Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Reszka, P." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-8 z 8
    Tytuł:
    Numerical analysis of the screw connection with preload tension used in the mounting of slewing bearings
    Autorzy:
    Reszka, P.
    Kania, L.
    Pytlarz, R.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/246678.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych
    Tematy:
    slewing bearings
    screw connection
    preload tension
    FEM
    Opis:
    Slewing bearings are used as devices that connect two part working machine, usually with a rotating chassis body must meet safety criteria, manage to cope with extreme loads and environmental factors operation life. In this paper the distribution of pressure on surfaces of the screw's connections with preload tension is considered. A joining model which is used in rolling bearing is the subject of the analysis. The aim of the work is to introduce an auxiliary criterion of 'connection tightness' to the calculating methodology of bearings' fastening connections with building structure. Considered part of the three-row roller bearing, rings bearings and mounting elements are modelled solid type, and the bolts are modelled with beam-type element introduced preload tension value equivalent catalogue. Connected elements of the screw head rigid elements. The screws used in such a combined coronary bearings are not close fit, and established contact between the surfaces of the rings and the building is not homogeneous. Work is not only dedicated to the stress of contact between the contact surfaces A and B, but also considered is the effect of pitch spacing of the screws on the pitch rolling element bearing in the numerical solution ADINA system was used to prepare numerical models of junction. The results of the calculations of pressure distributions for changeable screw's span are shown graphically and the table of percentages of the load loss of contact between the surfaces A and B of slewing bearing screw connection.
    Źródło:
    Journal of KONES; 2012, 19, 2; 465-472
    1231-4005
    2354-0133
    Pojawia się w:
    Journal of KONES
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analiza numeryczna wpływu przylegania kulki do bieżni łożysk wieńcowych na wartość współczynnika twardości
    Numerical analysis of the effect of osculation to hardness factor in slewing bearings
    Autorzy:
    Kania, L.
    Pytlarz, R.
    Reszka, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/210785.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
    Tematy:
    budowa maszyn
    łożyska wieńcowe
    zagadnienia kontaktowe
    współczynnik wpływu twardości
    machine design
    slewing bearings
    contact problems
    hardness factor
    Opis:
    W artykule przedstawiono tok postępowania oraz rezultaty analizy numerycznej zagadnienia kontaktowego występującego w łożyskach tocznych wieńcowych. Analiza dotyczyła wpływu stosunku promieni krzywizn stykających się ze sobą elementów pary tocznej łożyska, czyli kulki i bieżni, na współczynnik wpływu twardości. Współczynnik wpływu twardości jest szczególnie ważny w łożyskach wieńcowych, gdyż pozwala uwzględnić rożne twardości pary tocznej. Łożyska wieńcowe, m.in. ze względu na swoje znaczne rozmiary, są elementami maszyn, które sprawiają wiele trudności technologicznych związanych z ich wykonaniem. Jednym z kluczowych problemów jest hartowanie bieżni łożyskowych. Z tego też względu przy projektowaniu węzłów obrotu maszyny należy uwzględniać twardość współpracujących ze sobą elementów tocznych i bieżni, do czego służy współczynnik wpływu twardości. W pracy przeprowadzono obliczenia numeryczne z uwzględnieniem odkształceń plastycznych w strefie styku. W tym celu posłużono się metodą elementów skończonych, wykorzystując program ADINA.
    The paper presents the procedure and the results of numerical analysis of contact problems occurring in the slewing bearing. The analysis concerned the effect of osculation in contact pair of rolling bearings, the ball and raceway, on hardness factor. Hardness factor is particularly important in the large bearings, because it allows us to consider the different hardness of a contact pair. Slewing bearings, among other things for their substantial dimensions, are machine elements which cause a lot of technical difficulties associated with their workmanship. One of the key problems is the hardening of the bearing raceway. Therefore, designing the machine revolution nodes, the hardness of cooperating rolling elements and raceway should be considered, what for the correctional hardness factor is used. In this work, a numerical calculation considering the plastic deformation in the contact zone has been carried out. For this purpose, a finite element method using the ADINA program has been used.
    Źródło:
    Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej; 2013, 62, 1; 89-99
    1234-5865
    Pojawia się w:
    Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Photoemission Electronic Spectra οf CdTe/$Pb_{0.95}Eu_{0.05}Te$/CdTe
    Autorzy:
    Orlowski, B.
    Dziawa, P.
    Gas, K.
    Reszka, A.
    Mickievicius, S.
    Thiess, S.
    Drube, W.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1492971.pdf
    Data publikacji:
    2011-11
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    79.60.Jv
    71.20.Mq
    73.40.-c
    Opis:
    The synchrotron radiation was used to apply tunable high energy X-ray photoemission spectroscopy for investigation of electronic structure of semiconductor nanostructure CdTe/$Pb_{0.95}Eu_{0.05}Te$/CdTe/GaAs(001) top part. The $Pb_{0.95}Eu_{0.05}Te$ (6 nm thick) was buried under thin (22 nm) top layer of CdTe transparent for part of electrons photoemitted from $Pb_{0.95}Eu_{0.05}Te$ buried layer. The top layer of CdTe was sputtered by Ar ion bombardment for surface cleaning and for leaving the thickness of CdTe more transparent for photoelectrons emitted from buried layer. For these thickness of the top layer the photoemission energy distribution curves corresponding to the valence band and core levels electrons of the buried layer atoms were measured with application of synchrotron radiation of energy hν = 3510 eV. The measured spectra corresponding to the buried layer atoms were observed in the valence band region and in the high binding energy region for core levels of Pb 4f, Pb 3d. The valence band contribution and core levels Cd 4d and Cd 3d were obtained mainly from top cover layer. Measured Te 4d, Te 3d and Te 4d spectra possess contribution as well from top cover layer as from the buried layer. The amount of Eu atoms was to small to be reasonable detected and presented in the paper.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2011, 120, 5; 960-963
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Rosja: to nie było ludobójstwo : Katyń : rosyjska prokuratura wojskowa umarza śledztwo w sprawie mordu na polskich oficerach i cywilach
    Autorzy:
    Popowski, Sławomir.
    Reszka, Paweł.
    Mikos-Skuza, Elżbieta.
    T.T.S.
    Kulesza, Witold.
    Przewoźnik, Andrzej.
    Parsadanova, Valentyna.
    Powiązania:
    Rzeczpospolita 2005, nr 60, s. A1, A4
    Współwytwórcy:
    JAP. Opracowanie
    AKA. Opracowanie
    S.P. Opracowanie
    P.W.R. Opracowanie
    Data publikacji:
    2005
    Tematy:
    Sprawa katyńska śledztwo i dochodzenie Rosja
    Egzekucja polskich oficerów w Charkowie śledztwo i dochodzenie Rosja
    Egzekucja polskich oficerów w Katyniu śledztwo i dochodzenie Rosja
    Egzekucja polskich oficerów w Twerze śledztwo i dochodzenie Rosja
    Prokuratura wojskowa Rosja
    Opis:
    Fot.; Zawiera: Co to jest ludobójstwo: dr Elżbieta Mikos-Skuza z Uniwersytetu Warszawskiego, specjalistka od międzynarodowego prawa konfliktów zbrojnych / not. JAP; Rotfeld i Ławrow o stosunkach polsko-rosyjskich / T.T.S.; Powiedzieli "Rzeczpospolitej" / [wypow.:] prof. Witold Kulesza, szef Pionu Śledczego IPN, Andrzej Przewoźnik, sekretarz generalny Rady Ochrony Pamięci Walk i Męczeństwa, prof. Walentyna Parsadanowa, współautorka książki "Syndrom Katyński w stosunkach polsko-radzieckich i polsko-rosyjskich" / not. AKA, S.P., P.W.R.; Kalendarium polskiego śledztwa / AKA.
    Dostawca treści:
    Bibliografia CBW
    Artykuł
    Tytuł:
    Ferromagnetic Transition in $Ge_{1-x}Mn_{x}Te$ Layers
    Autorzy:
    Knoff, W.
    Domukhovski, V.
    Dybko, K.
    Dziawa, P.
    Jakieła, R.
    Łusakowska, E.
    Reszka, A.
    Świątek, K.
    Taliashvili, B.
    Story, T.
    Szałowski, K.
    Balcerzak, T.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1791343.pdf
    Data publikacji:
    2009-11
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    75.50.Pp
    75.30.Et
    81.15.Hi
    Opis:
    Ferromagnetic transition temperature in thin layers of diluted magnetic (semimagnetic) semiconductor $Ge_{1-x}Mn_{x}Te$ was studied experimentally by SQUID magnetometry method and analyzed theoretically for a model Ising-type diluted magnetic system with Ruderman-Kittel-Kasuya-Yosida indirect exchange interaction. The key features of the experimentally observed dependence of the Curie temperature on Mn content (x ≤ 0.12) and conducting hole concentration p = (1-10) × $10^{21} cm^{-3}$ were reproduced theoretically for realistic valence band and crystal lattice parameters of p-$Ge_{1-x}Mn_{x}Te$ taking into account short carrier mean free path encountered in this material and Ruderman-Kittel-Kasuya-Yosida mechanism with both delta-like and diffused character of spatial dependence of the exchange coupling between magnetic ions and free carriers.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2009, 116, 5; 904-906
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Magnetic Properties of Epitaxial (Ge,Mn)Te Thin Films with Varying Crystal Stoichiometry
    Autorzy:
    Knoff, W.
    Domukhovski, V.
    Dybko, K.
    Dziawa, P.
    Górska, M.
    Jakieła, R.
    Łusakowska, E.
    Taliashvili, B.
    Story, T.
    Reszka, A.
    Anderson, J.
    Rotundu, C.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1811940.pdf
    Data publikacji:
    2008-11
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    75.50.Pp
    Opis:
    Magnetization of 1 μm thick ferromagnetic IV-VI (Ge, Mn)Te semiconductor layers with 10 at.% of Mn was studied by SQUID magnetometry method up to the magnetic fields of 70 kOe. The layers were grown on BaF₂ (111) substrates by molecular beam epitaxy with varying Te molecular flux, which permitted the control of layer stoichiometry and conducting hole concentration. X-ray diffraction and in situ electron diffraction characterization of layer growth and crystal structure revealed two-dimensional mode of growth and monocrystalline rhombohedral crystal structure of (Ge, Mn)Te layers. Controlling the layer stoichiometry influences the temperature dependence of magnetization with the ferromagnetic Curie temperature varying in $Ge_{0.9}Mn_{0.1}Te$ layers from $T_c$=30 K (low Te flux) to $T_c$=42 K (high Te flux).
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2008, 114, 5; 1159-1165
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-8 z 8

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies