Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Moszczynski, P." wg kryterium: Wszystkie pola

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-6 z 6
    Tytuł:
    The directed enzymatic casein hydrolysis
    Autorzy:
    Idziak, J.
    Moszczynski, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1371657.pdf
    Data publikacji:
    1993
    Wydawca:
    Instytut Rozrodu Zwierząt i Badań Żywności Polskiej Akademii Nauk w Olsztynie
    Tematy:
    enzymatic hydrolysis
    phenylketonuria
    endopeptidase
    biochemistry
    enzyme
    exopeptidase
    proteolytic enzyme
    chymotrypsin
    phenylalanine
    casein
    leucine peptidase
    hydrolysis
    carboxypeptidase A
    Źródło:
    Polish Journal of Food and Nutrition Sciences; 1993, 02, 1; 75-81
    1230-0322
    2083-6007
    Pojawia się w:
    Polish Journal of Food and Nutrition Sciences
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Symulacja zjawisk zachodzących w ciekłokrystalicznej komórce hybrydowej
    Simulation of phenomena occurring in the liquid crystal hybrid cell
    Autorzy:
    Moszczyński, P.
    Walczak, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/404111.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Polskie Towarzystwo Symulacji Komputerowej
    Tematy:
    symulator
    komórka hybrydowa
    komórka ciekłokrystaliczna
    metody numeryczne
    simulator
    hybrid cell
    liquid crystal cell
    numerical methods
    Opis:
    W publikacji prezentowana jest metoda wyznaczania współczynnika załamania w nieprzewodzących ciekłokrystalicznych komórkach hybrydowych. Wcześniej wykazano, że taka komórka jest nowym rozwiązaniem dla fotoniki [1,2]. Opisywana metoda obejmuje modele fizyczne i matematyczne zjawisk istotnych dla obserwowanego w tych urządzeniach photorefractive-like effect. W oparciu o prezentowaną metodę powstał symulator komórki hybrydowej. Umożliwia on projektowanie komórek tego typu i pozwala na badanie, jak zaprojektowane przez użytkownika urządzenie zmienia swoje właściwości optyczne pod wpływem pola sterującego i oświetlenia. W artykule opisano główne założenia modeli matematycznych stosowanych w opisywanej metodzie. Ponadto przedstawiono algorytmy pozwalające uzyskać rozwiązanie numeryczne proponowanych modeli.
    In the publication, we present a method for determining the refractive index of the nonconductive liquid crystal hybrid cell. We have previously shown that this cell is a new solution for photonics [1, 2]. This method involves physical and mathematical models of the phenomena relevant to that observed in these devices photorefractive-like effect. Based on the presented method was established hybrid cell simulator. This simulator enables the design of cells of this type and allows the study as designed by the user device changes its optical properties under the control field and lighting. In this paper we describe the main assumptions of the mathematical models used in the described method. In addition, we present algorithms in order to obtain a numerical solution proposed models.
    Źródło:
    Symulacja w Badaniach i Rozwoju; 2015, 6, 2; 115-123
    2081-6154
    Pojawia się w:
    Symulacja w Badaniach i Rozwoju
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Nonlinear optimization approach to determine optical dispersion in liquid crystals
    Autorzy:
    Marciniak, P.
    Moszczyński, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/173291.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
    Tematy:
    optical dispersion
    phase of reflection
    liquid crystal
    nonlinear optimization
    Fabry-Perot filter
    Opis:
    We report the method of calculating optical dispersion of selected nematic liquid crystals using maxima positions of a transmittance filled Fabry–Pérot filter. Additionally, the profiles of a dispersive phase of reflection have been calculated. The transmittance of Fabry–Pérot filter was described as a form of a modified Airy formulae (with parameters dependence on wavelength and phase of reflection). To correctly use this function, additionally the phase of reflection is defined, taking into account the problem of a beam penetrating the mirror structure. The authors of this work assume that the point where the beam is reflected is not created strictly on the boundary of media, but it is moved into the mirror structure. The depth of the penetration changes the optical way of the wave and in consequence – the optical width of the Fabry–Pérot filter cavity. The parameter describing this phenomenon was named as a phase of reflection. This work presents how to calculate: the phase of reflection, one of refractive indices of birefringent medium inside Fabry–Pérot filter and the cavity width at the same time with the use of composed nonlinear optimization methods. The proposed method is an alternative for a reverse task solution which is hard to define properly here.
    Źródło:
    Optica Applicata; 2016, 46, 4; 619-628
    0078-5466
    1899-7015
    Pojawia się w:
    Optica Applicata
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Symulacja filtra interferencyjnego dla zakresu terahercowego
    Simulation of interference terahertz filter
    Autorzy:
    Marciniak, P.
    Walczak, A.
    Moszczyński, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/403975.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Polskie Towarzystwo Symulacji Komputerowej
    Tematy:
    filtr Fabry’ego-Perota
    filtr terahercowy
    Fabry-Perot filter
    THz band pass filter
    Opis:
    W artykule zaprezentowano model do wyznaczania i modyfikacji parametrów filtra interferencyjnego w układzie Fabry’ego-Perota wypełnionego ośrodkiem o pomijalnej dyspersji dla zakresu terahercowego. W modelu uwzględniona została jedynie dyspersja materiału ścianek filtra. Model - umożliwia wyznaczenie szerokości wnęki filtra oraz znalezienie profilu współczynnika odbicia ścianek filtra (zwierciadeł), który najlepiej dopasowuje profil transmitancji teoretycznej do profilu transmitancji rzeczywistej.
    In this article we present model of Fabry-Perot filter for calculation and modification selected parameters like transmittance, cavity width and profile of the coefficient of reflection. This model includes information about dispersive coefficient of reflection of filter plates. Application allows us to observe change of transmittance in dependency on filter construction as well as phase of reflection.
    Źródło:
    Symulacja w Badaniach i Rozwoju; 2015, 6, 2; 105-113
    2081-6154
    Pojawia się w:
    Symulacja w Badaniach i Rozwoju
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Multi-technique characterisation of InAs-on-GaAs wafers with circular defect pattern
    Autorzy:
    Boguski, Jacek
    Wróbel, Jarosław
    Złotnik, Sebastian
    Budner, Bogusław
    Liszewska, Malwina
    Kubiszyn, Łukasz
    Michałowski, Paweł P.
    Ciura, Łukasz
    Moszczyński, Paweł
    Odrzywolski, Sebastian
    Jankiewicz, Bartłomiej
    Wróbel, Jerzy
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/2204219.pdf
    Data publikacji:
    2023
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Stowarzyszenie Elektryków Polskich
    Tematy:
    wafer homogeneity
    wafer defect pattern
    surface roughness
    indium arsenide
    beryllium doping
    Opis:
    The article presents the results of diameter mapping for circular-symmetric disturbance of homogeneity of epitaxially grown InAs (100) layers on GaAs substrates. The set of acceptors (beryllium) doped InAs epilayers was studied in order to evaluate the impact of Be doping on the 2-inch InAs-on-GaAs wafers quality. During the initial identification of size and shape of the circular pattern, non-destructive optical techniques were used, showing a 100% difference in average roughness between the wafer centre and its outer part. On the other hand, no volumetric (bulk) differences are detectable using Raman spectroscopy and highresolution X-ray diffraction. The correlation between Be doping level and circular defect pattern surface area has been found.
    Źródło:
    Opto-Electronics Review; 2023, 31, Special Issue; art. no. e144564
    1230-3402
    Pojawia się w:
    Opto-Electronics Review
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-6 z 6

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies