Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Machalica, P." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Procedura weryfikacji metrologicznej potokowego, zautomatyzowanego systemu do kontroli przemysłowych wyrobów elektrycznych
The metrological verification procedure of automatic testing system for industrial electrical products
Autorzy:
Kern, J.
Machalica, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/157432.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
system pomiarowy
weryfikacja metrologiczna
measurement system
metrological verification
Opis:
Referat przedstawia rozwiązanie problemu weryfikacji funkcjonalnej i metrologicznej zautomatyzowanego systemu do testowania wyrobów elektrycznych, systemu o podwyższonych wymaganiach z zakresu wydajności i wiarygodności wyników oceny wyrobów. Procedura, opracowana w oparciu o analizę niezawodnościową i opracowany zbiór etalonów, modelujących parametry testowanych obiektów, integruje dwie techniki diagnostyczne - współbieżne, permanentne monitorowanie stanów połączeń przemieszczanych głowic pomiarowych; oraz -okresową diagnostykę, w postaci dwu różnych działań -weryfikacji funkcjonalnej oraz weryfikacji niepewności pomiarowych systemu.
The paper presents the solution of the functional and metrological verification of the automatic system, developed for testing electrical products. The system is characterized by high speed of testing and high level of classification quality. The procedure is developed on the basis of reliability analyses and a special set of etalons, designed for modelling the characteristic of the product under test. The verification procedure integrates two diagnostic methods – concurrent, permanent monitoring of the states of moving test head connectors, and periodic diagnostics – in a form of two different activities- functional verification and metrological verification.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 368-371
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wybrane aspekty projektowania systemu do kontroli i segregacji kondensatorów przeciwzakłóceniowych
The selected aspects of noise suppression capacitor testing system design
Autorzy:
Studziński, P.
Machalica, P.
Biernacki, K.
Młynarski, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/258160.pdf
Data publikacji:
2008
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
transmisja szeregowa
GPIB
mostek RLC
kontakty teleskopowe
układ kontroli
mechatronika
silnik krokowy
sterownik PLC
serial transmission
spring contacts
RLC bridge
contact checking modules
mechatronics
stepper motor
PLC controller
Opis:
W artykule przedstawiono strukturę systemu do sprawdzania kondensatorów przeciwzakłóceniowych oraz schemat stanowiska pomiarowego. Z racji złożoności tego systemu, w ramach prac projektowych wykonano analizę rodzajów i skutków niezdatności (FMEA). W wyniku analizy wyselekcjonowano te rodzaje niezdatności, które są szczególnie istotne dla zapewnienia jakości działania systemu (niezdatność kontaktów elektrycznych oraz niezdatność parametryczna, polegająca na nadmiernym i niekontrolowanym wzroście niepewności pomiarów ponad granice dopuszczalnej tolerancji). Wyniki analizy FMEA poddano weryfikacji praktycznej przez opracowanie i zbadanie modeli głównych modułów systemu (pomiarowych i mechatronicznych), które decydują o precyzji pomiarów i wydajności testowania. Pozytywnie zweryfikowano procedury pomiarów głównych parametrów kondensatorów, przewidzianych do realizacji w ramach systemu do testowania. Zweryfikowano także układ detekcji impulsów prądu oraz układ kontroli kontaktów pomiarowych. W ramach badań doświadczalnych sprawdzano modele układów ładowania i rozładowania, bardzo zbliżone do przewidywanych rozwiązań docelowych. Wyniki doświadczalne pozwalają na optymalny dobór elementów, rzutujących na jakość badań i bezpieczeństwo obsługi systemu, tj.: przekaźniki wysokonapięciowe, rezystory mocy, kontakty teleskopowe. Na podstawie zebranych doświadczeń opracowano projekt oraz zbudowano model systemu do kontroli kondensatorów przeciwzakłóceniowych, który zostanie wdrożony w firmie Miflex S.A. w Kutnie.
This paper presents the concept of a measurement system for capacitor testing. The diagram of the measurement stand has been also shown. Because of the high system complexity during design phase, Failure Mode and Effects Analysis (FMEA) was carried out. As the result of the FMEA analysis, the failures that are particularly important for the quality of system operation were selected (electrical contact failures and parametric failures, i.e. an excessive and uncontrolled rise in measurement uncertainty above the limits of acceptable tolerance). The results of FMEA analysis were practically verified using the models (mechatronic and measurement models) of the main system modules that were designed and tested and which decide on the measurement accuracy and efficiency of testing. The measurement procedures for the main parameters of capacitors were also positively verified. The current pulse detection modules and measurement contact checking circuits were verified too. The main problems related to the quality of testing as well as their solutions have been presented. Many tester modules, e.g. measurement head, pulse detector, high voltage relays, and pneumatic cylinders, that have direct effect on the quality of tests and operator safety have been also checked. The Capacitor Testing System that has been designed and will be used in Miflex S.A. in Kutno has also been presented together with its characteristic parameters.
Źródło:
Problemy Eksploatacji; 2008, 4; 175-187
1232-9312
Pojawia się w:
Problemy Eksploatacji
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Photoelectronic measurement methods and the universal measurement system for precise parameter determination of semiconductor structures
Autorzy:
Machalica, P.
Porębski, S.
Zając, J.
Borowicz, L.
Kudła, A.
Przewłocki, H. M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/378409.pdf
Data publikacji:
2002
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Elektronowej
Opis:
In this article a new Multifunctional System for Photoelectric Measurements of Semiconductor Structures (MSPM) is presented. The system enables very accurate photocurrent measurements at levels as low as 10 fA. Measured structures can be biased by sequences of DC voltages and stimulated by light beams of predefined wavelengths and powers. The software controls all the system actions allowing flexibility in retrieving data stored in the related databases.
Źródło:
Electron Technology : Internet Journal; 2001-2002, 34, 5; 1-7
1897-2381
Pojawia się w:
Electron Technology : Internet Journal
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies