Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "JFET" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Prospects and Development of Vertical Normally-off JFETs in SiC
Autorzy:
Bakowski, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/308249.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
JFET cascode
normally-off
SiC
vertical JFET
Opis:
This paper reviews the prospects of normally-off (N-off) JFET switch in SiC. The potential of selected vertical JFET concepts and all-JFET cascode solutions for N-off operation is analyzed using simulations. The performance of analyzed concepts is compared in terms of blocking voltage, specific on-state resistance, maximum output current density and switching performance in the temperature range from 25 C degree to 250 C degree. The main objective of the analysis is to ascertain consequences of different design and technology options for the total losses and high temperature performance of the devices.
Źródło:
Journal of Telecommunications and Information Technology; 2009, 4; 25-36
1509-4553
1899-8852
Pojawia się w:
Journal of Telecommunications and Information Technology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Ocena dokładności firmowego makromodelu tranzystora SiC-JFET
Evaluation of accuracy of SiC-JFET macromodel
Autorzy:
Bargieł, K.
Bisewski, D.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/377767.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:
JFET
makromodel
węglik krzemu
Opis:
W pracy zaprezentowano wyniki weryfikacji eksperymentalnej makromodelu tranzystora JFET wykonanego z węglika krzemu o symbolu UJN1208K firmy United Silicon Carbide. Postać makromodelu jest dedykowana dla programu PSPICE i została udostępniona na stronie internetowej producenta. Oceniono dokładność makromodelu poprzez porównanie wybranych obliczonych i katalogowych charakterystyk statycznych oraz charakterystyk C(u) rozważanego tranzystora. Przeanalizowano wpływ temperatury otoczenia na wymienione charakterystyki tranzystora.
In the paper, the results of experimental verification of the macromodel of UJN1208K JFET transistor made of silicon carbide fabricated by United Silicon Carbide, are presented. The macromodel form dedicated for PSPICE program is available on the manufacturer's website. The accuracy of the macromodel have been evaluated by comparison of selected calculated and measured static characteristics and C-V characteristics of the considered transistor. The influence of ambient temperature on the characteristics of the transistor has been evaluated, as well.
Źródło:
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering; 2018, 95; 67-76
1897-0737
Pojawia się w:
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies