Photoelectronic measurement methods and the universal measurement system for precise parameter determination of semiconductor structures

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Photoelectronic measurement methods and the universal measurement system for precise parameter determination of semiconductor structures
Autorzy:: Machalica, P.
Porębski, S.
Zając, J.
Borowicz, L.
Kudła, A.
Przewłocki, H. M.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/378409.pdf
Data publikacji:: 2002
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Elektronowej
Źródło:: Electron Technology : Internet Journal; 2001-2002, 34, 5; 1-7
1897-2381
Język:: angielski
Prawa:: Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki
: Artykuł

Przejdź do źródła

In this article a new Multifunctional System for Photoelectric Measurements of Semiconductor Structures (MSPM) is presented. The system enables very accurate photocurrent measurements at levels as low as 10 fA. Measured structures can be biased by sequences of DC voltages and stimulated by light beams of predefined wavelengths and powers. The software controls all the system actions allowing flexibility in retrieving data stored in the related databases.

Informacja

Powiązane pozycje