X-ray reflectometry and spectroscopic ellipsometry methods were applied for determination of physical properties of gold nonolayers. The nanolayers were prepared by sputtering of gold on different substrates: borosilicate glass, polished crystalline quartz and crystalline silicon. With X-ray reflectometry technique roughness of the substrates and density, thickness and roughness of gold layers were determined. The results showed decrease in density of the gold layers due to their nanometer thickness and that roughness of the underlayer affects roughness of the gold layer. In addition, thicknesses of the gold layers measured with spectroscopic ellipsometry turned out to be in agreement, within the experimental uncertainty, with results of the X-ray reflectometry method.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE W OKRESIE WAKACYJNYM BIBLIOTEKA BĘDZIE FUNKCJONOWAŁA W ZMIENIONYCH GODZINACH::
od 15 do 31 lipca:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna:
9.00 - 15.00
(poniedziałek-piątek)
Czytelnia Działu Zbiorów Specjalnych:
9.00 - 15.00
(poniedziałek-piątek)
od 1 do 31 sierpnia:
BIBLIOTEKA BĘDZIE NIECZYNNA
UWAGA:
Zwrotu wypożyczonych materiałów można dokonać u dyżurującego bibliotekarza w Wypożyczalni Głównej od 9.00 do 15.00.
Na pozycje, których termin zwrotu przypadnie od 1 do 31 sierpnia, wprowadzona zostanie prolongata (nowy termin zwrotu – 6 września).