We have studied thin CeO$\text{}_{2}$ buffer layers prepared by aerosol MOCVD on (11̅02) Al$\text{}_{2}$O$\text{}_{3}$ substrate at high deposition temperature, T$\text{}_{d}$= 900°C. A texture analysis by X-ray diffraction showed a high degree of epitaxial character of CeO$\text{}_{2}$ films. A study of the microstructure by transmission electron microscopy revealed that the CeO$\text{}_{2}$ films are in a relaxed state being composed of slightly misoriented blocks surrounded by dislocations. The films are smooth, giving mean square root values of the surface roughness measured by atomic force microscopy up to 1 nm.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00