Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "RTS noise" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-6 z 6
    Tytuł:
    Investigation of RTS noise in reverse polarized Silicon Carbide Schottky diodes
    Badanie szumów RTS w diodach SiC spolaryzowanych w kierunku zaporowym
    Autorzy:
    Szewczyk, A.
    Stawarz-Graczyk, B.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/266700.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
    Tematy:
    szumy RTS
    dioda Schottky'ego
    RTS noise
    Schottky diodes
    Opis:
    One of the method of electronic device quality and reliability evaluation is observation of its inherent noise. Generally, the inherent noise of semiconductor device consists of Gaussian (i.e. 1/f, shot noise) and non-Gaussian components (i.e. random telegraph signal, RTS). The RTS phenomena usually indicates the presence of large defects in the structure of the material of the device, therefore it can be treated as an indicator of technology quality. In the paper authors present results of RTS investigations in reverse polarized Silicon Carbide Schottky diodes. Devices being studied are commercially available diodes with reverse voltage UR = 600 V. The RTS was observed during device stress by applying high voltage for several minutes and the change in signal parameters were studied.
    Jedną z metod do badania jakości i niezawodności elementów elektronicznych jest obserwacja ich szumów własnych, które zawierają składową gaussowską (szum typu 1/f, szum śrutowy) oraz składową niegaussowską (szum RTS). Obecność szumu RTS zazwyczaj wskazuje na defekty w strukturze materiału, z którego jest wykonany element, ale jednocześnie może być doskonałym wskaźnikiem jakości badanego elementu. W artykule autorzy prezentują wyniki pomiarów w zaporowo spolaryzowanych diodach Schottkiego wykonanych z SiC. Badane elementy są powszechnie dostępnymi o UR = 600 V. Szum RTS był obserwowany po kilkuminutowym użytkowaniu badanego elementu w warunkach wysokiego napięcia.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2014, 40; 103-106
    1425-5766
    2353-1290
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Implementation of constant component filter in measurements of random telegraph signal noise
    Realizacja układu filtru usuwającego składową stałą w pomiarach szumów wybuchowych
    Autorzy:
    Szewczyk, A.
    Babicz, S.
    Dudziak, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/268664.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
    Tematy:
    filtr
    składowa stała
    RTS
    RTS noise
    DC filter
    active filter
    Opis:
    Noise is generated in all semiconductor devices. The intensity of these fluctuations depends on used elements, manufacturing process, operating conditions and device type. The result noise is a superposition of different kinds of fluctuations like thermal noise, generation-recombination noise, 1/f noise, shot noise and Random Telegraph Signal (RTS) noise. The last one, RTS noise is observed as nonstationary impulse fluctuations. Unfortunately, it is hard to notice and investigate the RTS because of DC component value in contradiction to small amplitude of noise impulses. In the paper a simple filtrating system which removes the DC component without AC signal distortion is presented. Example oscilloscope measurement results and their analysis are also shown.
    Szum jest generowany przez wszystkie urządzenia półprzewodnikowe. Szum wynikowy jest zwykle efektem superpozycji różnych rodzajów fluktuacji: szumu termicznego, szumu generacyjno-rekombinacyjnego, szumu 1/f i RTS. Ten ostatni, Random Telegraph Signal, jest obserwowany jako pojedyncze, niestacjonarne impulsy w badanym sygnale. Niestety, z powodu małej amplitudy oraz znacznej wartości składowej stałej, szum RTS jest bardzo trudny do obserwacji, co znacząco utrudnia jego badanie. W celu zwiększenia dokładności pomiaru, należy usunąć składową stałą z badanego sygnału. W artykule przedstawiono system odzyskujący składową stałą, a następnie odejmujący ją od sygnału wejściowego. W efekcie w sygnale wyjściowym otrzymuje się sygnał bez składowej stałej, w którym łatwiej jest zaobserwować i zbadać przebieg RTS.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2012, 31; 127-130
    1425-5766
    2353-1290
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    System identyfikacji szumów RTS transoptorów CNY17
    System for identification of RTS noise in CNY17 optocoupler devices
    Autorzy:
    Erenc, R.
    Konczakowska, A.
    Stawarz-Graczyk, B.
    Wójcik, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/267503.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
    Tematy:
    szum RTS
    transoptor
    metoda Wzorów Obrazów Szumów (WOS)
    RTS noise
    optocoupler device
    Noise Scattering Pattern (NSP) method
    Opis:
    W artykule opisano zaprojektowany i wykonany system do identyfikacji szumów wybuchowych (RTS – Random Telegraph Signal) występujących w transoptorach typu CNY17. Z metod umożliwiających ocenę parametrów szumów wybuchowych wybrano do realizacji metodę Wzorów Obrazów Szumów – WOS (ang. Noise Scattering Patterns – NSP), która w sposób bardzo prosty pozwala na rozpoznawanie szumów o rozkładach wartości chwilowych gaussowskich i niegaussowskich. Zaprojektowany system składa się z części analogowej umożliwiającej pomiar parametrów sygnału szumowego transoptorów oraz części cyfrowej realizującej przetwarzanie sygnału szumowego. System automatycznie testuje transoptory CNY17, przetwarza uzyskane dane, które następnie są prezentowane na wyświetlaczu graficznym.
    In the paper the universal system for identification of Random Telegraph Signal (RTS) noise as a non-Gaussian component of the inherent noise signal in CNY17 optocoupler devices is presented. To identification of RTS noise the Noise Scattering Patterns (NSP) method was chosen. The method allows to identify the Gaussian and non-Gaussian distributions of noise temporary values in a very simple way. Impulses are characterized by constant amplitude and random occurrence of impulses. The system consists of two main parts: the measurement circuit and a data acquisition circuit. The system automatically tests optocouplers and the results are presented on graphic display of the device.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2015, 46; 31-34
    1425-5766
    2353-1290
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Reduction of random telegraph signal (RTS) noise in CMOS image sensors using histogram analysis
    Autorzy:
    bin Mustafa, M. A.
    Itoh, S.
    Kawahito, S.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/385238.pdf
    Data publikacji:
    2009
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
    Tematy:
    histogram analyses
    random telegraph signal (RTS) noise
    CMOS image sensor
    low-noise
    estimated amplitude
    Opis:
    The paper presents column parallel signal processing techniques for reducing Random Telegraph Signal (RTS) noise of in-pixel source follower by using histogram analysis for the development of a very low-noise CMOS image sensor. In this method, a histogram with multiple samples for reset level is used to estimate the amplitude of the RTS noise. With the median of the histogram and the estimated amplitude, the RTS noise components are removed and the average is calculated with the histogram due to thermal noise only, to further reduce the noise level. Result of the application of the histogram-based noise suppres-sion to an implemented CMOS image sensor prototype for a large sampling numbers is demonstrated.
    Źródło:
    Journal of Automation Mobile Robotics and Intelligent Systems; 2009, 3, 4; 202-203
    1897-8649
    2080-2145
    Pojawia się w:
    Journal of Automation Mobile Robotics and Intelligent Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    System do pomiaru szumów elementów optoelektroniczncych w szerokim zakresie prądów
    Optoelectronic devices noise measurement set-up in wide diode current range
    Autorzy:
    Sprawka, D.
    Stawarz-Graczyk, B.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/267697.pdf
    Data publikacji:
    2017
    Wydawca:
    Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
    Tematy:
    szum typu 1/f
    szumy wybuchowe
    dioda LED
    transoptor
    1/f noise
    RTS noise
    LED
    optocoupler
    Opis:
    W artykule zostanie zaprezentowany opis systemu pomiarowego zawierającego zaprojektowaną głowicę pomiarową do pomiarów szumów generowanych przez elementy optoelektroniczne. Przedstawione zostaną wyniki testów funkcjonowania systemu pomiarowego dla diod LED dla prądu wynoszącego ID = 2 mA. Pomiar odbywał się w zakresie małych częstotliwości czyli do 1 kHz. Głowica pomiarowa została zbudowana w sposób minimalizujący wpływ zakłóceń zewnętrznych na działanie układu.
    In the paper authors present a special measurement set-up which allows for optoelectronic devices noise measurements. Authors will test the system using LEDs for ID = 2 mA and in frequency range of 1 kHz. The measurement set-up was built in a way to avoid external noise. For research authors chose a group colour LEDs. In the following paper authors present the measurement results of power spectrum density function and time function for the optoelectronic devices.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2017, 57; 131-134
    1425-5766
    2353-1290
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Metody analizy szumu telegrafistów przyrządów półprzewodnikowych
    Methods of analysis of random telegraph signal noise (RTS noise) of semiconductor devices
    Autorzy:
    Cichosz, J.
    Konczakowska, A.
    Stawarz-Graczyk, B.
    Szatkowski, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/153818.pdf
    Data publikacji:
    2008
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    szum telegrafistów
    metody identyfikacji szumu telegrafistów
    przetwarzanie cyfrowe szumu
    random telegraph noise signal
    methods of RTS noise identification
    digital processing of noise
    Opis:
    Scharakteryzowano szum telegrafistów (Random Telegraph Signal - RTS), który może występować w szumie własnym przyrządów półprzewodnikowych, jako składowa niegaussowska. Podkreślono, że szum telegrafistów jest efektem defektów materiałów zastosowanych w produkcji przyrządów półprzewodnikowych lub nieprawidłowości procesu produkcyjnego. Przedstawiono metody identyfikacji wielopoziomowego szumu telegrafistów, na przykładzie przebiegów szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych.
    The Random Telegraph Signal noise which can occur in inherent noise of semiconductor devices as a non-Gaussian component is characterized. It was emphasized that the RTS noise is caused by defects of applied materials or manufacturing incorrectness. The methods of identification of multilevel RTS noise in an inherent noise of semiconductor devices are presented.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2008, R. 54, nr 3, 3; 91-94
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-6 z 6

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies