Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Gąska, R." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-5 z 5
Tytuł:
Prowadzenie ściany pod gruzowiskiem zawałowym w warunkach zmiennej grubości pozostawionej warstwy przyspągowej
The extraction of longwall panel located under goafs in the conditions of varying thickness of abandoned coal in the bottom layer
Autorzy:
Rajwa, S.
Prusek, S.
Szuścik, J.
Gąska, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/164130.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Górnictwa
Tematy:
eksploatacja ścianowa
zroby
obudowa zmechanizowana
strop
longwall extraction
goafs
powered support
roof
Opis:
W artykule przedstawiono proces doboru obudowy dla ściany 124 prowadzonej bezpośrednio pod zrobami zawałowymi warstwy przystropowej pokładu 510 na KWK „Mysłowice-Wesoła”. Następnie zaprezentowano trudności w jej prowadzeniu, w szczególności te wynikające ze znacznej zmienności grubości warstwy przyspągowej, w której prowadzona była ściana 124. Dodatkowe trudności wynikały zarówno z niewłaściwej współpracy obudowy zmechanizowanej z górotworem, jak i nadmiernego zużycia niektórych elementów kompleksu ścianowego.
This paper presents the process of powered support selection for the longwall 124, located under goafs of top layer seam no. 510, „Mysłowice-Wesoła” hard coal mine. Furthermore, the difficulties particularly due to the considerable variability of the thickness of the bottom layer which the wall 124 extracted, have been presented. Additional difficulties occurred as the result of improper co-operation of the powered support with the rockmass as well as excessive wear of some elements of the longwall complex.
Źródło:
Przegląd Górniczy; 2017, 73, 6; 33-37
0033-216X
Pojawia się w:
Przegląd Górniczy
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Influence of Electric Field and Carrier Localization on Carrier Dynamics in AlGaN Quantum Wells
Autorzy:
Mickevičius, J.
Tamulaitis, G.
Kuokštis, E.
Shur, M.
Yang, J.
Gaska, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1811960.pdf
Data publikacji:
2008-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.55.Cr
78.67.De
Opis:
Dynamics of nonequilibrium carriers in high-Al-content AlGaN/AlGaN multiple quantum wells was studied. A set of multiple quantum wells with well widths varying from 1.65 to 5.0 nm was grown by metal-organic chemical vapor deposition. The structures were investigated by photoluminescence spectroscopy under quasi-steady-state conditions. The observed blueshift of the photoluminescence band peak was attributed to the screening of the built-in electric field. The integrated photoluminescence intensity dependence on excitation and temperature showed a strong influence of carrier localization.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 114, 5; 1247-1252
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Luminescence Decay Kinetics in GaN Studied by Frequency Domain Measurements
Autorzy:
Mickevičius, J.
Vitta, P.
Tamulaitis, G.
Žukauskas, A.
Shur, M.
Zhang, J.
Yang, J.
Gaska, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1813195.pdf
Data publikacji:
2008-03
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
72.20.Jv
78.55.Cr
Opis:
Carrier dynamics in high-quality GaN epilayer was investigated at two extreme excitation levels. Carrier lifetime under high excitation conditions was estimated by using light-induced transient grating technique. Measurements at extremely low excitation power density were performed by using frequency-domain fluorescence lifetime technique. The study was performed in a wide temperature range from 8 to 300 K. The results revealed the influence of donor-acceptor pair recombination and carrier trapping processes.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 113, 3; 833-837
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Modelowanie czynników temperaturowych, wpływających na niepewność pomiaru, przy pomocy metody Monte Carlo
Modeling the uncertainty changes caused by temperature with use of the Monte Carlo method
Autorzy:
Sładek, J.
Kupiec, R.
Gąska, A.
Kmita, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/155367.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
WMP
Monte Carlo
niepewność
temperatura
CMM
uncertainty
temperature
Opis:
W artykule zaprezentowano wyniki analizy stosowania metody Monte Carlo (MMC) do modelowania wpływu temperatury w pomiarze współrzędnościowym, a co za tym idzie, wpływu temperatury na niepewność pomiaru. Dzięki opracowanym modelom możliwe jest ustalenie wpływu temperatury na niepewność pomiarów dla znanych kształtów i zadań pomiarowych, a następnie wykorzystanie ich jako składowych niepewności dla wyznaczania niepewności bardziej skomplikowanych kształtów metodą budżetu błędów oraz dla pomiaru symulowanego przy pomocy wirtualnej maszyny współrzędnościowej.
New possibilities of modeling the thermal influence on the accuracy of measurements have been investigated in the Laboratory of Coordinate Metrology in Cracow University of Technology. The analysis results of using MCM to model the thermal influence on coordinate measurements (standards, working objects, environmental conditions) as well as the uncertainty of these measurements (Paragraph 2) are given in the paper. Determining the mentioned thermal influence is important since temperature changes have a great (comparing to other uncertainty contributors) contribution to the measurement accuracy. For different cases the probability distribution functions were assigned to the modeled values and the best possibilities were established and presented in the paper (Tab. 1). Thanks to the created models it is possible to determine the thermal influence on the measurement uncertainty of known measuring tasks, and then to use it as the uncertainty component for evaluation of the uncertainty for more complicated shapes and for measurements simulated by a virtual coordinate machine. It is also possible to describe the thermal influence on measurements in case of lack of the thermal stabilization (Fig. 2). MMC proved to be useful in a calibration laboratory. The model created with its help will be used as a basis for further investigations of the thermal influence on the measurement accuracy (Paragraph 3).
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 1, 1; 10-12
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Virtual coordinate measuring machine built using Laser Tracer system and spherical standard
Autorzy:
Sładek, J.
Gąska, A.
Olszewska, M.
Kupiec, R.
Krawczyk, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/220886.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
virtual CMM model
Monte Carlo method
LaserTracer
Opis:
Improvements of modern manufacturing techniques implies more efficient production but also new challenges for coordinate metrologists. The crucial task here is a coordinate measurement accuracy assessment. It is important because according to technological requirements, measurements are useful only when they are stated with their accuracy. Currently used methods for the measurements accuracy estimation are difficult to implement and time consuming. It is therefore important to implement correct and validated methods that will also be easy to implement. The method presented in this paper is one of them. It is an on-line accuracy estimation method based on the virtual CMM idea. A model is built using a modern LaserTracer system and a common test sphere and its implementation lasts less than one day. Results obtained using the presented method are comparable to results of commonly used uncertainty estimation methods which proves its correct functioning. Its properties predispose it to be widely used both in laboratory and industrial conditions.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2013, 20, 1; 77-86
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-5 z 5

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies