Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Seker, H." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-2 z 2
    Tytuł:
    Physical properties of hazelnuts
    Autorzy:
    Ercisli, S.
    Ozturk, I.
    Kara, M.
    Kalkan, F.
    Seker, H.
    Duyar, O.
    Erturk, Y.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/25559.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Agrofizyki PAN
    Tematy:
    physical property
    hazelnut
    mechanical property
    nut
    kernel
    genotype
    plant cultivar
    Corylus avellana
    orchard
    Turkey
    Źródło:
    International Agrophysics; 2011, 25, 2
    0236-8722
    Pojawia się w:
    International Agrophysics
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Electrical Characterizations of Schottky Diodes οn ITO Modified by Aromatic SAMs
    Autorzy:
    Havare, A.
    Okur, S.
    Yagmurcukardes, N.
    Can, M.
    Aydin, H.
    Seker, M.
    Demic, S.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1400033.pdf
    Data publikacji:
    2013-02
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    73.20.Hb
    73.20.Mf
    73.21.-b
    73.22.-f
    73.25.+i
    73.40.Ei
    73.40.Jn
    73.40.Ns
    Opis:
    In order to understand the electronic properties of the organic Schottky diode, ITO/TPD/Al and ITO/SAM/TPD/Al organic Schottky devices were fabricated to obtain current-voltage characteristics. From the slopes and y-axis intercepts of the plots, the values of the ideality factor, barrier heights of the ITO/SAM/TPD/Al diode were determined as 2.03 and 0.56 eV, respectively. The surface characterizations of modified and unmodified ITO were performed via atomic force microscopy.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2013, 123, 2; 456-458
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-2 z 2

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies