Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "CM" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
Wyświetlanie 1-15 z 45
Tytuł:
Construction of the real dihedral number fields of degree 2p. Applications
Autorzy:
Louboutin, Stéphane
Park, Young-Ho
Lefeuvre, Yann
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1390504.pdf
Data publikacji:
1999
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Matematyczny PAN
Tematy:
dihedral field
dihedral group
CM-field
Źródło:
Acta Arithmetica; 1999, 89, 3; 201-215
0065-1036
Pojawia się w:
Acta Arithmetica
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Estimation of Optimum Value of Y-Capacitor for Reducing Emi in Switch Mode Power Supplies
Autorzy:
Jha, M. M.
Naik, K. B.
Das, S. P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/262807.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie
Tematy:
EMI
CM noise
touch current
Y-capacitor
Opis:
Putting a Y-capacitor between the primary ground and secondary ground is a common practice in industry to reduce EMI; but, this capacitor increases touch current. A method is discussed to measure the touch current at circuit design level. An optimum value of Y-capacitor is predicted without exceeding touch current limit. Experimental results of touch current measurements and EMI measurements are analyzed.
Źródło:
Electrical Power Quality and Utilisation. Journal; 2009, 15, 2; 47-50
1896-4672
Pojawia się w:
Electrical Power Quality and Utilisation. Journal
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Accuracy of the cm carbide method when testing counter-floors used in the construction industry
Autorzy:
Trochonowicz, Maciej
Szostak, Bartosz
Lackorzyński, Marek
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/396061.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Uniwersytet Zielonogórski. Oficyna Wydawnicza
Tematy:
wooden floor
moisture
CM method
carbide method
counter-floor
jointless floor
podłoga drewniana
wilgotność
test wilgotności
metoda CM
Opis:
Special requirements are placed on finishing materials and foundations for these materials. The technical datasheets for wooden floors contain detailed moisture guidelines regarding counter-floors for these materials. To check the moisture level, the carbide method (CM method) is recommended by manufacturers and many specialists. The authors of the paper performed moisture tests for various counter-floors (anhydrite and cement jointless floors, cement-sand mixtures) using the direct gravimetric (laboratory) method and the carbide method. Test results were collected and analyzed.
Źródło:
Civil and Environmental Engineering Reports; 2020, 30, 1; 64-73
2080-5187
2450-8594
Pojawia się w:
Civil and Environmental Engineering Reports
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
SIW/HMSIW Bandpass Filters for Ka Frequency Band Serving Wireless Applications
Autorzy:
Damou, Mehdi
Benallou, Yassine
Mansouri, Boualem
Nouri, Keltouma
Chetioui, Mohammed
Boudkhil, Abdelhakim
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1844526.pdf
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
filter
SIW
HMSIW
CM
Ka band
wireless applications
Opis:
This paper describes a novel Substrate Integrated Waveguide (SIW) bandpass filter using Chebyshev approximation and Half Mode Substrate Integrated Waveguide (HMSIW)modeling technique. The developed 3 rd order filter structure uses an inductive iris and an inductive post station in a way it resonates in Ka frequency band serving wireless applications. The paper presents in details steps of the filter design formed by specific analytical equations to extract its different synthesizable parameters including coupling matrix, quality factor and initial geometric dimensions. The ideal frequency response of the filter is determined from an equivalent circuit that uses localized elements developed by AWR Microwave Software. High Frequency Structure Simulator (HFSS) is then employed to model the proposed filter structure and optimize its initial parameters until meeting the target specifications initially fixed in order to provide a high frequency response for the proposed filter design. Finally, the obtained results display a good performance for the proposed filter design and demonstrate a high usefulness for the employed technology that allows a low design volume.
Źródło:
International Journal of Electronics and Telecommunications; 2021, 67, 3; 355-361
2300-1933
Pojawia się w:
International Journal of Electronics and Telecommunications
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Concept of system supporting self-study process of diagnosticians
Koncepcja systemu wspomagającego proces samokształcenia pracowników utrzymania ruchu
Autorzy:
Psiuk, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/329528.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN
Tematy:
aplikacja
sztuczna inteligencja
nauczanie
szkolenie
utrzymanie ruchu
wspomaganie decyzji
applications
artificial intelligence
education and training in CM
decision support for CM
Opis:
One of the element of the work of employees of maintenance services is a process of improving their knowledge. So it is important to prepare such a system which could help that process. The aim of this paper is a concept of the system that allow support learning process of maintenance service staff. In this paper the author presents two main parts of this system. The first one that is connected with representation of diagnostic knowledge. The second part of the system will help to decide which part of the knowledge is suitable for the employee. The author assumed that the system will be dynamically fit to the knowledge of the employee. The knowledge will be divided into small parts, so each of them could be used in many different themes. Basis of them the system could decide which part of them is adequate to the actual knowledge of the employee.
Jednym z elementów pracy służb utrzymania ruchu jest proces samodoskonalenia swojej wiedzy i umiejętności. Istotnym więc wydaje się opracowanie systemu, który mógłby wspomóc ten proces. Tematem tego referatu jest przedstawienie koncepcji takiego systemu, który wspomógłby proces samokształcenia służb utrzymania ruchu. W pracy autor przedstawia dwa główne elementy takiego systemu. Pierwszy element związany jest reprezentacją wiedzy diagnostycznej. Drugi z elementów systemu ma pomóc wybrać tę część wiedzy, która będzie najbardziej właściwa dla danego pracownika. Zakłada się, że system będzie się dostosowywał do wiedzy pracownika. Wiedza będzie podzielona na części, dzięki czemu będzie można je wykorzystać w wielu różnych tematach. Na tej podstawie system będzie mógł decydować jaką wiedzę należy przekazać pracownikowi w stosunku do posiadanej przez niego wiedzy.
Źródło:
Diagnostyka; 2012, 2(62); 49-56
1641-6414
2449-5220
Pojawia się w:
Diagnostyka
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The class number one problem for the dihedral and dicyclic CM-fields
Autorzy:
Louboutin, Stéphane
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/965863.pdf
Data publikacji:
1999
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Matematyczny PAN
Tematy:
relative class number
CM-field
dihedral group
dicyclic group
Opis:
We recall the determination of all the dihedral CM-fields with relative class number one, and prove that dicyclic CM-fields have relative class numbers greater than one.
Źródło:
Colloquium Mathematicum; 1999, 80, 2; 259-265
0010-1354
Pojawia się w:
Colloquium Mathematicum
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Spontaneous Current Study in Wheat Starch Nano Powder
Autorzy:
Gaur, M.
Gaur, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1537753.pdf
Data publikacji:
2010-06
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
77.22.Ej
77.22.Cm
77.22.Jp
Opis:
Spontaneous current study has been carried out in 70 nm particle size of wheat starch nano powder. The starch nano powder was prepared by mechanical grinding method. The spontaneous current was found to be induced and flowing in external circuit under short circuit condition by heating a sandwitched system. Sandwitched system consist of a starch nano powder (i.e. powder in different weight ratio of distilled water) between similar (Al-Al) and dissimilar (Al-Zn, Al-Cu, Al-Ag) electrode combination. The Spontaneous current spectra show two peaks lies in 46 ± 4°C and 72 ± 4°C, respectively, in the first heating run. However, only single peak was observed in second heating run. In the dissimilar electrode combination the first peak shifts to lower temperature side, while second peak shifts to higher temperature side. Spontaneous current mechanism could be explained on the basis transitional changes of starch nano powder caused by influence of water. The temperature dependent open circuit voltage $V_{oc}$ was recorded. A linear relationship was observed between dissimilar electrodes system due to difference in electrode work functions. It has been observed that spontaneous current is influenced by water and depends on the choice of electrode material.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2010, 117, 6; 945-948
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Influence of SiC Surface Preparation on Homoepitaxial Growth; X-ray Reflectometric Studies
Autorzy:
Mazur, K.
Wierzchowski, W.
Wieteska, K.
Hofman, W.
Sakowska, H.
Kościewicz, K.
Strupiński, W.
Graeff, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1538812.pdf
Data publikacji:
2010-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.05.cm
61.72.Ff
61.72.up
Opis:
X-ray reflectometric and diffraction topographic methods were applied for examination of 4H and 6H silicon carbide substrates finished with various regimes, as well as, silicon carbide epitaxial layers. The investigations indicated a very good quality of the substrate surfaces finished with the process established at the Institute of Electronic Materials Technology, which provided the surface roughness σ = 0.55 ± 0.07 nm for 4H-SiC wafers. These values were better than those of substrate wafers offered by many commercial producers. The surface roughness was decreased during the initial high temperature etching to σ = 0.22 ± 0.07 nm. A relatively good structural quality was confirmed in the case of 4H epitaxial wafers deposited on the substrates prepared from the crystals manufactured at the IEMT, with the 8° off-cut from the main (001) plane.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2010, 117, 2; 272-276
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Topographic and Reflectometric Investigation of Crystallographic Defects and Surface Roughness in 4H Silicon Carbide Homoepitaxial Layers Deposited at Various Growth Rates
Autorzy:
Wierzchowski, W.
Wieteska, K.
Mazur, K.
Kościewicz, K.
Balcer, T.
Strupiński, W.
Paulmann, C.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1431659.pdf
Data publikacji:
2012-04
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.05.cm
61.72.Ff
61.72.up
Opis:
Undoped 4H silicon carbide epitaxial layers were deposited by means of CVD method with growth rates of 2 μm/h, 5 μm/h and 11 μm/h at 1540°C on n-doped 8°, 4° and 0° off-cut 4H-SiC (00·1) substrates. The structural defects were studied before and after growth of the epitaxial layers by means of conventional Lang topography, synchrotron white beam and monochromatic beam topography and by means of X-ray specular reflectometry. The topographic investigations confirmed the continuation of the dislocations in the epitaxial deposit on the 8° and 4° off-cut substrates without new extended defects. The important difference occurred in the surface roughness of the epitaxial layers, which increased for higher growth rates. The epitaxial layers grown on 0° off-cut substrates at analogous condition contained usually other SiC polytypes, but the influence of the growth rate on the distribution of the polytypes was observed.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2012, 121, 4; 915-919
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
TS-BTPhen as a promising hydrophilic complexing agent for selective Am(III) separation by solvent extraction
Autorzy:
Kaufholz, P.
Sadowski, F.
Wilden, A.
Modolo, G.
Lewis, F. W.
Smith, A. W.
Harwood, L. M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/147226.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
Tematy:
Am-Cm separation
TODGA
TS-BTPhen
liquid-liquid extraction
Opis:
The novel hydrophilic back-extraction agent TS-BTPhen (3,3',3'',3'''-[3-(1,10-phenanthroline-2,9- -diyl)-1,2,4-triazine-5,5,6,6-tetrayl]tetrabenzenesulfonic acid) was tested for its selectivity towards Am(III) over Cm(III) and Eu(III) with a TODGA (N,N,N',N'-tetraoctyldiglycolamide) based solvent. Batch experiments were carried out using TS-BTPhen dissolved in aqueous nitric acid solution with tracers of 152Eu, 241Am and 244Cm. A signifi cant increase of the separation factor for Cm over Am from SFCm/Am = 1.6 up to SFCm/Am = 3.3 was observed compared to the use of a TODGA-nitric acid system alone. Furthermore, stripping was possible at high nitric acid concentrations (0.6–0.7 mol/L) resulting in a low sensitivity to acidity changes. The infl uence of the TS-BTPhen concentration was analyzed. A slope of –2 was expected taking into account literature stoichiometries of the lipophilic analogue CyMe4BTPhen. However, a slope of –1 was found. Batch stripping kinetics showed fast kinetics for the trivalent actinides. As an alternative organic ligand the methylated TODGA derivate Me-TODGA (2-methyl-N,N,N',N'-tetraoctyldiglycolamide) was tested in combination with the hydrophilic TS-BTPhen. The Am(III) separation was achieved at even higher nitric acid concentrations compared to TODGA.
Źródło:
Nukleonika; 2015, 60, No. 4, part 2; 815-820
0029-5922
1508-5791
Pojawia się w:
Nukleonika
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Hard and Soft X-Ray Reflectivity Studies οf $(NiFe//Au//Co//Au)_{10}$ Magnetic Multilayers
Autorzy:
Szymański, B.
Stobiecki, F.
Weis, T.
Engel, D.
Urbaniak, M.
Kuświk, P.
Lengemann, D.
Ehresmann, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1810593.pdf
Data publikacji:
2009-01
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.05.cm
75.60.-d
75.70.-i
Opis:
We report on hard and soft X-ray reflectivity investigations of $(Ni_{80}Fe_{20} (2.2 nm)//Au(2.3 nm)//Co(0.8 nm)//Au(2.3 nm))_{10}$ multilayers. Specular reflectivity curves were measured with Cu $K_{α}$ radiation and circularly polarized synchrotron radiation tuned to Co $L_{3}$ and Ni $L_{3}$ absorption edges. Structural properties of the multilayers were determined from the hard X-ray reflectivity curve. Comparison of reflectivity curves taken at different photon energies shows: (i) small difference in peak positions in dependence of reflectivity versus scattering vector q, (ii) different shapes of satellite Bragg peaks, (iii) different ranges of q for appearance of the Kiessig fringes. Analysis of soft X-ray reflectivity curves taken as a function of magnetic field allows to determine magnetic properties of Co and NiFe layer specifically.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2009, 115, 1; 366-368
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Mikrobiologiczne wytwarzanie białka o aktywności β-glukanazy
Microbiological production of protein with β-glucanase activity
Autorzy:
Zasłona, H.
Trusek-Hołownia, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2073107.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
fermentacja wgłębna
β-1,3-glukanaza
hydroliza CM-kurdlanu
stabilność operacyjna
submerged fermentation
β-1,3-glucanase
CM-curdlan hydrolysis
operational stability
Opis:
W pracy przedstawiono produkcję enzymu degradującego niektóre rodzaje hemicelulozy. Białko zostało wyprodukowane przez zmodyfikowany genetycznie szczep E. coli w reaktorze mikrobiologicznym. Wskazano optymalne warunki prowadzenia procesu biosyntezy białka. Wyznaczono stałą szybkości reakcji preparatu oczyszczonego. Określono stabilność operacyjną enzymu będącą kluczowym parametrem dla potencjalnego zastosowania w procesie wielkotonażowym hydrolizy komponentów biomasy roślinnej.
The paper presents production of enzyme which degrades some hemicellulose form. The protein was produced by a genetically modified strain of E. coli in the microbiological reactor. The optimal conditions for protein biosynthesis process were indicated. The reaction rate constant was determined for the purified preparation. The enzyme stability was evaluated as a crucial operational parameter for potential application in the hydrolysis of plant biomass components in a large-tonnage process.
Źródło:
Inżynieria i Aparatura Chemiczna; 2015, 3; 130--132
0368-0827
Pojawia się w:
Inżynieria i Aparatura Chemiczna
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Investigation of Gold Nanolayer Properties Using X-Ray Reflectometry and Spectroscopic Ellipsometry Methods
Autorzy:
Stabrawa, I.
Banaś, D.
Dworecki, K.
Kubala-Kukuś, A.
Braziewicz, J.
Majewska, U.
Wudarczyk-Moćko, J.
Pajek, M.
Góźdź, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1398825.pdf
Data publikacji:
2016-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.05.cm
62.23.St
68.55.-a
81.07.-b
Opis:
X-ray reflectometry and spectroscopic ellipsometry methods were applied for determination of physical properties of gold nonolayers. The nanolayers were prepared by sputtering of gold on different substrates: borosilicate glass, polished crystalline quartz and crystalline silicon. With X-ray reflectometry technique roughness of the substrates and density, thickness and roughness of gold layers were determined. The results showed decrease in density of the gold layers due to their nanometer thickness and that roughness of the underlayer affects roughness of the gold layer. In addition, thicknesses of the gold layers measured with spectroscopic ellipsometry turned out to be in agreement, within the experimental uncertainty, with results of the X-ray reflectometry method.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2016, 129, 2; 233-236
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Influence of Substrate on Crystallographic Quality of AlGaN/GaN HEMT Structures Grown by Plasma-Assisted MBE
Autorzy:
Wierzbicka, A.
Żytkiewicz, Z.
Sobańska, M.
Kłosek, K.
Łusakowska, E.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1431598.pdf
Data publikacji:
2012-04
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.05.cp
61.05.cm
81.15.Hi
68.55.-a
Opis:
Results of characterization of AlGaN/GaN high electron mobility transistor (HEMT) structures grown by plasma-assisted molecular beam epitaxy (PAMBE) are reported. High resolution X-ray diffraction (HRXRD) and X-ray reflectivity (XRR) were applied to show that structural properties of the AlGaN/GaN layers strongly depend on the substrate used for growth. It has been found that an additional 10 μm thick HVPE GaN layer grown on a commercial GaN/sapphire substrate significantly improves structural quality of AlGaN layer. However, the best structural parameters have been obtained for the HEMT sample grown on free-standing HVPE bulk GaN substrate.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2012, 121, 4; 899-902
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Wyświetlanie 1-15 z 45

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies