Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "metoda zderzeniowa" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Ocena stopnia skażenia powietrza zarodnikami grzybów pleśniowych, jako istotny czynnik ekspertyzy mikologicznej
The assessment of air contamination with the mould fungi spores as an essential factor of mycological report
Autorzy:
Wiejak, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/182819.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Instytut Techniki Budowlanej
Tematy:
grzyb pleśniowy
zarodnik
zanieczyszczenie mikrobiologiczne
powietrze wewnętrzne
powietrze zewnętrzne
budynek mieszkalny
wilgotność
ekspertyza techniczna
metoda zderzeniowa
ocena mykologiczna
kryteria oceny
zagrzybienie
wyniki badań
zdrowie człowieka
mould
spore
microbiological contamination
indor air
outdoor air
dwelling house
humidity
technical expertise
impact method
mycological evaluation
mould growth
test results
human health
assessment criteria
Opis:
W artykule przedstawiono wyniki pomiarów stężenia zarodników grzybów pleśniowych wykonanych w trakcie ekspertyz mikologicznych kilkunastu lokali mieszkalnych. Mierzono również wilgotność przegród, określano przyczynę ich zawilgocenia. Porównując stężenie zarodników grzybów w powietrzu wewnętrznym z równolegle określanym stężeniem w powietrzu zewnętrznym, określano stopień skażenia powietrza w lokalach. Wyniki pomiarów odniesiono do powszechnie stosowanych kryteriów.
In the following paper the measurement results of mould fungi spores concentration in several apartments are presented. The compartments humidity was measured and the cause of damp formation was determined. Comparing the concentration of fungi spores in the internal air, with the simultaneously defined concentration in the outside air - the range of air contamination in apartments was specified. Those results were referred to the common used criteria.
Źródło:
Prace Instytutu Techniki Budowlanej; 2011, R. 40, nr 3, 3; 3-12
0138-0796
Pojawia się w:
Prace Instytutu Techniki Budowlanej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Impact Ionization Process in Deep Submicron MOSFET
Autorzy:
Speransky, D.
Borzdov, A.
Borzdov, V.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/398035.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
MOSFET
metoda Monte Carlo
jonizacja zderzeniowa
energia progowa
Monte Carlo
impact ionization
threshold energy
Opis:
Within the framework of Keldysh impact ionization model the calculation of effective threshold energy for silicon MOSFET with 100 nm channel length by means of ensemble Monte-Carlo simulation is performed. The possibility of impact ionization rate treatment with one-parameter Keldysh model in pre-breakdown and breakdown transistor operation mode using calculated effective threshold energy value is proposed.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2012, 3, 1; 21-24
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies