Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Zabel, H." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Order and Frustration in Artificial Magnetic Patterns
Autorzy:
Zabel, H.
Schumann, A.
Westphalen, A.
Remhof, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1810286.pdf
Data publikacji:
2009-01
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
75.75.+a
75.60.Jk
41.20.Gz
Opis:
Artificial magnetic dipole arrays arranged on a square lattice exhibit a fascinating variety and complexity of configurations. Among the 16 possible configurations, six fulfill the spin ice rule of two dipoles pointing into a vertex and two point out. We present experimental realizations of magnetic dipole arrays and discuss the remanent state as well as the magnetization reversal in an external field.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2009, 115, 1; 59-63
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
X-ray Reflectivity and Polarized Neutron Reflectivity Investigations of $[Co_{60}Fe_{60}B_{20}//MgO]_n$ Multilayers
Autorzy:
Vadalà, M.
Wolff, M.
Westerholt, K.
Zabel, H.
Wisniowski, P.
Cardoso, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1814030.pdf
Data publikacji:
2007-12
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
75.50.-i
75.50.Kj
75.50.Cc
Opis:
In recent years magnetic tunnel junctions have been intensively studied and incorporated in magnetic random access memory devices and magnetic sensors, where large tunnelling magnetoresistance ratios are preferred. The largest tunnelling magnetoresistance values until now have been observed in magnetic tunnel junctions with MgO barriers and CoFeB electrodes after annealing of the junction above the recrystallization temperature of the amorphous CoFeB layers. We used X-ray reflectivity and polarized neutron reflectivity to study [Co_{60}Fe_{60}B_ {20}//MgO]_{x14} multilayers with the MgO layers prepared by different methods and annealed at different temperatures in order to compare the interface quality and the structural changes induced upon annealing.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2007, 112, 6; 1249-1257
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies