Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Żytkiewicz, Z." wg kryterium: Autor


Tytuł:
In Situ Monitoring of Electroepitaxial Growth of Thick AlGaAs Layers
Autorzy:
Żytkiewicz, Z. R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1929752.pdf
Data publikacji:
1993-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.Df
81.10.Dn
Opis:
In situ growth monitoring technique has been used to analyse growth disturbances during the liquid phase electroepitaxial growth of thick AlGaAs layers. It allowed us to explain the nature of growth instability occurring at the end of the growth and affecting the maximum thickness of AlGaAs layers obtainable by liquid phase electroepitaxy.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1993, 84, 4; 777-780
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Epitaxial Lateral Overgrowth - a Tool for Dislocation Blockade in Multilayer Systems
Autorzy:
Zytkiewicz, Z. R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1969007.pdf
Data publikacji:
1998-08
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.Ln
81.15.Lm
68.60.Bs
61.72.Ff
Opis:
Results on epitaxial lateral overgrowth of GaAs layers are reported. The methods of controlling the growth anisotropy, the effect of substrate defects filtration in epitaxial lateral overgrowth procedure and influence of the mask on properties of epitaxial lateral overgrowth layers will be discussed. The case of GaAs epitaxial lateral overgrowth layers grown by liquid phase epitaxy on heavily dislocated GaAs substrates was chosen as an example to illustrate the processes discussed. The similarities between our results and those reported recently for GaN layers grown laterally by metallorganic vapour phase epitaxy will be underlined.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1998, 94, 2; 219-227
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Electroepitaxial Growth of GaSb and AlGaSb Thick Epitaxial Layers
Autorzy:
Zytkiewicz, Z. R.
Dobosz, D.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1934052.pdf
Data publikacji:
1995-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.Df
81.10.Dn
Opis:
Semi-bulk epitaxial layers of GaSb and AlGaSb up to 3 and 1 mm thick, respectively, were successfully grown by the liquid phase electroepitaxy on GaSb substrates. The growth procedure allowed us to achieve high crystallographic perfection as well as compositional uniformity of ternary layers.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1995, 88, 5; 965-968
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
New DX-Related Photoinduced Absorption in AlGaAs:Te
Autorzy:
Kaczor, P.
Żytkiewicz, Z. R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1890990.pdf
Data publikacji:
1991-09
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
71.55.Eq
Opis:
Absorption measurements on thick AlGaAs:Te layers reveal a new absorption band at ca. 0.55 eV. Also the absorption coefficient of the DX-center ground state was measured directly for the first time.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1991, 80, 3; 397-400
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
On the High Compositional Uniformity of Thick GaAlAs Layers Grown by Liquid Phase Electroepitaxy
Autorzy:
Żytkiewicz, Z. R.
Miotkowska, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1923664.pdf
Data publikacji:
1992-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.Df
81.10.Dn
Opis:
The results of electroepitaxial growth of thick GaAlAs layers on GaAs substrates are presented. It is experimentally proven that effective convective mixing of the solution volume results in the compositional uniformity of GaAlAs layers, even in spite of the high compositional non-uniformity of the material supplying the solutes (Al, As) to the solution during the growth of the layers. For the first time this allowed us to grow uniform GaAlAs layers with thicknesses up to 200-300 μm in a wide composition range from a small (5 g) amount of solution.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1992, 82, 5; 765-768
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A Role of Intermediate Charge State in the DX Center Photoionisation in Al$\text{}_{x}$Ga$\text{}_{1-x}$As:Se
Autorzy:
Kaczor, P.
Żytkiewicz, Z. R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1923786.pdf
Data publikacji:
1992-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
71.55.Eq
Opis:
Detailed studies of the DX center absorption are presented. They. studies performed on thick AlGaAs:Te layers, give a strong indication for the influence of the intermediate charge state on the DX center photoionisation.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1992, 82, 5; 801-804
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Substrate Defects Filtration During Epitaxial Lateral Overgrowth of GaAs
Autorzy:
Żytkiewicz, Z. R.
Dobosz, D.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1968454.pdf
Data publikacji:
1997-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.Ln
Opis:
Results on the growth of GaAs on (001) GaAs substrates by the epitaxial lateral overgrowth technique are reported. We show that the ratio of normal to lateral growth rates in the epitaxial lateral overgrowth process can be controlled by the crystallographic orientation of the seeds and by Si adding to the melt. Experimental data showing that the dislocations threading from the substrate are efficiently filtered and cannot propagate to the epitaxial lateral overgrowth layers are presented. These findings prove that the epitaxial lateral overgrowth process is the powerful method to grow epilayers with low dislocation density on high dislocation density substrates.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1997, 92, 5; 1079-1082
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Spatially Resolved X-ray Diffraction Technique for Crystallographic Quality Inspection of Semiconductor Microstructures
Autorzy:
Domagala, J.
Czyzak, A.
Zytkiewicz, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1811925.pdf
Data publikacji:
2008-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.05.cp
61.72.Ff
68.55.ag
Opis:
Spatially resolved X-ray diffraction is introduced and applied for micro-imaging of strain in GaAs and GaSb layers grown by epitaxial lateral overgrowth on GaAs substrates. We show that laterally overgrown parts of the layers (wings) are tilted towards the underlying mask. By spatially resolved X-ray diffraction mapping the direction of the tilt and distribution of tilt magnitude across the width of each layer can be readily determined. This allows measuring of the shape of the lattice planes in individual epitaxial stripes. In GaSb/GaAs heteroepitaxial laterally overgrown layers local mosaicity in the wing area was found. By spatially resolved X-ray diffraction the size of microblocks and their relative misorientation were analyzed. Finally, microscopic curvature of lattice planes confined between two neighboring slip bands in thermally strained Si wafers is measured. All these examples show advantages of spatially resolved X-ray diffraction over a standard X-ray diffraction when applied for analysis of crystalline microstructures.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 114, 5; 1101-1107
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Electron Spin Resonance Studies of Te Doped AlGaAs Epilayers
Autorzy:
Surma, M.
Godlewski, M.
Żytkiewicz, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1923809.pdf
Data publikacji:
1992-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
76.30.Lh
71.55.Eq
71.25.Mg
Opis:
Results of electron spin resonance studies of tellurium doped AlGaAs epilayers are presented. We demonstrate a new approach to the studies of shallow donor-deep DX level transformation upon illumination or with an increase in temperature. The processes can be monitored by observing the changes of magnitude of an unidentified ESR signal of AlGaAs.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1992, 82, 5; 817-820
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
New Local Vibrational Modes Related to Silicon in Bulk AlGaAs
Autorzy:
Kaczor, P.
Żytkiewicz, Z. R.
Dobaczewski, L.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1933798.pdf
Data publikacji:
1995-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
63.20.Pw
61.72.Vv
71.55.Eq
Opis:
A silicon-related local vibrational mode absorption in AlGaAs is reported for the first time. It consists of six peaks grouped around 450 cm$\text{}^{-1}$ which form a distinct pattern. We believe that the new local vibrational mode absorption is a fingerprint of a single defect. Among the discussed microscopic structures the most plausible is a Si$\text{}_{Ga}$-Si$\text{}_{As}$ pair complex with Si$\text{}_{As}$ acceptor interacting with different Ga, Al nearest neighbour local environments.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1995, 88, 4; 759-762
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Optical and Electrical Properties of Bulk GaSb and AlGaSb
Autorzy:
Kaczor, P.
Żytkiewicz, Z.
Dobosz, D.
Kaliński, Ż.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1858188.pdf
Data publikacji:
1995-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
63.20.Pw
61.72.Vv
71.55.Eq
Opis:
Optical measurements of bulk GaSb:S reveal the structure of the lattice two phonon absorption and acceptor-valence band transitions. A sulphur related local vibrational modes and several bands related to the optical transitions from the ground state of the acceptor level are observed. A comparison of transport and optical measurements for GaSb:Te and AlGaSb:Te shows that in the alloy it is easier to obtain high concentrations of the electrically active Te impurity.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1995, 88, 4; 763-766
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Rocking Curve Imaging Studies of Laterally Overgrown GaAs and GaSb Epitaxial Layers
Autorzy:
Wierzbicka, A.
Lübbert, D.
Domagała, J.
Zytkiewicz, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1791425.pdf
Data publikacji:
2009-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.05.cp
68.55.ag
81.15.Lm
Opis:
X-ray rocking curve imaging technique was used to study crystallographic perfection of laterally overgrown epitaxial structures. We focus on rocking curve imaging studies of Si-doped GaAs and GaSb laterally overgrown layers grown by liquid phase epitaxy on $SiO_{2}$ masked GaAs and GaSb/GaAs substrates, respectively. High spatial resolution offered by rocking curve imaging technique allows studying the effect of laterally overgrown epitaxial wing tilt towards the mask. Distribution of tilt magnitude over the area of laterally overgrown epitaxial stripes is easily determined. In heteroepitaxial GaSb/GaAs laterally overgrown epitaxial structures local mosaicity in the wing area was detected. Since individual grains are clearly visible on rocking curve imaging maps, their size and relative misorientation can be determined.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2009, 116, 5; 976-978
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Photoinduced Defects Creation on Sulfur Passivated Surface of GaAs
Autorzy:
Żytkiewicz, Z. R.
Dobaczewski, L.
Gomez, D.
Briones, F.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1968456.pdf
Data publikacji:
1997-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.35.Dv
68.45.Da
Opis:
We report on photoinduced defect creation on the sulfurized (100) GaAs surface. The process manifests itself by unrecoverable temporal decrease in the photoluminescence intensity of the GaAs surface treated by (NH$\text{}_{4}$)$\text{}_{2}$S$\text{}_{x}$ solution. The results are discussed in terms of a photoinduced process of the As$\text{}_{Ga}$ antisite generation on the sulfurized surface of GaAs.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1997, 92, 5; 1083-1086
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Molecular Beam Epitaxy of Al$\text{}_{x}$Ga$\text{}_{1-x}$Sb and Al$\text{}_{x}$Ga$\text{}_{1-x}$As: New Donor Doping Sources
Autorzy:
Dobaczewski, L.
Missous, M.
Singer, K. E.
Żytkiewicz, Z. R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1929771.pdf
Data publikacji:
1993-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.Bd
61.50.Cj
71.55.Eq
Opis:
The first results obtained with the use of Ga$\text{}_{2}$S$\text{}_{3}$ and Ga$\text{}_{2}$Se$\text{}_{3}$ compounds as sources of donor elements for molecular beam epitaxy of Al$\text{}_{x}$Ga$\text{}_{1-x}$Sb (0 ≤ x ≤ 1) and Al$\text{}_{x}$Ga$\text{}_{1-x}$As (0 ≤ x ≤ 0.4) are reported. In GaAs free electron concentrations obtained when incorporating the donors from these sources can be easily controlled in the range of three orders of magnitude. For Al$\text{}_{x}$Ga$\text{}_{1-x}$Sb it was possible to compensate the high concentration of native acceptors and to obtain n-type of conductivity.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1993, 84, 4; 826-828
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Influence of Substrate on Crystallographic Quality of AlGaN/GaN HEMT Structures Grown by Plasma-Assisted MBE
Autorzy:
Wierzbicka, A.
Żytkiewicz, Z.
Sobańska, M.
Kłosek, K.
Łusakowska, E.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1431598.pdf
Data publikacji:
2012-04
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.05.cp
61.05.cm
81.15.Hi
68.55.-a
Opis:
Results of characterization of AlGaN/GaN high electron mobility transistor (HEMT) structures grown by plasma-assisted molecular beam epitaxy (PAMBE) are reported. High resolution X-ray diffraction (HRXRD) and X-ray reflectivity (XRR) were applied to show that structural properties of the AlGaN/GaN layers strongly depend on the substrate used for growth. It has been found that an additional 10 μm thick HVPE GaN layer grown on a commercial GaN/sapphire substrate significantly improves structural quality of AlGaN layer. However, the best structural parameters have been obtained for the HEMT sample grown on free-standing HVPE bulk GaN substrate.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2012, 121, 4; 899-902
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies