Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "analogue circuit testing" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Stimulus with limited band optimization for analogue circuit testing
Autorzy:
Golonek, T.
Jantos, P.
Rutkowski, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221641.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
analogue circuit testing
faults isolation
evolutionary computations
amplitude spectrum
Opis:
The paper presents an analogue circuit testing method that engages the analysis of the time response to a nonperiodic stimulus specialized for the verification of selected specifications. The decision about the current circuit diagnostic state depends on an amplitude spectrum decomposition of the time response measured during the test. A shape of the test excitation spectrum is optimized with the use of a differential evolution algorithm and it allows for achieving maximum fault coverage and the optimal conditions for fault isolation. Genotypes of the evolutionary system encode the amplitude spectrum of candidates for testing stimuli by means of rectangle frequency windows with amplitudes determined evolutionarily.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2012, 19, 1; 73-84
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies