Temat: VNA - Katalog OPAC zbiorów

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: The Computer VNA Assisted Measurements of the UTP Cable Transmitting Wide Range Frequency Signals up to 100 MHZ
Autorzy:: Matusiak, M.
Cader, A.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/108750.pdf
Data publikacji:: 2009
Wydawca:: Społeczna Akademia Nauk w Łodzi
Tematy:: VNA
VNA program
impedance measurement
UTP cable
transmitting line
computer measurement
Opis:: The paper describes some possibilities of the Unshielded Twisted Pair (UTP) cable as an universal signal transmitting line at the range of radiofrequencies from 0,1 to 100 MHz. Four pairs of the UTP in the subject of the impedance of the line with the different load were examined. The Vector Network Analyzer was used as a base measurement equipment [1,2]. Results are clearly shown using charts from the freeware IG-miniVNA computer program. The final experiments conclusion presents the UTP 5e category as a good general purpose transmitting line for universal 100 ohm impedance sources and loads [3].
Źródło:: Journal of Applied Computer Science Methods; 2009, 1 No. 2; 85-91
1689-9636
Pojawia się w:: Journal of Applied Computer Science Methods
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Developing RF Power Sensor Calibration Station in Direct Comparison Transfer System using Vector Network Analyzer
Autorzy:: Szatkowski, Jarosław
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/1839334.pdf
Data publikacji:: 2021
Wydawca:: Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:: direct comparison transfer
microwave power measurement
power sensor calibration
measurement uncertainty
VNA
Opis:: Calibration of RF power sensors is crucial issue in RF power measurements. Many calibration laboratories use the direct comparison transfer system with a signal generator and a power splitter. Increasing performance of modern vector network analyzers makes it possible to perform a power sensor calibration with acceptable uncertainties. The main advantage when using a VNA is a simple measurement setup with a wide frequency range (up to 50 GHz, limited only by the VNA and the standard power sensor), where all of required components, i.e. signal generator, a directional coupler and a reference power indicator are built in the VNA technology. This paper reports performing a VNA-based RF power sensors calibration for 10 MHz – 18 GHz band, carried out in the Laboratory of Electric, Electronic and Optoelectronic Metrology at the National Institute of Telecommunications in Warsaw, Poland. In order to validate the proposed solution two of power sensors were calibrated at a reference laboratory. The validation consisted of two steps. At first, one of those characterized power sensors was calibrated at our laboratory in direct comparison transfer system. Finally, the results obtained from the VNA-based system were compared with the previously obtained ones.
Źródło:: Journal of Telecommunications and Information Technology; 2021, 3; 18-22
1509-4553
1899-8852
Pojawia się w:: Journal of Telecommunications and Information Technology
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Vector Analysis of Electrical Networks for Temperature Measurement of MOS Power Transistors
Zastosowanie analizy wektorowej sieci elektrycznych do pomiaru temperatury tranzystorów MOS
Autorzy:: Torzyk, Błażej
Więcek, Bogusław
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/2068667.pdf
Data publikacji:: 2021
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
Tematy:: Vector Network Analyzer
IR camera measurement
S-parameter
MOS transistor
electrical impedance
VNA
Wektorowy Analizator Sieci
temperatura
parametry rozpraszania
parametry S
tranzystor MOS
impedancja elektryczna
pomiary termowizyjne
Opis:: The article presents the concept of using VNA (Vector Network Analyzer) to measure the temperature of the MOS transistor junction. The method assumes that the scattering parameters of the network consisting of the transistor depend on the temperature. The tests confirmed the influence of temperature on the S11 parameter and the input network capacity during ambient temperature changes in the range of 35-70°C. Measurements were made for the gate-source (G-S) input of the system. The measurements were carried-out with the transistor in the ON/OFF states. In order to validate the measurements, the temperature of the tested element was recorded with the MWIR Cedip-Titanium thermal imaging camera.
W artykule przedstawiono koncepcję wykorzystania wektorowego analizatora sieci VNA (ang. Vector Network Analyzer) do pomiaru temperatury złącza tranzystora MOS. Metoda zakłada, że parametry rozpraszania sieci elektrycznych wewnętrznych struktur tranzystora zależą od temperatury. Badania potwierdziły wpływ temperatury na parametr S11 oraz na pojemność wejściową przy zmianie wartości temperatury otoczenia w zakresie 35-70°C. Pomiary wykonano dla wejścia bramka-źródło (G-S) układu. Pomiary przeprowadzono z tranzystorem w stanach ON/OFF. W celu walidacji pomiarów, temperaturę badanego elementu rejestrowano kamerą termowizyjną MWIR Cedip-Titanium.
Źródło:: Pomiary Automatyka Robotyka; 2021, 25, 4; 83--87
1427-9126
Pojawia się w:: Pomiary Automatyka Robotyka
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Informacja

Wyszukujesz frazę "VNA" wg kryterium: Temat

Źródło danych

Dostawca treści

Kolekcja

Rok wydania

Wydawca

Temat

Autor

Typ dokumentu

Język