Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Toczek, W." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-9 z 9
    Tytuł:
    Wyznaczanie miar jakości testu z zastosowaniem probabilistycznego modelu pomiaru
    Estimation of test metrics using a probabilistic model for measurement processes
    Autorzy:
    Toczek, W.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/155359.pdf
    Data publikacji:
    2010
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    miary jakości testu
    probabilistyczny model pomiaru
    test metrics
    probabilistic model of measurement process
    Opis:
    Zaproponowano szybką analityczną metodę wyznaczania miar jakości testu na etapie jego projektowania. Metoda bazuje na dwóch modelach probabilistycznych - modelu pomiaru oraz modelu odpowiedzi układu testowanego na pobudzenie sygnałem testującym. Podano przykład wyznaczenia straty uzysku spowodowanej niepewnością progu komparatora w układzie testującym wyrób elektroniczny.
    In the paper a rapid model-based method of estimating indicators of test quality at the test design stage is considered. The test metrics such as yield coverage (1), yield loss (2), defect level (3) etc. are calculated with a precision of ppm (parts per million). The novelty of the approach is use for calculations a probabilistic model of the test (9), adapted from a general probabilistic model of the measurement process proposed by Rossi [2], together with a probabilistic model of the circuit under test (CUT) performances (10). It is assumed that the CUT performances follow a generalized Rayleigh distribution (Fig. 1), derived by the author [3]. An example is included to illustrate the calculation of yield loss as a function of the comparator threshold (Fig. 2) in the tester of the electronic CUT. The results are positively verified by the Monte Carlo method. A large population of instances is rapidly generated (Tab. 1) from the probabilistic model of the CUT. These data are used to compute test metrics.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 1, 1; 15-17
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Zastosowanie statystyki Bayesowskiej do uzasadnienia zmiany sposobu obliczania standardowej niepewności pomiaru
    Bayesian statistics using for explanation of the new approach for measurement uncertainty evaluation
    Autorzy:
    Toczek, W.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/266935.pdf
    Data publikacji:
    2017
    Wydawca:
    Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
    Tematy:
    standardowa niepewność pomiaru
    modyfikacja
    GUM
    statystyka Bayesowska
    standard measurement uncertainty
    GUM revision
    Bayesian statistics
    Opis:
    Celem pracy jest wyjaśnienie powodu, dla którego Wspólny Komitet ds. Przewodników w Metrologii (JCGM) wprowadza zmianę sposobu obliczania standardowej niepewności pomiaru. Modyfikacja ma obowiązywać w nowej wersji przewodnika Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement (GUM). Rozważania w artykule są oparte na przykładzie oceny niepewności pomiaru metodą typu A, z zastosowaniem statystyki Bayesowskiej w formie eksperymentów numerycznych i w ujęciu analitycznym. Wyniki pracy będą wykorzystane w procesie dydaktycznym.
    The goal of this work is to explain the motivation for the changes of an approach for calculating the standard measurement uncertainty, proposed by the Joint Committee for Guides in Metrology (JCGM). The modification will be available in a revised version of the Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement (GUM). The paper is based on the example of the type A measurement uncertainty evaluation, by using the principles of Bayesian statistics in the form of numerical experiments and as an analytical approach.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2017, 57; 141-146
    1425-5766
    2353-1290
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Błędy w przedstawianiu wyników pomiarów i wartości wielkości fizycznych popełniane w pracach studenckich
    Errors in students reports of results of measurements and the values of quantities
    Autorzy:
    Toczek, W.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/267203.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
    Tematy:
    przedstawianie wyników pomiarów
    Międzynarodowy Układ Jednostek Miar
    SI
    zasady używania jednostek miar
    zasady wyrażania wartości wielkości fzycznych
    reporting of results of measurements
    International System of Units
    rules for using units
    rules for expressing values of quantities
    Opis:
    Artykuł powstał na bazie doświadczeń zdobytych podczas pracy dydaktycznej autora jako wykładowcy i nauczyciela akademickiego prowadzącego zajęcia w Laboratorium Podstaw Metrologii. Przytoczono przykłady nieprawidłowości w przedstawianiu wyników pomiarów i wartości wielkości fizycznych pochodzące z prac pisemnych studentów i skonfrontowano je z zaleceniami Międzynarodowego Układu Jednostek Miar (SI), oraz polskimi aktami prawnymi.
    The paper is based on the many years of author’s experience and observations taken during work as lecturer and academic teacher in the Laboratory of Basics of Metrology. Many examples of incorrectness in students’ reports are quoted and confronted with rules and style conventions of the International System of Units (SI). All examples of improperly presented results of measurements or expressed values of quantities are divided into nine categories: lack of distinction between an object and its attribute (measurand), errors in expressing the measurement uncertainty, too many digits in the results of measurement data processing, improper scale of a graph and style of labelling the axes, improper using of names and symbols of units, errors originated from the lack of a space or improper use of a space, clarity in writing values of quantities, improper stating values of dimensionless quantities, improper use of SI prefixes to form the names and symbols of the decimal multiples and submultiples of SI units.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2014, 38; 77-80
    1425-5766
    2353-1290
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Ryzyko ponoszone przez producenta i konsumenta z powodu niepewności pomiarów
    Consumer's and producer's risk associated with measurement uncertainty
    Autorzy:
    Toczek, W.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/155897.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    ocena zgodności wyrobów
    niepewność pomiarów
    ryzyko konsumenta
    ryzyko producenta
    conformity assessment
    measurement uncertainty
    consumer's risk
    producer's risk
    Opis:
    Przeprowadzono krytyczną dyskusję stosowanych w literaturze definicji ryzyka błędnych decyzji wynikających z niepewności pomiarów. Dla znanych rozkładów prawdopodobieństwa charakteryzujących produkcję i aparaturę pomiarową dokonano analizy ryzyka na przykładzie testowania amplitudy napięcia. Pokazano, że tradycyjne definicje ryzyka producenta i ryzyka konsumenta są przypisywane prawdopodobieństwom zaniżonym. Porównano je z definicjami lepiej dostosowanymi do praktyki produkcyjnej.
    In the paper a critical discussion of the definitions of producer's and consumer's risks associated with measurement uncertainty is presented. The considerations are illustrated by an example of amplitude testing, for which risks are evaluated using known from literature and proposed formulae. It is shown that when the consumer's risk is discussed in literature it is by definition lower than probability referenced to the consumer's perspective. The reason for this is that the appropriate action, usually taken in the case of parameter being outside the acceptance interval, is not considered. The similar remark refers to the definition of the producer's risk because production yield is usually not 100 %. The proposed definitions of risk are better adjusted to the industrial practice. The paper concludes that suitable precautions must be taken using the definitions of consumer's and producer's risk which are published in journals. This discussion deals also with draft of the important document "Evaluation of measurement data - The role of measurement uncertainty in conformity assessment", JCGM 106, which is under preparation by Joint Committee for Guides in Metrology.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 12, 12; 1061-1064
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych
    Tolerance problem in testing of fully differential electronic circuits
    Autorzy:
    Toczek, W.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/327522.pdf
    Data publikacji:
    2008
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN
    Tematy:
    układ analogowy
    testowanie
    układy w pełni różnicowe
    model probabilistyczny testu
    ocena ryzyka
    analog circuit testing
    fully differential circuits
    probabilistic model for test
    risk evaluation
    Opis:
    Rozrzuty tolerancyjne silnie wpływają na proces decyzyjny, oparty na testowaniu w pełni różnicowych układów elektronicznych metodą zorientowaną na uszkodzenia. Skutkiem tolerancji są napięcia rezidualne w nieuszkodzonym układzie testowanym, oraz niepewność progu komparacji w układzie testującym. W rezultacie pojawia się ryzyko błędnej diagnozy. W artykule dokonano syntezy probabilistycznego modelu odpowiedzi układu testowanego i zastosowano go, w połączeniu z uogólnionym modelem pomiaru, do oceny ryzyka błędnej decyzji diagnostycznej z punktu widzenia użytkownika i producenta układu testowanego.
    Tolerance deviations strongly affect the test-based decisional process. In the fault-oriented testing of fully differential electronic circuits tolerances cause the residual voltages in the fault-free circuit under test and uncertainty of the threshold in the testing circuit. As the result, risk of taking the wrong decision appears. In the paper, a probabilistic model for responses of circuit under test is developed and applied together with a general probabilistic model of the measurement process for the consumer's and producer's risks assessment.
    Źródło:
    Diagnostyka; 2008, 1(45); 127-130
    1641-6414
    2449-5220
    Pojawia się w:
    Diagnostyka
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Demonstrator testera wbudowanego BIST dla układów w pełni różnicowych
    Demonstrator of BIST for testing and diagnosis of fully differential circuits
    Autorzy:
    Toczek, W.
    Kaczmarczyk-Mróz, K.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/151553.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    ocena zgodności wyrobów
    testery wbudowane BIST
    diagnostyka uszkodzeń
    conformity assessment
    built-in self-test
    fault diagnosis
    Opis:
    Przedstawiono demonstrator testera wbudowanego, przeznaczony do pracy na stanowisku dydaktycznym w laboratorium z przedmiotu Zaawansowane Metody Pomiarowe i Diagnostyczne. Na stanowisku studenci zapoznają się z technologią BIST (ang. Built-In Self-Test), która jest przykładem wdrożenia strategii projektowania dla testowania.
    A demonstrator of Built-In Self-Tester (BIST) for testing and diagnosis of fully differential circuits is presented. The demonstrator works on the educational stand in the Laboratory of Advanced Measurement and Diagnostic Methods, where students are familiarized with BIST technology, which is an example of implementation of Design-for-Test strategy. In the BIST, a testing method is applied, which employs the excitation of the circuit under test by a common-mode signal. Fault location is performed with use of a fault dictionary. Laboratory tasks include: fault detection, analysis and validation of diagnostic method, fault dictionary construction, fault location and calculation of test quality metrics. Students evaluate test quality metrics using a probabilistic approach to the analysis of measurement process in accordance with guidance provided by the Joint Committee for Guides in Metrology (JCGM) in “Evaluation of measurement data – The role of measurement uncertainty in conformity assessment” JCGM 106: 2012.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 2, 2; 98-100
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Łączenie danych pomiarowych z dodatkową wiedzą metrologiczną w celu oceny niepewności pomiaru
    Combining of measurement data with additional metrological knowledge for evaluating the measurement uncertainty
    Autorzy:
    Toczek, W.
    Nagothu, B. S.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/268516.pdf
    Data publikacji:
    2018
    Wydawca:
    Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
    Tematy:
    standardowa niepewność pomiaru
    krótka seria pomiarowa
    dodatkowa wiedza o procesie pomiarowym
    standard measurement uncertainty
    short measurement series
    additional knowledge about measurement process
    Opis:
    Przedstawiono modus operandi w ocenie niepewności pomiaru dla krótkich serii pomiarowych. Metoda wykorzystuje dodatkową wiedzę metrologiczną do zwiększenia liczby stopni swobody rozkładu t-Studenta, uzyskiwanego w wyniku bayesowskiej analizy wyników pomiarów. W rezultacie możliwe jest oszacowanie niepewności standardowych dla najkrótszych serii pomiarowych, o długości 2 i 3.
    A modus operandi in the expression of uncertainty in measurement is presented. The method uses additional metrological knowledge for increasing the degrees of freedom of Student-t distribution, obtained as a result of bayesian analysis of small numer of observations. In consequence, type A uncertainty evaluation in the cases of 2 and 3 is possible. The method is useful for measurements of homogeneous objects. The constant measurement conditions are required.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2018, 60; 127-130
    1425-5766
    2353-1290
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Metrological Analysis of Precision of the System of Delivering a Water Capsule for Explosive Production of Water Aerosol
    Autorzy:
    Śmigielski, G.
    Toczek, W.
    Dygdała, R.
    Stefański, K.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/221553.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    water capsule airdrop control system
    uncertainty analysis
    GUM uncertainty framework
    propagation of distributions
    Opis:
    In this paper precision of the system controlling delivery by a helicopter of a water capsule designed for extinguishing large scale fires is analysed. The analysis was performed using a numerical method of distribution propagation (the Monte Carlo method) supplemented with results of application of the uncertainty propagation method. In addition, the optimum conditions for the airdrop are determined to ensure achieving the maximum area covered by the water capsule with simultaneous preserving the precision level necessary for efficient fire extinguishing.
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2016, 23, 1; 47-58
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    System pomiarowo-diagnostyczny pakietów elektronicznych z biblioteką analitycznych metod diagnostycznych
    The measuring and diagnosis system with library of analytical diagnosis methods
    Autorzy:
    Zielonko, R.
    Hoja, J.
    Bartosiński, B.
    Lentka, G.
    Toczek, W.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/151794.pdf
    Data publikacji:
    1999
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Opis:
    Na tle tendencji rozwojowych w dziedzinie testowania pakietów elektronicznych przedstawiono system pomiarowo-diagnostyczny kolejnej generacji, opracowany w Politechnice Gdańskiej w ramach projektu badawczego KBN. Charakterystyczną cechą systemu, stanowiącąnowość w odniesieniu do współczesnych systemów tego typu, jest wyposażenie w bibliotekę analityczną metod diagnostycznych, umożliwiających lokalizację uszkodzonych elementów niedostepnych zaciskowo. Nową cechą jest też przystosowanie systemu do diagnostyki układów cyfrowych za pomocą magistrali diagnostycznej IEEE 1149,1. Omówiono architekturę systemu, ciekawsze rozwiązania układowe oraz nowe metody analityczne.
    A measuring system of new generation for testing and diagnosis of electronic PCBs is presented. The system has been designed in Technical University of Gdansk as research project of KBN. Main feature of the system is library of analytical diagnostic methods making possible testing and fault location of the circuits with limited accessibility to internal nodes. The paper describes system architecture and some solution of measuring modules. Then, two diagnostic methods: the complementary signals method and the circuit-analytical approach method, based on verification concept, are discussed. For nonlinear circuits, association of piecewise linearization of circuit component characteristics and linear verification is used. The system has also ability to test digital circuits using IEEE 1149,1 diagnostic bus.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 1999, R. 45, nr 6, 6; 7-12
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-9 z 9

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies