Postępy Techniki Jądrowej; 2022, 4; 23--30
    0551-6846
    Pojawia się w:
    Postępy Techniki Jądrowej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-12 z 12

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies