Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Stawarz-Graczyk, B." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-7 z 7
    Tytuł:
    Investigation of RTS noise in reverse polarized Silicon Carbide Schottky diodes
    Badanie szumów RTS w diodach SiC spolaryzowanych w kierunku zaporowym
    Autorzy:
    Szewczyk, A.
    Stawarz-Graczyk, B.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/266700.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
    Tematy:
    szumy RTS
    dioda Schottky'ego
    RTS noise
    Schottky diodes
    Opis:
    One of the method of electronic device quality and reliability evaluation is observation of its inherent noise. Generally, the inherent noise of semiconductor device consists of Gaussian (i.e. 1/f, shot noise) and non-Gaussian components (i.e. random telegraph signal, RTS). The RTS phenomena usually indicates the presence of large defects in the structure of the material of the device, therefore it can be treated as an indicator of technology quality. In the paper authors present results of RTS investigations in reverse polarized Silicon Carbide Schottky diodes. Devices being studied are commercially available diodes with reverse voltage UR = 600 V. The RTS was observed during device stress by applying high voltage for several minutes and the change in signal parameters were studied.
    Jedną z metod do badania jakości i niezawodności elementów elektronicznych jest obserwacja ich szumów własnych, które zawierają składową gaussowską (szum typu 1/f, szum śrutowy) oraz składową niegaussowską (szum RTS). Obecność szumu RTS zazwyczaj wskazuje na defekty w strukturze materiału, z którego jest wykonany element, ale jednocześnie może być doskonałym wskaźnikiem jakości badanego elementu. W artykule autorzy prezentują wyniki pomiarów w zaporowo spolaryzowanych diodach Schottkiego wykonanych z SiC. Badane elementy są powszechnie dostępnymi o UR = 600 V. Szum RTS był obserwowany po kilkuminutowym użytkowaniu badanego elementu w warunkach wysokiego napięcia.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2014, 40; 103-106
    1425-5766
    2353-1290
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    System do pomiaru szumów elementów optoelektroniczncych w szerokim zakresie prądów
    Optoelectronic devices noise measurement set-up in wide diode current range
    Autorzy:
    Sprawka, D.
    Stawarz-Graczyk, B.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/267697.pdf
    Data publikacji:
    2017
    Wydawca:
    Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
    Tematy:
    szum typu 1/f
    szumy wybuchowe
    dioda LED
    transoptor
    1/f noise
    RTS noise
    LED
    optocoupler
    Opis:
    W artykule zostanie zaprezentowany opis systemu pomiarowego zawierającego zaprojektowaną głowicę pomiarową do pomiarów szumów generowanych przez elementy optoelektroniczne. Przedstawione zostaną wyniki testów funkcjonowania systemu pomiarowego dla diod LED dla prądu wynoszącego ID = 2 mA. Pomiar odbywał się w zakresie małych częstotliwości czyli do 1 kHz. Głowica pomiarowa została zbudowana w sposób minimalizujący wpływ zakłóceń zewnętrznych na działanie układu.
    In the paper authors present a special measurement set-up which allows for optoelectronic devices noise measurements. Authors will test the system using LEDs for ID = 2 mA and in frequency range of 1 kHz. The measurement set-up was built in a way to avoid external noise. For research authors chose a group colour LEDs. In the following paper authors present the measurement results of power spectrum density function and time function for the optoelectronic devices.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2017, 57; 131-134
    1425-5766
    2353-1290
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Phase Object Observation System Based on Diffraction Phase Microscopy
    Autorzy:
    Babicz, S.
    Stawarz-Graczyk, B.
    Wierzba, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/221523.pdf
    Data publikacji:
    2018
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    diffraction phase microscopy
    DPM
    phase objects
    Opis:
    In the paper authors present a special measurement system for observing phase objects. The diffraction phas microscopy makes it possible to measure the dimensions of a tested object with a nanometre resolution. To meet this requirement, it is proposed to apply a spatial transform. The proposed setup can be based either on a two lenses system (called 4f) or a Wollaston prism. Both solutions with all construction aspects are described in the paper. To make a full analysis of the object shape the authors developed an accurate image processing algorithm, also presented in the paper.
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2018, 25, 1; 213-221
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Method and measurement system for dc characteristics measurement of power diodes in very wide current range
    Metoda i system pomiarowy do pomiaru charakterystyk stałoprądowych diod w bardzo szerokim zakresie prądów
    Autorzy:
    Cichosz, J.
    Szewczyk, A.
    Stawarz-Graczyk, B.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/268771.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
    Tematy:
    diody SiC
    pomiary
    charakterystyka stałoprądowa
    SiC power diode
    measurement
    DC characteristic
    Opis:
    The new measurement set-up of DC characteristics of power diodes measurements was presented. Authors proposed to organize measurements in a pulse manner, because in typical method junction temperature of power diodes under test during measurements increase. The system elaborated on the base of method for measuring DC in a very wide current range which utilizes modified R-2R resistor ladder (short-circuit keys instead of switching keys) was constructed. The measurement system is controlled by the computer with LabView application that allows to apply measurement procedure in a very short time.
    W artykule przedstawiono nowy układ pomiarowy do pomiarów stałoprądowych charakterystyk diod. Autorzy zaproponowali układ do pomiarów impulsowych w celu zachowania niezależności wyników od zmian temperatury diody. Do wytworzenia odpowiednio dużej liczby punktów pomiarowych wartości prądu wykorzystano układ zmodyfikowanej drabinki R-2R) z pojedynczymi kluczami sterującymi. Do sterowania system pomiarowym wykorzystano specjalnie opracowaną aplikację w środowisku LabView.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2012, 31; 41-44
    1425-5766
    2353-1290
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Metody analizy szumu telegrafistów przyrządów półprzewodnikowych
    Methods of analysis of random telegraph signal noise (RTS noise) of semiconductor devices
    Autorzy:
    Cichosz, J.
    Konczakowska, A.
    Stawarz-Graczyk, B.
    Szatkowski, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/153818.pdf
    Data publikacji:
    2008
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    szum telegrafistów
    metody identyfikacji szumu telegrafistów
    przetwarzanie cyfrowe szumu
    random telegraph noise signal
    methods of RTS noise identification
    digital processing of noise
    Opis:
    Scharakteryzowano szum telegrafistów (Random Telegraph Signal - RTS), który może występować w szumie własnym przyrządów półprzewodnikowych, jako składowa niegaussowska. Podkreślono, że szum telegrafistów jest efektem defektów materiałów zastosowanych w produkcji przyrządów półprzewodnikowych lub nieprawidłowości procesu produkcyjnego. Przedstawiono metody identyfikacji wielopoziomowego szumu telegrafistów, na przykładzie przebiegów szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych.
    The Random Telegraph Signal noise which can occur in inherent noise of semiconductor devices as a non-Gaussian component is characterized. It was emphasized that the RTS noise is caused by defects of applied materials or manufacturing incorrectness. The methods of identification of multilevel RTS noise in an inherent noise of semiconductor devices are presented.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2008, R. 54, nr 3, 3; 91-94
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    System identyfikacji szumów RTS transoptorów CNY17
    System for identification of RTS noise in CNY17 optocoupler devices
    Autorzy:
    Erenc, R.
    Konczakowska, A.
    Stawarz-Graczyk, B.
    Wójcik, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/267503.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
    Tematy:
    szum RTS
    transoptor
    metoda Wzorów Obrazów Szumów (WOS)
    RTS noise
    optocoupler device
    Noise Scattering Pattern (NSP) method
    Opis:
    W artykule opisano zaprojektowany i wykonany system do identyfikacji szumów wybuchowych (RTS – Random Telegraph Signal) występujących w transoptorach typu CNY17. Z metod umożliwiających ocenę parametrów szumów wybuchowych wybrano do realizacji metodę Wzorów Obrazów Szumów – WOS (ang. Noise Scattering Patterns – NSP), która w sposób bardzo prosty pozwala na rozpoznawanie szumów o rozkładach wartości chwilowych gaussowskich i niegaussowskich. Zaprojektowany system składa się z części analogowej umożliwiającej pomiar parametrów sygnału szumowego transoptorów oraz części cyfrowej realizującej przetwarzanie sygnału szumowego. System automatycznie testuje transoptory CNY17, przetwarza uzyskane dane, które następnie są prezentowane na wyświetlaczu graficznym.
    In the paper the universal system for identification of Random Telegraph Signal (RTS) noise as a non-Gaussian component of the inherent noise signal in CNY17 optocoupler devices is presented. To identification of RTS noise the Noise Scattering Patterns (NSP) method was chosen. The method allows to identify the Gaussian and non-Gaussian distributions of noise temporary values in a very simple way. Impulses are characterized by constant amplitude and random occurrence of impulses. The system consists of two main parts: the measurement circuit and a data acquisition circuit. The system automatically tests optocouplers and the results are presented on graphic display of the device.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2015, 46; 31-34
    1425-5766
    2353-1290
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Diffraction phase microscopy for observation on red blood cells fluctuation
    Układ do obserwacji fluktuacji erytrocytów z wykorzystaniem dyfrakcyjnego mikroskopu fazowego
    Autorzy:
    Babicz-Kiewlicz, S.
    Stawarz-Graczyk, B.
    Wierzba, P.
    Mazikowski, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/268183.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
    Tematy:
    diffraction phase microscopy
    RBC
    medical diagnostics
    dyfrakcyjny mikroskop fazowy
    diagnostyka medyczna
    Opis:
    Nowadays there is quite huge need for more and more precise and effective fast diagnostics methods in hematology diseases. One of the most important blood components are erythrocytes – RBCs (Red Blood Cells). Due to their size they are easy to observe using microscopy. It is commonly known that the shape and lifetime of RBCs allows for early disease identification. Authors present special measurement system for RBCs fluctuations observation using diffraction phase microscopy which is also described in theory.
    Istnieje zapotrzebowanie na coraz bardziej precyzyjne i bardziej efektywne metody szybkiej diagnostyki w kierunku chorób hematologicznych. Jednym z głównych składników krwi są erytrocyty (RBC –Red Blood Cells), które z uwagi na swój rozmiar mogą być łatwo obserwowalne. Powszechnie wiadomo, że kształt i długość życia tych komórek pozwala na wczesną identyfikację stanów chorobowych. Najnowsze wyniki badań świadczą też, że oprócz tych cech istotną informację zawiera przebieg fluktuacyjny erytrocytów. Autorzy proponują układ do obserwacji fluktuacji czerwonych komórek krwi z wykorzystaniem dyfrakcyjnego mikroskopu fazowego.
    Źródło:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2015, 46; 13-16
    1425-5766
    2353-1290
    Pojawia się w:
    Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-7 z 7

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies