Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "SI GaAs" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-14 z 14
Tytuł:
Zintegrowany proces otrzymywania monokryształów SI GaAs metodą Czochralskiego z hermetyzacją cieczową
Integrated process of SI GaAs crystals manufacturing by the Liquid Encapsulated Czochralski method
Autorzy:
Hruban, A.
Orłowski, W.
Mirowska, A.
Strzelecka, S.
Piersa, M.
Jurkiewicz-Wegner, E.
Materna, A.
Dalecki, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/192082.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:
SI GaAs
obróbka termiczna
EPD
gallium arsenide
LEC thermal annealing
Opis:
Standardowa technologia otrzymywania półizolujących monokryształów SI GaAs składa się z 3 etapów tzn. syntezy, monokrystalizacji i obróbki termicznej, która jest niezbędna dla uzyskania rezystywności ρ ≥ 107 Ohmcm i ruchliwości nośników ładunku μ ≥ 5000 cm2/Vs. Synteza i monokrystalizacja są wykonywane w ramach jednego procesu w wysokociśnieniowym urządzeniu Czochralskiego. Standardowa obróbka termiczna jest procesem osobnym polegającym na wygrzewaniu kryształów w zamkniętych ampułach kwarcowych w atmosferze par As. Proces ten jest pracochłonny, wymaga dodatkowych urządzeń oraz zwiększa koszty. Przedmiotem pracy było uproszczenie technologii wytwarzania monokryształów SI GaAs przez obróbkę cieplną zintegrowaną z procesami syntezy i monokrystalizacji. Przeprowadzono zintegrowane procesy monokrystalizacji i wygrzewania otrzymując monokryształy o średnicach 2" i 3" i ciężarze ~ 3 kg. Własności takich kryształów porównano z monokryształami wytwarzanymi w procesach standardowych. Wykazano, że właściwości fizyczne takie jak: rezystywność, ruchliwość i gęstość dyslokacji nie zależą od sposobu prowadzenia procesu (standardowy, zintegrowany) lecz są tylko funkcją temperatury wygrzewania. Proces zintegrowany upraszcza technologię wytwarzania, a jednocześnie obniża poziom stresów termicznych eliminując pękanie kryształów.
A standard technological process of manufacturing SI GaAs single crystals consists of 3 steps, namely synthesis, crystal growth and thermal annealing, which are necessary to reach high resistivity (ρ ≥ 107 Ohmcm) and high carrier mobility (μ ≥ 5000 cm2/Vs). Usually both synthesis and crystal growth are realized in one process in a high pressure Czochralski puller. The thermal annealing process is carried out in a sealed quartz ampoule under arsenic (As) vapor pressure. This increases the costs of the process due to a need for the equipment and, in addition, is time consuming. The subject matter of this work was the improvement of the SI GaAs technology by integrating the thermal annealing step with synthesis and crystal growth. The integrated manufacturing processes of SI GaAs crystals with 2" and 3" in diameter and ~ 3000 g in weight were performed. Their physical properties were compared with these of the crystals obtained in a standard process. Preliminary results of this work indicate that it is possible to improve the SI GaAs technology and decrease the manufacturing costs. They also prove that thermal stress in the crystals can be decreased, as a result of which cracks will not appear during the mechanical treatment (cutting, lapping).
Źródło:
Materiały Elektroniczne; 2012, T. 40, nr 3, 3; 38-47
0209-0058
Pojawia się w:
Materiały Elektroniczne
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Monokryształy SI GaAs o orientacji [310] jako materiał na podłoża do osadzania warstw epitaksjalnych
[310]-oriented SI GaAs single crystals as material for epitaxial substrates
Autorzy:
Hruban, A.
Orłowski, W.
Strzelecka, S.
Piersa, M.
Jurkiewicz-Wegner, E.
Mirowska, A.
Rojek, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/192032.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:
arsenek galu
SI GaAs
metoda Czochralskiego
LEC
orientacja
gallium arsenide
Czochralski method
orientation
Opis:
Celem pracy było dowiedzenie warunków otrzymywania półizolacyjnych monokryształów arsenku galu (SI-GaAs) o orientacji [310] i średnicy 2” i 3”. Synteza i monokrystalizacja przebiegała pod wysokim ciśnieniem metodą LEC (Liquid Encapsulated Czochralski). Dobrano warunki termiczne i technologiczne pozwalające otrzymywać monokryształy o średnicy 2” i 3” i ciężarze odpowiednio 2000 g i 3000 g. Monokryształy posiadały wysokie parametry elektryczne (ρ, μ) - typowe dla monokryształów półizolacyjnych o wysokim stopniu czystości. Gęstość dyslokacji kryształów [310] była o (0,5 - 1,5) rzędu niższa w porównaniu z kryształami o orientacji [100]. Warstwy epitaksjalne osadzone na podłożach o orientacji [310] wykazały lepszą morfologię powierzchni w porównaniu z osadzonymi na podłożu [100].
The subject matter of this research work included the synthesis and growth conditions of [310]-oriented SI GaAs (semi-insulating gallium arsenide) crystals 2” or 3” in diameter. High pressure processes were applied for the synthesis and growth of LEC crystals. Thermal conditions and process parameters were determined to obtain single crystals 2” and 3” in dia, 2000 g and 3000 g in weight, respectively. They had high electrical parameters (ρ, μ), characteristic of semi-insulating high purity GaAs. Dislocation density (EPD) of [310]-oriented crystals was (0.5 - 1.5) orders of magnitude lower than in the case of the [100]-orientation. Epitaxial layers grown on [310]-oriented substrates exhibited better surface morphology than those deposited on [100]-oriented substrates.
Źródło:
Materiały Elektroniczne; 2013, T. 41, nr 2, 2; 18-25
0209-0058
Pojawia się w:
Materiały Elektroniczne
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Interface and Surface Subsignals in Photoreflectance Spectra for GaAs/SI-GaAs Structures
Autorzy:
Jezierski, K.
Sitarek, P.
Misiewicz, J.
Panek, M.
Ściana, B.
Korbutowicz, R.
Tłaczała, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1933782.pdf
Data publikacji:
1995-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.-a
71.35.+z
Opis:
Photoreflectance spectra were measured at room temperature for energies in the vicinity of the E$\text{}_{0}$ critical point for p-type as well as n-type doped GaAs/SI-GaAs structures. Depending on the doping concentration the existence of two photoreflectance subsignals was observed; the first one arises from the surface space charge region while the second one from the interface region. The decomposition of photoreflectance spectrum into surface and interface subsignals was based on the photoreflectance measurements carried out for different wavelengths of the laser pump beam.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1995, 88, 4; 751-754
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Effect of Epitaxial Layer Thickness on Built-in Electric Field in Region of AlGaAs/SI-GaAs Interface: A Photoreflectance Study
Autorzy:
Ochalski, T. J.
Żuk, J.
Vlasukova, L. A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1968408.pdf
Data publikacji:
1997-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.66.Fd
78.20.-e
Opis:
We present a study of detailed line shapes of photoreflectance spectra for Al$\text{}_{0.3}$Ga$\text{}_{0.7}$ As/SI-GaAs epitaxial layers grown by MBE. All measurements were performed at 80 K under UHV conditions with a special care for the samples surface quality. A set of the photoreflectance spectra was collected for photon energies close to the GaAs and Al$\text{}_{0.3}$Ga$\text{}_{0.7}$As band gaps (E$\text{}_{0}$). The photoreflectance spectra originated in the vicinity of the Al$\text{}_{0.3}$Ga$\text{}_{0.7}$As/SI-GaAs interface were analyzed using the complex Airy function model of Franz-Keldysh oscillations. To examine the effect of the epitaxial layer thickness on parameters characterizing the interface, a step-by-step chemical etching was applied for stripping the top layers. The built-in electric field intensity, field inhomogeneity and phenomenological broadening parameter for interface regions were determined as a function of the epilayer thickness.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1997, 92, 5; 935-939
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Damage Assessment in Low Doses $\text{}^{30}Si^{+}$-Implanted GaAs
Autorzy:
Desnica Franković, D.
Desnica, V.
Furić, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1807802.pdf
Data publikacji:
2009-07
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.30.Ly
61.72.Vv
63.50.+x
Opis:
Ion implantation is a widely used technique in device technology, and becoming even more important as the size of devices decreases. The studies of damage and introduced defects have been extensive and, although the overall development and annealing of the implantation damage is relatively well understood, many details remain unclear. Especially, not enough attention has been paid to the effects of very low doses, which are particularly important in controlling the threshold voltage of transistors in the fabrication of GaAs integrated circuits. The reason might be that the induced changes were very often below the detectivity limits of standard methods. In this work, we present the disorder analysis, conducted on GaAs implanted with low ion doses. Czochralski grown, undoped, (100) oriented GaAs samples were implanted with 100 keV $\text{}^{30}Si^{+}$ ions, doses ranging from 3×$10^{11}//cm^{2}$-3×$10^{13}//cm^{2}$, at 21°C. The damage assessment was done by applying Raman scattering and Rutherford backscattering ion channeling (RBS), linked by the inter-cascade distance model and the results were then compared with the results of photoacoustic displacement technique. We have shown that Raman scattering is very sensitive method even if applied on samples implanted with very low doses. Furthermore, the equivalency between the Raman scattering and Rutherford backscattering damage assessment, previously established for high doses via the inter-cascade distance model, proved equally valid also for very low implantation doses, where implanted ions create disordered cascades that are far apart, and most of the layer is still undamaged.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2009, 116, 1; 42-46
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Optical Analyses of Si and GaAs Semiconductors by Fractional-Derivative-Spectrum Methods
Autorzy:
Rzodkiewicz, W.
Kulik, M.
Papis, E.
Szerling, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1807507.pdf
Data publikacji:
2009-12
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.40.Fy
64.60.-f
71.20.-b
Opis:
Optical spectra analysis provides a wealth of information on physical properties of various semiconductor materials. Fractional derivative spectrum technique is especially interesting when the limitations of the standard treatment occur. In this paper we present the fractional derivative spectrum method for analysis of the optical spectra for both Si and GaAs. The significant changes in critical point parameters in each treated Si and GaAs samples in comparison to that before treatment have been observed. Our investigation illustrates that fractional derivative spectrum is a very good technique to extract basic information on relevant physical quantities from the observed optical spectra, and it has the advantages of flexibility, directness, and sensitivity, which give possibility to obtain the Van Hove singularities (critical point parameters) efficiently with one consent.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2009, 116, S; S-95-S-98
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Peculiarities of Excitonic Photoluminescence in Si δ-Doped GaAs Structures
Autorzy:
Nargelienė, V.
Ašmontas, S.
Čerškus, A.
Gradauskas, J.
Kundrotas, J.
Sužiedėlis, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1505529.pdf
Data publikacji:
2011-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.55.-m
71.35.-y
68.65.-k
Opis:
We present investigation of photoluminescence properties of Si δ-doped GaAs structures at different temperatures and various laser excitation intensities. Strong excitonic emission was observed in the δ-doped structures. The photoluminescence in the infrared region, below excitonic emission, originates from a non-phonon free electron-acceptor e-A transitions and longitudinal optical phonon sidebands of e-A transitions. Possible mechanisms for recombination of photocarriers are discussed, with a particular focus on an enhanced excitonic photoluminescence emission in comparison with that from intrinsic GaAs layers of the same structures.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 119, 2; 177-179
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Study of p-Fe₃O₄/n-(GaAs,Si) Heterostructures: Fabrication and Physical Properties
Autorzy:
Lisauskas, V.
Butkutė, R.
Vengalis, B.
Šliužienė, K.
Tamulevicius, S.
Andrulevicius, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1813406.pdf
Data publikacji:
2008-03
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
73.40.-c
73.40.Gk
81.15.Cd
Opis:
We report preparation and investigation of p -n heterostructures based on Fe₃O₄ thin films grown on semiconductor Si and GaAs substrates. Fe₃O₄ films with thickness ranging from 60 to 300 nm were grown at 350÷450°C using dc magnetron sputtering technique. The measurement of X-ray diffraction and reflection high energy electron diffraction revealed polycrystalline microstructure of thin Fe₃O₄ films deposited on both Si and GaAs substrate. Investigation of surface composition by X-ray photoelectron spectroscopy showed that Fe 2p peak consists of three main peaks, namely, metallic iron Fe(0), Fe(II), and Fe(III). Transport measurements of Fe₃O₄/n-(Si, GaAs) heterostructures demonstrated nonlinear current-voltage (I -V) dependences in the temperature range from 300 K to 78 K.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 113, 3; 1055-1058
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Identification of Residual Impurities in Si-Doped MBE Grown GaAs
Autorzy:
Kaniewska, M.
Regiński, K.
Kaniewski, J.
Muszalski, J.
Ornoch, L.
Adamczewska, J.
Marczewski, J.
Bugajski, M.
Mizera, E.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1933820.pdf
Data publikacji:
1995-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
71.55.Eq
73.40.Νs
73.20.Hb
Opis:
The changes of dopant vaporization enthalpy in GaAs:Si grown by molecular beam epitaxy revealed the presence of residual donors related to group VI elements. This has been confirmed by deep level transient spectroscopy studies of AlGaAs:Si layers grown in the same MBE system. It is argued that a commonly observed deep trap labelled E2 is probably related to Te, Se or S. The measurements have been performed on near-ideal Al Schottky barriers grown in situ by MBE.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1995, 88, 4; 775-778
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Observation of the Coulomb Blockade at 77 K in a Lattice-Mismatched GaAs/Si Heterojunction
Autorzy:
Figielski, T.
Wosiński, T.
Mąkosa, A.
Riesz, F.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1968070.pdf
Data publikacji:
1997-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.72.Lk
73.40.Gk
73.40.Kp
Opis:
We investigated current-voltage characteristics of a lattice-mismatched GaAs(n)/Si(p) heterojunction. For low bias voltages at 77 K it exhibits a behaviour characteristic of the Coulomb blockade. We discuss why this unexpected phenomenon can occur in the investigated structures.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1997, 92, 4; 745-748
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Gain and Dark Current Studies on Planar Photodetectors Made on Annealed GaAs-on-Si
Autorzy:
Riesz, F.
Vo van, Tuven
Varrio, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1933966.pdf
Data publikacji:
1995-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
85.60.Gz
73.50.Pz
73.40.Sx
Opis:
Interdigital, planar photodetectors were fabricated from annealed GaAs/Si heterostructures grown by molecular beam epitaxy using alloyed AuGe/Ni and non-alloyed Cr/Au contacts. The dark current and optical gain of the Cr/Au devices is higher than that of the AuGe/Ni devices. Contact degradation due to annealing and a p-like background doping consistently explains our data. The gain-optical power relationship follows a power law with an exponent close to -1.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1995, 88, 5; 889-892
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Impact of the saturation current IS and ideality factor N on the performance of the characteristic (I-V) of a solar cell
Wpływ prądu nasycenia IS i współczynnika doskonałości złącza n na charakterystykę (I-V) ogniwa słonecznego
Autorzy:
Khalis, M.
Masrour, R.
Mir, Y.
Zazoui, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/29520331.pdf
Data publikacji:
2019
Wydawca:
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydawnictwo AGH
Tematy:
dark
illumination current–voltage
Si
GaAs
CIGS
current saturation
ideality factor
defect
neural network method
aktualne nasycenie
współczynnik idealności
wada
metoda sieci neuronowej
Opis:
The performance of a solar cell mainly is due to the quality of the starting material. During the production of the solar cell, several defects in different regions of the material appear. These defects degrade the efficiency of the solar cell. Thorough knowledge of the physical properties of defects requires highly sophisticated electrical current-voltage (I-V) characterization techniques that provide information on the physical origin of the defects. The characteristic (I-V) of the cell is governed by several parameters, such as the saturation current Is and the ideality factor n which are the indicators of the quality of the solar cell. These parameters significantly reflect the existence of defects in the material. On the other hand, the use of such a characteristic to go back to the nature of the defects is not widespread because it lacks a data base between the main defects and the modification of the characteristic (I-V). To extract the different parameters, we developed a method based on artificial neurons in Matlab code, then we applied this method to the following cells: GaAs, Si-mono and polycrystalline and CIGS thin-film cells by applying the model with two diodes. The results obtained demonstrate that the behavior of the ideality factor and the saturation current vary from one cell to another. This variance is important for polycrystalline Si and CIGS cells. Thus, this model is the most suitable for the diagnosis of the characteristics (IV) for Si and GaAs, but remains incoherent (Mismatches) to describe the characteristic of the CIGS cell because of the non-uniform presence of shunt defects which allowed us to add another component of the leakage current. Finally, this method correlates with the experimental characteristic (I-V).
Zachowanie się ogniw słonecznych zależy w dużej mierze od jakości materiału. W procesie wytwarzania baterii może pojawić się szereg wad w różnych jej częściach. Te wady obniżają wydajność ogniwa. Dokładna analiza właściwości fizycznych wad wymaga dokładnego określenia charakterystyki prądowonapięciowej (I-V), która dostarczyłaby informacji o przyczynie tych wad. Charakterystyka prądowo-napięciowa (I-V) baterii zależy od szeregu parametrów takich jak prąd nasycenia Is, i współczynnik doskonałości złącza n, które są wskaźnikami jakości baterii. Te parametry dobrze odzwierciedlają istnienie wad w materiale. Z drugiej strony, ze względu na brak danych dotyczących korelacji między głównymi wadami i zmianami charakterystyk (IV), wykorzystanie tych charakterystyk do określenia natury powstałych wad nie jest rozpowszechnione. Aby rozróżnić wpływ różnych parametrów opracowano metodę wykorzystującą sztuczną sieć neuronową i oprograowanie MatLab. Tę metodę zastosowano do następujących ogniw słonechnych: GaAs, Si-mono and polikrystaliczny oraz cienkie warstwy CIGS popraz zaqstosowanie modelu z dwoma diodami. Uzyskane wyniki wykazały, że zachowanie się współczynnika doskonałości złącza i prądu nasycenia zmienia się dla różnych ogniw. Te różnice są ważne zarówno dla ogniw Si jak i CIGS. Stąd opracowany model jest najbardziej przydatny do diagnozowania charakterystyk (I-V) dla ogniw Si i GaAs, ale jest niespójny przy opisie ogniw CIGS, ponieważ występują w nich w sposób nierównomierny wady powodujące zwarcie elektrod. To pozwoliło Autorom dodać prąd upływu, jako dodatkowy parameter modelu. W artykule potwierdzono zgodność opracowanej metody z doświadczalnymi charakterystykami (I-V).
Źródło:
Computer Methods in Materials Science; 2019, 19, 4; 163-169
2720-4081
2720-3948
Pojawia się w:
Computer Methods in Materials Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The H$\text{}_{2}$ Molecule in Semiconductors: An Angel in GaAs, a Devil in Si
Autorzy:
Estreicher, S. K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2035568.pdf
Data publikacji:
2002
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.72.-y
66.30.Lw
72.10.Fk
Opis:
The electrical and optical properties of semiconductors are largely determined by the defects and impurities they contain. Without a doubt, hydrogen is the impurity which exhibits the most varied and exotic properties. In most semiconductors, it is found in three charge states and four configurations. It forms (at least) two types of dimers as well as small and large precipitates such as platelets. H also interacts with impurities and defects. It removes or changes the electrical activity of many shallow and deep centers, and catalyzes the diffusion of interstitial oxygen (in Si). Sometimes, it exhibits quantum tunneling and is associated with unusual effects such as Fermi resonances. But one of the most exotic forms of hydrogen in GaAs and Si is the interstitial H$\text{}_{2}$ molecule, which appears to play a critical role in processes such as the "smart cut". It is the only interstitial molecule observed (so far) in semiconductors. In GaAs, it behaves like a nearly-free rotator, with properties very much as one would expect them to be. But in Si, the early experiments were puzzling. No ortho/para splitting was observed, the symmetry appeared to be C$\text{}_{1}$, the single HD line was at the wrong place and had the wrong amplitude, and other features seemed strange as well. Recent experimental studies have now resolved many issues. However, the behavior of the simplest molecule in the Universe proved to be a tough nut to crack, which goes to show that devils can be a lot more fun than angels after all.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2002, 102, 4-5; 513-528
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A Structural Characterization of GaAs MBE Grown on Si Pillars
Autorzy:
Frigeri, C.
Bietti, S.
Scaccabarozzi, A.
Bergamaschini, R.
Falub, C.
Grillo, V.
Bollani, M.
Bonera, E.
Niedermann, P.
von Känel, H.
Sanguinetti, S.
Miglio, L.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1361238.pdf
Data publikacji:
2014-04
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
81.05.Ea
81.16.Rf
61.72.Ff
61.72.Lk
61.72.Nn
68.37.Lp
Opis:
Growth on deeply patterned substrates, i.e. on pillars instead of a continuous substrate, is expected to be very promising to get crack free epilayers on wafers without any bowing. We report here on a structural investigation of GaAs MBE deposited on patterned (001) offcut Si, consisting of pillars 8 μm high and 5 to 9 μm wide, to check mostly the behaviour of the threading dislocations. It is found that only very rarely they propagate up to the GaAs top that will serve as active region in devices. Twins were also detected which sometimes reached the topmost part of GaAs. However, as twins have no associated dangling bonds, they should not be electrically active. Rare antiphase boundaries exist at the interface, hence not harmful for device operation.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2014, 125, 4; 986-990
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-14 z 14

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies