Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Moszczynski, P." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-5 z 5
Tytuł:
Symulacja zjawisk zachodzących w ciekłokrystalicznej komórce hybrydowej
Simulation of phenomena occurring in the liquid crystal hybrid cell
Autorzy:
Moszczyński, P.
Walczak, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/404111.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polskie Towarzystwo Symulacji Komputerowej
Tematy:
symulator
komórka hybrydowa
komórka ciekłokrystaliczna
metody numeryczne
simulator
hybrid cell
liquid crystal cell
numerical methods
Opis:
W publikacji prezentowana jest metoda wyznaczania współczynnika załamania w nieprzewodzących ciekłokrystalicznych komórkach hybrydowych. Wcześniej wykazano, że taka komórka jest nowym rozwiązaniem dla fotoniki [1,2]. Opisywana metoda obejmuje modele fizyczne i matematyczne zjawisk istotnych dla obserwowanego w tych urządzeniach photorefractive-like effect. W oparciu o prezentowaną metodę powstał symulator komórki hybrydowej. Umożliwia on projektowanie komórek tego typu i pozwala na badanie, jak zaprojektowane przez użytkownika urządzenie zmienia swoje właściwości optyczne pod wpływem pola sterującego i oświetlenia. W artykule opisano główne założenia modeli matematycznych stosowanych w opisywanej metodzie. Ponadto przedstawiono algorytmy pozwalające uzyskać rozwiązanie numeryczne proponowanych modeli.
In the publication, we present a method for determining the refractive index of the nonconductive liquid crystal hybrid cell. We have previously shown that this cell is a new solution for photonics [1, 2]. This method involves physical and mathematical models of the phenomena relevant to that observed in these devices photorefractive-like effect. Based on the presented method was established hybrid cell simulator. This simulator enables the design of cells of this type and allows the study as designed by the user device changes its optical properties under the control field and lighting. In this paper we describe the main assumptions of the mathematical models used in the described method. In addition, we present algorithms in order to obtain a numerical solution proposed models.
Źródło:
Symulacja w Badaniach i Rozwoju; 2015, 6, 2; 115-123
2081-6154
Pojawia się w:
Symulacja w Badaniach i Rozwoju
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The directed enzymatic casein hydrolysis
Autorzy:
Idziak, J.
Moszczynski, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1371657.pdf
Data publikacji:
1993
Wydawca:
Instytut Rozrodu Zwierząt i Badań Żywności Polskiej Akademii Nauk w Olsztynie
Tematy:
enzymatic hydrolysis
phenylketonuria
endopeptidase
biochemistry
enzyme
exopeptidase
proteolytic enzyme
chymotrypsin
phenylalanine
casein
leucine peptidase
hydrolysis
carboxypeptidase A
Źródło:
Polish Journal of Food and Nutrition Sciences; 1993, 02, 1; 75-81
1230-0322
2083-6007
Pojawia się w:
Polish Journal of Food and Nutrition Sciences
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Nonlinear optimization approach to determine optical dispersion in liquid crystals
Autorzy:
Marciniak, P.
Moszczyński, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/173291.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
optical dispersion
phase of reflection
liquid crystal
nonlinear optimization
Fabry-Perot filter
Opis:
We report the method of calculating optical dispersion of selected nematic liquid crystals using maxima positions of a transmittance filled Fabry–Pérot filter. Additionally, the profiles of a dispersive phase of reflection have been calculated. The transmittance of Fabry–Pérot filter was described as a form of a modified Airy formulae (with parameters dependence on wavelength and phase of reflection). To correctly use this function, additionally the phase of reflection is defined, taking into account the problem of a beam penetrating the mirror structure. The authors of this work assume that the point where the beam is reflected is not created strictly on the boundary of media, but it is moved into the mirror structure. The depth of the penetration changes the optical way of the wave and in consequence – the optical width of the Fabry–Pérot filter cavity. The parameter describing this phenomenon was named as a phase of reflection. This work presents how to calculate: the phase of reflection, one of refractive indices of birefringent medium inside Fabry–Pérot filter and the cavity width at the same time with the use of composed nonlinear optimization methods. The proposed method is an alternative for a reverse task solution which is hard to define properly here.
Źródło:
Optica Applicata; 2016, 46, 4; 619-628
0078-5466
1899-7015
Pojawia się w:
Optica Applicata
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Symulacja filtra interferencyjnego dla zakresu terahercowego
Simulation of interference terahertz filter
Autorzy:
Marciniak, P.
Walczak, A.
Moszczyński, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/403975.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polskie Towarzystwo Symulacji Komputerowej
Tematy:
filtr Fabry’ego-Perota
filtr terahercowy
Fabry-Perot filter
THz band pass filter
Opis:
W artykule zaprezentowano model do wyznaczania i modyfikacji parametrów filtra interferencyjnego w układzie Fabry’ego-Perota wypełnionego ośrodkiem o pomijalnej dyspersji dla zakresu terahercowego. W modelu uwzględniona została jedynie dyspersja materiału ścianek filtra. Model - umożliwia wyznaczenie szerokości wnęki filtra oraz znalezienie profilu współczynnika odbicia ścianek filtra (zwierciadeł), który najlepiej dopasowuje profil transmitancji teoretycznej do profilu transmitancji rzeczywistej.
In this article we present model of Fabry-Perot filter for calculation and modification selected parameters like transmittance, cavity width and profile of the coefficient of reflection. This model includes information about dispersive coefficient of reflection of filter plates. Application allows us to observe change of transmittance in dependency on filter construction as well as phase of reflection.
Źródło:
Symulacja w Badaniach i Rozwoju; 2015, 6, 2; 105-113
2081-6154
Pojawia się w:
Symulacja w Badaniach i Rozwoju
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Multi-technique characterisation of InAs-on-GaAs wafers with circular defect pattern
Autorzy:
Boguski, Jacek
Wróbel, Jarosław
Złotnik, Sebastian
Budner, Bogusław
Liszewska, Malwina
Kubiszyn, Łukasz
Michałowski, Paweł P.
Ciura, Łukasz
Moszczyński, Paweł
Odrzywolski, Sebastian
Jankiewicz, Bartłomiej
Wróbel, Jerzy
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2204219.pdf
Data publikacji:
2023
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Stowarzyszenie Elektryków Polskich
Tematy:
wafer homogeneity
wafer defect pattern
surface roughness
indium arsenide
beryllium doping
Opis:
The article presents the results of diameter mapping for circular-symmetric disturbance of homogeneity of epitaxially grown InAs (100) layers on GaAs substrates. The set of acceptors (beryllium) doped InAs epilayers was studied in order to evaluate the impact of Be doping on the 2-inch InAs-on-GaAs wafers quality. During the initial identification of size and shape of the circular pattern, non-destructive optical techniques were used, showing a 100% difference in average roughness between the wafer centre and its outer part. On the other hand, no volumetric (bulk) differences are detectable using Raman spectroscopy and highresolution X-ray diffraction. The correlation between Be doping level and circular defect pattern surface area has been found.
Źródło:
Opto-Electronics Review; 2023, 31, Special Issue; art. no. e144564
1230-3402
Pojawia się w:
Opto-Electronics Review
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-5 z 5

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies