Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Pralgauskaitė, S." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Light-Emitting Diode Degradation and Low-Frequency Noise Characteristics
Autorzy:
Šaulys, B.
Matukas, J.
Palenskis, V.
Pralgauskaitė, S.
Kulikauskas, G.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1505229.pdf
Data publikacji:
2011-04
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
72.70.+m
74.40.-n
85.30.-z
85.60.Jb
Opis:
Comprehensive investigation of phosphide-based red and nitride-based blue light-emitting diodes characteristics and physical processes that take place in device structure during aging has been carried out. Analysis of noise characteristics (the emitting-light power and the LED voltage fluctuations, also their cross-correlation factor) shows that investigated LEDs degradation is caused by defects that lead to the leakage current and non-radiating recombination increase in the active region or its interfaces. Appearance of the defects first of all manifests in noise characteristics: intensive and strongly correlated $1//f^{α}$ type optical and electrical fluctuations come out.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 119, 4; 514-520
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Optical and Electrical Noise Characteristics of Side Emitting LEDs
Autorzy:
Šaulys, B.
Kornijčuk, V.
Matukas, J.
Palenskis, V.
Pralgauskaitė, S.
Glemža, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1506222.pdf
Data publikacji:
2011-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
72.70.+m
74.40.-n
85.60.Jb
Opis:
Low frequency noise characteristics of nitride based blue side emitting diodes have been investigated. It is shown that investigated devices distinguish by $1//f^α$-type optical and electrical fluctuations caused by various generation-recombination processes through defects formed generation-recombination centers. At higher frequencies optical shot noise due to random photon emission prevails $1//f^α$-type spectrum. The results have shown that low frequency optical and electrical noises are strongly correlated at small current region, but at higher forward current not correlated noise components dominate. Lenses and secondary optics of the investigated devices do not influence output light.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 119, 2; 244-246
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Reliability and low-frequency noise measurements of InGaAsP MQW buried-heterostructure lasers
Autorzy:
Pralgauskaite, S.
Matukas, J.
Palenskis, V.
Šermukšnis, E.
Vyšniauskas, J.
Letal, G.
Mallard, R.
Smetona, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/309229.pdf
Data publikacji:
2003
Wydawca:
Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
dioda laserowa
szumy
laser diode
low-frequency noise
optical noise
electrical noise
correlation factor
reliability
Opis:
A laser diode reliability test based on the measurements of the low-frequency optical and electrical noise, and their correlation factor changes during short-time ageing is presented. The noise characteristics reveal obvious differences between the stable and unreliable lasers operated near the threshold region. An excessive Lorentzian type noise with negative correlation factor at the threshold could be one of the criteria for identifying unreliable lasers. The behavior of unreliable lasers during ageing could be explained by migration of point recombination centres at the interface of an active layer, and by the formation of defect clusters.
Źródło:
Journal of Telecommunications and Information Technology; 2003, 1; 24-29
1509-4553
1899-8852
Pojawia się w:
Journal of Telecommunications and Information Technology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies