Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "MOS-HEMT" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Analytical Model Development for Unified 2D Electron Gas Sheet Charge Density of AlInN/GaN MOSHEMT
Autorzy:
Amarnath, G.
Lenka, T. R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/227306.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
2DEG
AlInN/GaN
MOS-HEMT
TCAD
Opis:
We have developed a unified analytical model for computation of 2D electron gas sheet charge density in AlInN/GaN metal-oxide-semiconductor high electron mobility transistor device structure. This model has been developed by incorporating the variation in lowest three energy sub-bands and Fermi level energy in the quantum-well with respect to gate voltage. We noticed that the dependency of lowest sub-band energy with Fermi energy having two fields, which are the lowest sub-band energy is greater and lesser than the Fermi level energy. According to these two fields, we have developed the fermi energy and sheet charge density expressions in each field. By combining each field of the models, developed a unified 2D electron gas sheet charge density model. The Fermi level and sheet charge density are interdependent in the model development. The developed model results are compared with TCAD simulation results and obtain a good consistency between them. This model is fitted to other metal-oxide-semiconductor high electron mobility transistor devices also with modifications in related physical values.
Źródło:
International Journal of Electronics and Telecommunications; 2017, 63, 4; 363-368
2300-1933
Pojawia się w:
International Journal of Electronics and Telecommunications
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Modelling and Simulation of Normally-Off AlGaN/GaN MOS-HEMTs
Autorzy:
Taube, A.
Sochacki, M.
Szmidt, J.
Kamińska, E.
Piotrowska, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/226802.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
gallium nitride
MOS-HEMT
high electron mobility
transistor
AlGaN
GaN
simulation
Opis:
The article presents the results of modelling and simulation of normally-off AlGaN/GaN MOS-HEMT transistors. The effect of the resistivity of the GaN:C layer, the channel mobility and the use of high-κ dielectrics on the electrical characteristics of the transistor has been examined. It has been shown that a low leakage current of less than 10⁻⁶ A/mm can be achieved for the acceptor dopant concentration at the level of 5×10¹⁵cm⁻³. The limitation of the maximum on-state current due to the low carrier channel mobility has been shown. It has also been demonstrated that the use of HfO₂, instead of SiO₂, as a gate dielectric increases on-state current above 0.7A/mm and reduces the negative influence of the charge accumulated in the dielectric layer.
Źródło:
International Journal of Electronics and Telecommunications; 2014, 60, 3; 253-258
2300-1933
Pojawia się w:
International Journal of Electronics and Telecommunications
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies