Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Vector Network Analyzer" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-3 z 3
    Tytuł:
    Measuring Impedances of DC-biased Inductors by Using Vector Network Analyzers
    Autorzy:
    Asmanis, G.
    Stepins, D.
    Asmanis, A.
    Ribickis, L.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/226614.pdf
    Data publikacji:
    2019
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    vector network analyzer
    impedance
    inductor
    measurements
    accuracy
    bias tee
    Opis:
    This paper is devoted to a detailed experimentally based analysis of applicability of vector network analyzers for measuring impedance of surface mount inductors with and without DC bias. The measurements are made using custom-made bias tees and a test fixture with an ordinary vector network analyzer. The main attention in the analysis is focused on measurement accuracy of an impedance of surface mount inductors. Measurement results obtained with a vector network analyzer will also be compared to those obtained by using an impedance analyzer based on auto-balancing bridge method.
    Źródło:
    International Journal of Electronics and Telecommunications; 2019, 65, 3; 375-380
    2300-1933
    Pojawia się w:
    International Journal of Electronics and Telecommunications
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    A six-port measurement device for high power microwave vector network analysis
    Autorzy:
    Kommey, Benjamin
    Addo, Ernest Ofosu
    Tamakloe, Elvis
    Tchao, Eric Tutu
    Nunoo-Mensah, Henry
    Akowuah, Bright Yeboah
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/38436703.pdf
    Data publikacji:
    2022
    Wydawca:
    Polskie Towarzystwo Promocji Wiedzy
    Tematy:
    vector network analyzer
    microwave device
    S-Band network
    reflection coefficient
    waveguide
    Opis:
    The changes experienced in technology due to the third industrial revolution have over the years contributed immensely to the development of efficient devices and systems. As a result, solutions have been provided to challenges encountered in the heating industry. However, higher efficiency and better performance has undoubtedly been highly sort after. This paper presents the complete industrial development of a new system of a microwave device for use in S-band networks (2.45 GHz ISM band in this application): a vector network analyzer (VNA). The VNA, which is designed based on the six-port measurement principle, provides accurate measurements of both magnitude and phase of the load reflection coefficient. The device is designed to have high power handling capabilities and works under the full operating conditions of high-power microwave generators. Initial measurements show that the device perform stable and can perform temperature-independent measurements over protracted periods. The system is suited for on-line monitoring and control of network parameters in industrial waveguide applications.
    Źródło:
    Applied Computer Science; 2022, 18, 3; 105-129
    1895-3735
    2353-6977
    Pojawia się w:
    Applied Computer Science
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Vector Analysis of Electrical Networks for Temperature Measurement of MOS Power Transistors
    Zastosowanie analizy wektorowej sieci elektrycznych do pomiaru temperatury tranzystorów MOS
    Autorzy:
    Torzyk, Błażej
    Więcek, Bogusław
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/2068667.pdf
    Data publikacji:
    2021
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
    Tematy:
    Vector Network Analyzer
    IR camera measurement
    S-parameter
    MOS transistor
    electrical impedance
    VNA
    Wektorowy Analizator Sieci
    temperatura
    parametry rozpraszania
    parametry S
    tranzystor MOS
    impedancja elektryczna
    pomiary termowizyjne
    Opis:
    The article presents the concept of using VNA (Vector Network Analyzer) to measure the temperature of the MOS transistor junction. The method assumes that the scattering parameters of the network consisting of the transistor depend on the temperature. The tests confirmed the influence of temperature on the S11 parameter and the input network capacity during ambient temperature changes in the range of 35-70°C. Measurements were made for the gate-source (G-S) input of the system. The measurements were carried-out with the transistor in the ON/OFF states. In order to validate the measurements, the temperature of the tested element was recorded with the MWIR Cedip-Titanium thermal imaging camera.
    W artykule przedstawiono koncepcję wykorzystania wektorowego analizatora sieci VNA (ang. Vector Network Analyzer) do pomiaru temperatury złącza tranzystora MOS. Metoda zakłada, że parametry rozpraszania sieci elektrycznych wewnętrznych struktur tranzystora zależą od temperatury. Badania potwierdziły wpływ temperatury na parametr S11 oraz na pojemność wejściową przy zmianie wartości temperatury otoczenia w zakresie 35-70°C. Pomiary wykonano dla wejścia bramka-źródło (G-S) układu. Pomiary przeprowadzono z tranzystorem w stanach ON/OFF. W celu walidacji pomiarów, temperaturę badanego elementu rejestrowano kamerą termowizyjną MWIR Cedip-Titanium.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Robotyka; 2021, 25, 4; 83--87
    1427-9126
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Robotyka
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-3 z 3

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies