W pracy zaprezentowano wyniki weryfikacji eksperymentalnej makromodelu tranzystora
JFET wykonanego z węglika krzemu o symbolu UJN1208K firmy United Silicon
Carbide. Postać makromodelu jest dedykowana dla programu PSPICE i została udostępniona
na stronie internetowej producenta. Oceniono dokładność makromodelu poprzez
porównanie wybranych obliczonych i katalogowych charakterystyk statycznych oraz
charakterystyk C(u) rozważanego tranzystora. Przeanalizowano wpływ temperatury
otoczenia na wymienione charakterystyki tranzystora.
In the paper, the results of experimental verification of the macromodel of
UJN1208K JFET transistor made of silicon carbide fabricated by United Silicon Carbide,
are presented. The macromodel form dedicated for PSPICE program is available on the manufacturer's website. The accuracy of the macromodel have been evaluated by
comparison of selected calculated and measured static characteristics and C-V characteristics
of the considered transistor. The influence of ambient temperature on the characteristics
of the transistor has been evaluated, as well.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00