Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Fröhlich, K." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Optical Response of La$\text{}_{1-x}$MnO$\text{}_{3}$/Al$\text{}_{2}$O$\text{}_{3}$ Films
Autorzy:
Babonas, G.-J.
Reza, A.
Szymczak, R.
Baran, M.
Fröhlich, K.
Jasutis, V.
Diduszko, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2035658.pdf
Data publikacji:
2003-01
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.66.Li
75.70.Ak
Opis:
La$\text{}_{1-x}$MnO$\text{}_{3}$ films grown by metal organic chemical vapor deposition technique on r-plane cut Al$\text{}_{2}$O$\text{}_{3}$ substrates were investigated. The change of the optical response over the La$\text{}_{1-x}$MnO$\text{}_{3}$/Al$\text{}_{2}$O$\text{}_{3}$ sample surface was investigated along with the temperature dependence of magnetization. The mostly pronounced difference in the spectra of dielectric function occurred in the region of the d-d transitions of Mn-ions. The changes in the optical spectra and magnetic properties were correlated to the structural features of thin film.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2003, 103, 1; 77-83
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Growth and Structure of Buffer Layers for High Temperature Superconducting Films
Autorzy:
Fröhlich, K.
Rosová, A.
Machajdík, D.
Šouc, J.
Figueras, A.
Weiss, F.
Chenevier, B.
Snauwaert, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1964533.pdf
Data publikacji:
1997-07
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.Jk
Opis:
We have studied thin CeO$\text{}_{2}$ buffer layers prepared by aerosol MOCVD on (11̅02) Al$\text{}_{2}$O$\text{}_{3}$ substrate at high deposition temperature, T$\text{}_{d}$= 900°C. A texture analysis by X-ray diffraction showed a high degree of epitaxial character of CeO$\text{}_{2}$ films. A study of the microstructure by transmission electron microscopy revealed that the CeO$\text{}_{2}$ films are in a relaxed state being composed of slightly misoriented blocks surrounded by dislocations. The films are smooth, giving mean square root values of the surface roughness measured by atomic force microscopy up to 1 nm.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1997, 92, 1; 255-258
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies