Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Kang, Z." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-7 z 7
Tytuł:
Real-time optical demultiplexing with the chirped pulses
Autorzy:
Li, Y.
Zhang, X.
Yuan, J.
Kang, Z.
Sang, X.
Kang, S.
Kang, X.
Yan, B.
Wang, K.
Yu, C.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/175106.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
linearly chirped pulse
parametric process
real-time optical demultiplexing
Opis:
A scheme for real-time optical demultiplexing is proposed by utilizing the time-broadened and linearly chirped pulses instead of the conventional mode-locked pulses. The copies of the optical-time-division-multiplexed signal are acquired through a dual-pump parametric gate and used as the parametric multicast block. Simulation results show that the demultiplexing from 160 Gb/s down to sixteen 10 Gb/s tributaries can be achieved only by using a sampling source of 10 GHz. The proposed scheme can effectively reduce the complexity of parallel processing, and find important applications in the high-speed all-optical signal processing.
Źródło:
Optica Applicata; 2018, 48, 4; 621-632
0078-5466
1899-7015
Pojawia się w:
Optica Applicata
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Modelowanie dynamiczno-niezawodnościowe systemów z uszkodzeniami o wspólnej przyczynie w warunkach obciążenia losowego
Dynamic reliability modeling of systems with common cause failure under random load
Autorzy:
Wang, Z.
Kang, R.
Xie, L.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/301690.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
dynamiczna niezawodność
uszkodzenie o wspólnej przyczynie
niezawodność systemu
stopa ryzyka
interferencja
obciążenie
wytrzymałość
dynamic reliability
common cause failure
system reliability
hazard rate
load-strength interference
Opis:
Artykuł przedstawia nową metodę tworzenia modeli dynamiczno-niezawodnościowych systemów, w których niezawodność i stopa ryzyka wyrażane są jako funkcje obciążenia, wytrzymałości i czasu. W pierwszej części artykułu przedstawiono sposób tworzenia modeli niezawodnościowych systemów z uszkodzeniami o wspólnej przyczynie stosując model interferencji pomiędzy obciążeniem a wytrzymałością, oraz wyprowadzono funkcje rozkładu kumulacyjnego oraz gęstości prawdopodobieństwa wytrzymałości dla różnych systemów. Utworzono także modele niezawodnościowe systemów w warunkach cyklicznego obciążenia losowego. Następnie opisano proces obciążania jako proces stochastyczny Poissona oraz wyprowadzono dynamiczne modele niezawodnościowe systemów o nie zmniejszającej się i zmniejszającej się wytrzymałości. Na koniec omówiono związek pomiędzy niezawodnością i czasem oraz stopę ryzyka systemów. Wyniki pokazują, że nawet przy nie zmniejszającej się wytrzymałości, niezawodność systemów zmniejsza się wraz z upływem czasu, podobnie jak ich stopa ryzyka. Gdy spada wytrzymałość, niezawodność systemów zmniejsza się szybciej wraz z upływającym czasem. Proponowane modele można wykorzystywać przy ustalaniu czasu trwania pracy próbnej, czasu niezawodnej pracy oraz harmonogramu eksploatacyjnego. Są one pomocne w zarządzaniu cyklem życia systemów.
This paper presents a new method for developing the dynamic reliability model of systems, in which reliability and hazard rate of systems are expressed as functions of load, strength and time. First, reliability models of systems with common cause failure are developed by applying the load-strength interference model, and the cumulative distribution function and the probability density function of strength for different systems are derived. Reliability models of systems under repeated random load are developed. Then, the loading process is described as a Poisson stochastic process, the dynamic reliability models of systems without strength degeneration and those with strength degeneration are derived. Finally, the relationship between reliability and time, and the hazard rate of systems, are discussed. The results show that even if strength does not degenerate, the reliability of systems decreases over time, and the hazard rate of systems decreases over time, too. When strength degenerates, the reliability of systems decreases over time more rapidly, and the hazard rate curves of systems are bathtub-shaped. The models proposed can be applied to determine the duration of a trial run, the reliable operation life and the maintenance schedule. It is helpful for the life cycle management of systems.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2009, 3; 47-54
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Algorytm do oceny i analizy stacjonarnej dostępności operacyjnej oparty na specyfikacji wymagań
An algorithm for evaluation and analysis of stationary operational availability basing on mission requirements
Autorzy:
Wang, N.
Kang, R.
Jia, Z.
Wang, L.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/301045.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
dostępność operacyjna
stan stacjonarny
niezawodność
obsługiwalność
części zapasowe
operational availability
stationary state
reliability
maintainability
spare parts
Opis:
Zarówno metody matematyczne jak i symulacyjne mają ograniczenia jeśli chodzi o ocenę stacjonarnej dostępności operacyjnej. Te pierwsze zakładają, że popyt jest niezależny od systemu operacyjnego, co może skutkować niedoszacowaniem dostępności operacyjnej. Te drugie wymagają dużej liczby prób, aby uzyskać wyniki o wystarczającym stopniu ufności w warunkach wcześniej określonych scenariuszy. Niniejszy artykuł zajmuje się problemem określenia stacjonarnej dostępności operacyjnej na podstawie modeli matematycznych. Proponowany model bierze pod uwagę wiele czynników, wliczając w to pasywację systemu, specyfi kację wymagań, parametry projektowe systemu, liczbę działających systemów, czas realizacji oraz czas obsługi. Artykuł przedstawia metodę aproksymacji dostępności operacyjnej. Użyty przykład ilustruje związek pomiędzy wyżej wspomnianymi czynnikami. Doświadczenia numeryczne pokazują, że model ten jest zgodny z wynikami symulacji Monte Carlo, potwierdzając realność i racjonalność proponowanej metody.
Both mathematical and simulation methods have limitations for evaluation of stationary operational availability. The former assumes that demand is independent of the operating system, which can result in underestimation of the operational availability. The latter requires a large number of trials to obtain the results with a suffi cient degree of confi dence under the pre-specifi ed scenarios. This paper addresses the issue of determining the stationary operational availability based on mathematical models. The proposed model considers many factors including system passivation, mission requirements, system design parameters, the number of working systems, lead time, and maintenance time. An approximation method to the operational availability is given. Specifi c example is used to illustrate the relationship among the aforementioned factors. Numerical experiments show that the model agrees well with Monte Carlo simulation results and the feasibility and rationality of the proposed method are validated.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2010, 2; 31-35
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Analysis Of Factors Affecting Gravity-Induced Deflection For Large And Thin Wafers In Flatness Measurement Using Three-Point-Support Method
Autorzy:
Liu, H.
Dong, Z.
Kang, R.
Zhou, P.
Gao, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/220380.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
flatness measurement
large and thin silicon wafer
GID
three-point-support method
initial stress
Opis:
Accurate flatness measurement of silicon wafers is affected greatly by the gravity-induced deflection (GID) of the wafers, especially for large and thin wafers. The three-point-support method is a preferred method for the measurement, in which the GID uniquely determined by the positions of the supports could be calculated and subtracted. The accurate calculation of GID is affected by the initial stress of the wafer and the positioning errors of the supports. In this paper, a finite element model (FEM) including the effect of initial stress was developed to calculate GID. The influence of the initial stress of the wafer on GID calculation was investigated and verified by experiment. A systematic study of the effects of positioning errors of the support ball and the wafer on GID calculation was conducted. The results showed that the effect of the initial stress could not be neglected for ground wafers. The wafer positioning error and the circumferential error of the support were the most influential factors while the effect of the vertical positioning error was negligible in GID calculation.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2015, 22, 4; 531-546
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Observation and Control of Interfacial Defects in ZnO/ZnSe Coaxial Nanowires
Autorzy:
Bhutto, W.
Wu, Z.
Cao, Y.
Wang, W.
Kang, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1361939.pdf
Data publikacji:
2014-04
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
62.23.Hj
61.46.Km
64.70.Nd
68.35.Ct
Opis:
ZnO/ZnSe coaxial nanowires with different ZnO core diameters were synthesized by using a two-step chemical vapor deposition. The scanning electron microscopy images demonstrated that the coaxial nanowires with small ZnO core diameter had the smoother surface than that with large ZnO core diameter. A coherent ZnSe layer with wurtzite structure was observed in the nanowire interface between the ZnO core and the ZnSe shell by high resolution transmission electron microscopy. This coherent layer is beneficial to reduce the defect density and improve the crystal quality by suppressing the phase transition. It was found that the coherent thickness was significantly related to the ZnO core diameter. For the nanowire with large ZnO core, a thin critical thickness of 2 - 3 nm was obtained. As a result, a layer of zinc blende ZnSe appeared outside the nanowire, and a lot of defects existed in the interface between the ZnSe layers with different phase structures. For the nanowire with small ZnO core, however, the critical thickness increased and a coherent coaxial structure was observed with the same lattice spacing in the ZnO core and the ZnSe shell. To obtain defect-free coaxial nanowire, an optimal structure was also proposed by theoretical calculation.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2014, 125, 4; 994-996
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A coumarin-based fluorescent probe for specific and rapid detection of fluoride ions
Autorzy:
Xin, Z.-H.
Meng, Y.-L.
Wu, Y.-H.
Feng, Z.-K.
Kang, Y.-F.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/778907.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie. Wydawnictwo Uczelniane ZUT w Szczecinie
Tematy:
Fluorion
Fluorescence
Coumarin
Probe
Bioimaging
Opis:
A simple and coumarin-based fluorescence probe has been designed and synthesized with silyl group as recognition group of fluoride ions (F−) in this study. The results showed that the fluorescence intensity of the probe displayed prominent enhancement with addition of F− at 445 nm with incubation of 1 min. There was an excellent linear relationship between fluorescence intensity and fluoride concentration from 0 to 30 μM (0~0.57 ppm), which offered the important condition for the quantitative analysis. In addition, the highly selective response to fluorion, the low detection limit with 28 nM (0.532 ppb), low toxicity and bioimaging afforded an advantage for practical application and detecting fluoride in biological systerms.
Źródło:
Polish Journal of Chemical Technology; 2018, 20, 4; 1-5
1509-8117
1899-4741
Pojawia się w:
Polish Journal of Chemical Technology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The effect of climatic conditions in successive plant growing seasons on the response of selected varieties of apple trees (Malus domestica Borkh.)
Autorzy:
Zydlik, Z.
Rutkowski, K.
Swierczynski, S.
Morkunas, I.
Yoon, H.-K.
Seo, J.-H.
Kang, K.-J.
Kleiber, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/14872.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Uniwersytet Warmińsko-Mazurski w Olsztynie / Polskie Towarzystwo Magnezologiczne im. Prof. Juliana Aleksandrowicza
Źródło:
Journal of Elementology; 2020, 25, 1
1644-2296
Pojawia się w:
Journal of Elementology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-7 z 7

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies