Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Weiss, D." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Extending k-means with the description comes first approach
Autorzy:
Stefanowski, J.
Weiss, D.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/970926.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Badań Systemowych PAN
Tematy:
document clustering
cluster labels
k-means algorithm
information retrieval
Opis:
This paper describes a technique for clustering large collections of short and medium length text documents such as press articles, news stories and the like. The technique called description comes first (DCF) consists of identification of related document clusters, selection of salient phrases relevant to these clusters and reallocation of documents matching the selected phrases to form final document groups. The advantages of this technique include more comprehensive cluster labels and clearer (more transparent) relationship between cluster labels and their content. We demonstrate the DCF by taking a standard k-means algorithm as a baseline and weaving DCF elements into it; the outcome is the descriptive k-means (DKM) algorithm. The paper goes through technical background explaining how to implement DKM efficiently and ends with the description of an experiment measuring clustering quality on a benchmark document collection 20-newsgroups. Short fragments of this paper appeared at the poster session of the RIAO 2007 conference, Pittsburgh, PA, USA (electronic proceedings only).
Źródło:
Control and Cybernetics; 2007, 36, 4; 1009-1035
0324-8569
Pojawia się w:
Control and Cybernetics
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Methods for assessment of the occupational exposure at working places of different TENORM industrial branches
Metody oceny ekspozycji zawodowej powodowanej przez TENORM w różnych gałęziach przemysłu
Autorzy:
Weiss, D.
Biesold, H.
Jovanovic, P.
Juhasz, L.
Laciok, A.
Leopold, K.
Michalik, B.
Moravanska, H.
Poffijn, A.
Popescu, M.
Radulescu, C.
Szerbin, P.
Wiegand, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/340204.pdf
Data publikacji:
2004
Wydawca:
Główny Instytut Górnictwa
Tematy:
BHP
TENORM
projekt TENORMHARM
ochrona radiologiczna
OSH
TENORMHARM project
radiological protection
Źródło:
Prace Naukowe GIG. Górnictwo i Środowisko / Główny Instytut Górnictwa; 2004, 1; 60-61
1643-7608
Pojawia się w:
Prace Naukowe GIG. Górnictwo i Środowisko / Główny Instytut Górnictwa
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Growth and Structure of Buffer Layers for High Temperature Superconducting Films
Autorzy:
Fröhlich, K.
Rosová, A.
Machajdík, D.
Šouc, J.
Figueras, A.
Weiss, F.
Chenevier, B.
Snauwaert, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1964533.pdf
Data publikacji:
1997-07
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.Jk
Opis:
We have studied thin CeO$\text{}_{2}$ buffer layers prepared by aerosol MOCVD on (11̅02) Al$\text{}_{2}$O$\text{}_{3}$ substrate at high deposition temperature, T$\text{}_{d}$= 900°C. A texture analysis by X-ray diffraction showed a high degree of epitaxial character of CeO$\text{}_{2}$ films. A study of the microstructure by transmission electron microscopy revealed that the CeO$\text{}_{2}$ films are in a relaxed state being composed of slightly misoriented blocks surrounded by dislocations. The films are smooth, giving mean square root values of the surface roughness measured by atomic force microscopy up to 1 nm.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1997, 92, 1; 255-258
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies