Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Circuit Test" wg kryterium: Wszystkie pola

  Lista filtrów
Wyrównaj
Wyświetlanie 1-15 z 16
Tytuł:
Applicability of Park transformation for the analysis of transient performance during subsynchronous resonances
Autorzy:
Kreischer, Ch.
Kulig, S.
Göbel, C.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/140498.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
subsynchronous resonances
parameter identification
equivalent circuit
standstill frequency response test
three phase short circuit test
evolutionary strategy
Opis:
Long transmission lines have to be compensated to enhance the transport of active power. But a wrong design of the compensation may lead to subsynchronous resonances (SSR). For studies often park equivalent circuits are used. The parameters of the models are often determined analytically or by a three-phase short-circuit test. Models with this parameters give good results for frequencies of 50 Hz and 100 Hz resp. 60 Hz and 120 Hz. But SSR occurs at lower frequencies what arises the question of the reliability of the used models. Therefore in this publication a novel method for the determination of Park equivalent circuit parameters is presented. Herein the parameters are determined form time functions of the currents and the electromagnetic moment of the machine calculated by transient finite-element simulations. This parameters are used for network simulations and compared with the finite-element calculations. Compared to the parameters derived by a three-phase short-circuit a significant better accuracy of simulation results can be achieved by the presented method.
Źródło:
Archives of Electrical Engineering; 2013, 62, 3; 401-415
1427-4221
2300-2506
Pojawia się w:
Archives of Electrical Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
An accurate prediction of high-frequency circuit behaviour
Autorzy:
Yoshitomi, S.
Kimijima, H.
Kojima, K.
Kokatsu, H.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/308807.pdf
Data publikacji:
2005
Wydawca:
Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
electro-magnetic simulation
SPICE
circuit test structure
RF CMOS
EKV2.6-MOS model
spiral inductor
CMOS VCO
Opis:
An accurate way to predict the behaviour of an RF analogue circuit is presented. A lot of effort is required to eliminate the inaccuracies that may generate the deviation between simulation and measurement. Efficient use of computer-aided design and incorporation of as many physical effects as possible overcomes this problem. Improvement of transistor modelling is essential, but there are many other unsolved problems affecting the accuracy of RF analogue circuit modelling. In this paper, the way of selection of accurate transistor model and the extraction of parasitic elements from the physical layout, as well as implementation to the circuit simulation will be presented using two CMOS circuit examples: an amplifier and a voltage controlled oscillator (VCO). New simulation technique, electro-magnetic (EM)-co-simulation is introduced.
Źródło:
Journal of Telecommunications and Information Technology; 2005, 1; 47-62
1509-4553
1899-8852
Pojawia się w:
Journal of Telecommunications and Information Technology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wavelet energy-based mahalanobis distance metric for testing analog and mixed-signal circuits
Autorzy:
Spyronasios, A. D.
Dimopoulos, M. G.
Hatzopoulos, A. A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/398112.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
analogowy i mieszany test sygnału
test obwodu
falki
odległość Mahalanobisa
Analog and Mixed-Signal Testing
Circuit Test
wavelets
Mahalanobis distance
Opis:
In this paper a test method based on the wavelet transformation of the measured signal, be it supply current (Ips) or output voltage (Vout) waveform, is presented. In the wavelet analysis, a Mahalanobis distance test metric is introduced utilizing information from the wavelet energies of the first decomposition level of the measured signal. The tolerance limit for the good circuit is set by statistical processing data obtained from the fault-free circuit. Simulation comparative results on benchmark circuits for testing both hard faults and parametric faults are presented showing the effectiveness of the proposed testing scheme.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2010, 1, 2; 218-224
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Analysis of ARC in a vacuum chamber with an AMF
Analiza łuku w komorze próżniowej w osiowym polu magnetycznym
Autorzy:
Krasuski, K.
Berowski, P.
Dzierżyński, A.
Hejduk, A.
Kozak, S.
Sibilski, H.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/159242.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:
wyłącznik próżniowy
komora próżniowa
próby zwarciowe
osiowe pole magnetyczne
vacuum circuit breaker (VCB)
vacuum chamber (VCBC)
short circuit test (SCT)
axial magnetic field (AMF)
Opis:
Badania komór próżniowych są wykonywane w celu optymalizacji parametrów wyłączników. Głównym celem jest zmniejszenie wymiarów i zwiększenie zdolności łączeniowej w całym zakresie napięć znamionowych wyłączników. W artykule przedstawiono wyniki obliczeń rozkładu indukcji magnetycznej dla dwu rodzajów styków w dwóch konfiguracjach, tj. styków cewkowych typu ¼ zwoja w położeniu bazowym i po obróceniu styku jednego względem drugiego o 45°, jak i styków cewkowych typu ½ zwoja w położeniu bazowym i po obróceniu styku jednego względem drugiego o 90°. Obliczenia wykazały, że obrót styków względem siebie powoduje zmianę rozkładu indukcji na powierzchniach nakładek stykowych. W przypadku styku cewkowego typu ¼ zwoja indukcja magnetyczna maleje. Powierzchnia, na której wartość indukcji osiąga znaczne wartości również maleje dla tego układu stykowego. W przypadku styku cewkowego typu ½ zwoja obrót styku o 90° powoduje powiększenie powierzchni, na której wartość indukcji przekracza 4 mT/kA. Indukcja bowiem rozłożona jest nierównomiernie na powierzchni nakładki stykowej i jej wartość maleje w kierunku krawędzi styku. Należy stwierdzić, że obrót styku jednego względem drugiego powinno się dobierać każdorazowo dla osiągnięcia największego natężenia pola magnetycznego. W obliczeniach dotyczących styków cewkowych typu ¼ zwoja z odstępem międzystykowym 12 mm, założono, że przewodność w całej przestrzeni międzystykowej jest stała i wynika z napięcia łuku. Przy prądzie 25 kA maksymalna indukcja magnetyczna zmienia się od 180 mT na powierzchni nakładki stykowej do 148 mT w środku odległości pomiędzy stykami. W celu zbadania rozkładu łuku pomiędzy stykami wykonano pomiary dla różnych ich typów w rozbieralnej komorze próżniowej przy prądzie zwarciowym do 15 kA. Rozwój łuku dyfuzyjnego badano przy użyciu kamery do zdjęć szybkich. Zmierzono rozkład osiowego pola magnetycznego dla modeli styków cewkowych typu ¼ zwoja z nakładkami o różnych nacięciach, tj. z nacięciami promieniowymi wykonanymi pod kątem 30° w stosunku do promienia styków, z nacięciami w kształcie łuku, oraz dla styków bez nacięć. Styki z nacięciami wykonanymi pod kątem 30° do promienia styku, miały największe na całej powierzchni styków natężenie pola magnetycznego. Podczas pomiarów styki były zwarte przy pomocy centralnego kołka prze-wodzącego. Jak wynika z obliczeń podczas montażu należy zwrócić uwagę na wzajemne usytuowanie styków, aby zapobiec zmniejszeniu wartości pola magnetycznego. W rozbieralnej komorze próżniowej zbadano rozwój łuku dyfuzyjnego w przestrzeni międzystykowej oraz rozkład stóp łuku na powierzchni styków.
Vacuum circuit breaker chambers (VCBC) are subject of a continuous study to optimize parameters of circuit breakers. The aim is to reduce the size and to increase the breaking ability in the whole range of rated voltages. In optimization attention is paid to reach a uniform distribution of the magnetic field over the contact plate surface. The influence of slits in the contact plates, and the rotation angle between contacts upon the magnetic field distribution (MFD) was analyzed. Field tests of different contact sets were made, using a dismountable vacuum chamber. The tests were conducted at short circuit currents up to 15 kA. A high speed video camera was used to monitor the arc developed between contacts.
Źródło:
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2015, 269; 91-99
0032-6216
Pojawia się w:
Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Indirect test circuit for testing high voltage fuses in overload conditions
Układ do zastępczych badań bezpieczników wysokiego napięcia na prądy przeciążeniowe
Autorzy:
Kuraszkiewicz, J.
Bandel, J.
Hejduk, A.
Krasuski, K.
Dzierżyński, A.
Staniszewski, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/158595.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:
bezpieczniki wysokiego napięcia
próba przeciążeniowa
cykl łączeniowy nr 3
metoda dwuźródłowa
przełącznik ultraszybki
high voltage fuse
fast operating switch
current circuit
voltage circuit
Opis:
Próba określenia zdolności wyłączania prądów przeciążeniowych bezpieczników na wysokie napięcie wykonywana w układzie bezpośrednim związana jest z koniecznością długotrwałego obciążenia bezpiecznika dużym prądem w obwodzie wysokiego napięcia. Zamiast układu do badań bezpośrednich można korzystać z układu zastępczego, dwuźródłowego, w którym nagrzewanie bezpiecznika odbywa się w obwodzie niskonapięciowym, a dopalanie w obwodzie wysokiego napięcia. Dla równoważności obu prób konieczne jest dokonanie przełączenia z jednego układu na drugi w możliwie najkrótszym czasie. W artykule opisano również ultra szybki przełącznik, który pozwala na takie przełączenie i pokazano przykładowy przebieg próby.
During direct tests of high voltage fuses in overload conditions, the tested fuse has to carry the rated overload current at the rated voltage for a long enough time to interrupt the overcurrent. These types of tests cannot be done in short circuit laboratories. A short circuit generator cannot be excited for the length of time needed to complete the test. Therefore the indirect test method is often applied. It uses separate current and voltage circuits in sequence: first the fuse is supplied from a low voltage current circuit to conduct a current of the recommended intensity and, at the moment of the current interruption, the fuse is disconnected from the low voltage circuit and switched to a high voltage circuit. To ensure the equivalence of the direct and indirect tests the switching time from the current to the voltage circuit should be as short as possible. This paper describes a fast operating switch for use in such tests.
Źródło:
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2016, 274; 83-87
0032-6216
Pojawia się w:
Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
New Structure of Test Pattern Generator Stimulating Crosstalks in Bus-type Connections
Autorzy:
Garbolino, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/226543.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
integrated circuit interconnections
crosstalk
test pattern generator
built-in self-test
system-on-a-chip
Opis:
The paper discloses the idea of a new structure for a Test Pattern Generator (TPG) for detection of crosstalk faults that may happen to bus-type interconnections between built in blocks within a System-on-Chip structure. The new idea is an improvement of the TPG design proposed by the author in one of the previous studies. The TPG circuit is meant to generate test sequences that guarantee detection of all crosstalk faults with the capacitive nature that may occur between individual lines within an interconnecting bus. The study comprises a synthesizable and parameterized model developed for the presented TPG in the VLSI Hardware Description Language (VHDL) with further investigation of properties and features of the offered module. The significant advantages of the proposed TPG structure include less area occupied on a chip and higher operation frequency as compared to other solutions. In addition, the design demonstrates good scalability in terms of both the hardware overhead and the length of the generated test sequence.
Źródło:
International Journal of Electronics and Telecommunications; 2015, 61, 1; 67-75
2300-1933
Pojawia się w:
International Journal of Electronics and Telecommunications
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Two heuristic alghorithms for test point selection in analog circuit diagnoses
Autorzy:
Pułka, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221005.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
analog circuit diagnosis
fault diagnosis
testing
search methods
heuristic optimization
Opis:
The paper presents a heuristic approach to the problem of analog circuit diagnosis. Different optimization techniques in the field of test point selection are discussed. Two new algorithms: SALTO and COSMO have been introduced. Both searching procedures have been implemented in a form of the expert system in PROLOG language. The proposed methodologies have been exemplified on benchmark circuits. The obtained results have been compared to the others achieved by different approaches in the field and the benefits of the proposed methodology have been emphasized. The inference engine of the heuristic algorithms has been presented and the expert system knowledge-base construction discussed.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2011, 18, 1; 115-128
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Positive time-varying continuous-time linear systems and electrical circuits
Autorzy:
Kaczorek, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/200313.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
linear
time-varying system
electrical circuit
stability test
system
test stabilności
obwód elektryczny
liniowość
Opis:
The positivity of time-varying continuous-time linear systems and electrical circuits are addressed. Necessary and sufficient conditions for the positivity of the systems and electrical circuits are established. It is shown that there exists a large class of positive electrical circuits with time-varying parameters. Examples of positive electrical circuits are presented.
Źródło:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2015, 63, 4; 837-842
0239-7528
Pojawia się w:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Application of uniform test design in optimizing the flotation reagents of iron anionic reverse flotation circuit
Autorzy:
Hou, Ying
Sobhy, Ahmed
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2146945.pdf
Data publikacji:
2022
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
iron oxide
quartz
uniform test design
reverse flotation
optimization
flotation reagents
Opis:
Most iron reserves are low in grade with quartz as the main gangue mineral, and anionic reverse flotation has become the most crucial separation method in the processing plants of iron ore. Thus, a flotation feed sample that is a mixture of low-intensity and high-gradient magnetic separators concentrates was acquired from a processing plant. The sample characterizations with X-ray diffraction (XRD), X-ray fluorescence (XRF), laser particle size analyzer, and mineral liberation analysis (MLA) confirmed that the sample consists of iron oxide as a valuable mineral and quartz as a gangue mineral with adequate liberation degree. In the anionic reverse flotation, the interaction of the flotation reagents with the constituents of the feed makes the flotation a complex system. Thus, the selection and optimization of regent dosages were performed using a uniform experimental design to estimate the optimum separation efficiency. The optimum reagent system was 1.6 kg/Mg starch depressant, 1.0 kg/Mg calcium oxide (lime) activator, and 0.8 kg/Mg TD-II anionic collector. At the optimum, 68.90% iron grade with 92.62% recovery was produced.
Źródło:
Physicochemical Problems of Mineral Processing; 2022, 58, 1; 37--49
1643-1049
2084-4735
Pojawia się w:
Physicochemical Problems of Mineral Processing
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Experimental evaluation of circuit board components under extreme conditions
Autorzy:
Sokół, Krzysztof
Ptak, Piotr
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2106230.pdf
Data publikacji:
2022
Wydawca:
Politechnika Białostocka. Oficyna Wydawnicza Politechniki Białostockiej
Tematy:
experimental test
mathematical model
semiconductor diodes
thermal chamber
WCA
Opis:
Designing products operating in harsh conditions is a challenging task. Years of experience, developed standards and good practices are crucial in achieving the intended result. The article shows a methodology for designing electronic systems based on the worst-case analysis (WCA) and comparing its outcomes with the experimental verification of an actual circuit through large-scale tests. The analysed diode-based semiconductor circuit is part of a temperature measuring system of industrial application. The objective of the design and analysis process is to achieve a reliable solution, which has all the required functionalities under actual, extreme operating conditions. The preliminary circuit design is developed using ideal components. The truth table, which represents customer requirements, is created to check the correct operation of the system. Simulation software, such as LTSpice, are used as the main tools to verify the correct functioning based on ideal or close-to-real component models. Next, based on the results of computer simulations, the WCA is conducted, considering all extreme (worst) operating environment parameters, such as, among others, ambient temperature or ageing. WCA results were verified through an experimental, large-scale measurement of the real system, with defined forward voltage as a function of the current flowing through the semiconductor at various ambient temperatures.
Źródło:
Acta Mechanica et Automatica; 2022, 16, 1; 8--15
1898-4088
2300-5319
Pojawia się w:
Acta Mechanica et Automatica
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Measurement of Short-Circuit Effects on Transformer Winding with SFRA Method and Impact Test
Autorzy:
Gutten, M.
Janura, R.
Šebök, M.
Korenčiak, D.
Kučera, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221649.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
transformer
mechanical effects
measuring methods
frequency response
impact test
Opis:
The paper presents theoretical and experimental analyses of a possible effect of the short-circuit forces on the transformer winding. The first part of the paper is focused on creation and activity of the radial and axial forces during a short circuit. It shows dimensions, direction and − of course − the resulting mechanical stress. The presented equation shows basic dependencies of these mechanical forces created in the transformer winding. Finally, the paper presents experimental methods of diagnosing and analysing the effects of short-circuit forces on the transformer winding.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2016, 23, 4; 521-529
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The stand for resource tests of drive lines the close circuit
Stend dlja resursnykh ispytanijj kardannykh peredach v zamknutom konture
Autorzy:
Pastukhov, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/76459.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Komisja Motoryzacji i Energetyki Rolnictwa
Tematy:
resource test
drive line
closed circuit
tooth gearing
durability
technical solution
rational design
modern system
Źródło:
Motrol. Motoryzacja i Energetyka Rolnictwa; 2013, 15, 7
1730-8658
Pojawia się w:
Motrol. Motoryzacja i Energetyka Rolnictwa
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Positive and stable time-varying continous-time linear systems and electrical circuits
Autorzy:
Kaczorek, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/377577.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:
positive
linear
time-varying
system
electrical circuit
stability
test
Opis:
The positivity and stability of a class of time-varying continuous-time linear systems and electrical circuits are addressed. Sufficient conditions for the positivity and asymptotic stability of the system are established. It is shown that there exists a large class of positive and asymptotically stable electrical circuits with time-varying parameters. Examples of positive electrical circuits are presented.
Źródło:
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering; 2015, 81; 11-19
1897-0737
Pojawia się w:
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Supercapacitor Degradation Assesment by Power Cycling and Calendar Life Tests
Autorzy:
Sedlakova, V.
Sikula, J.
Majzner, J.
Sedlak, P.
Kuparowitz, T.
Buergler, B.
Vasina, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221305.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
supercapacitor equivalent circuit
supercapacitor parameter evaluation
supercapacitor reliability
power cycling life test
calendar life test
Opis:
Degradation of Supercapacitors (SC) is quantified by accelerated ageing tests. Energy cycling tests and calendar life tests are used since they address the real operating modes. The periodic characterization is used to analyse evolution of the SC parameters as a whole, and its Helmholtz and diffusion capacitances. These parameters are determined before the ageing tests and during 3 × 105 cycles of both 75% and 100% energy cycling, respectively. Precise evaluation of the capacitance and Equivalent Series Resistance (ESR) is based on fitting the experimental data by an exponential function of voltage vs. time. The ESR increases linearly with the number (No) of cycles for both 75% and 100% energy cycling, whereas a super-linear increase of ESR vs. time of cycling is observed for the 100% energy cycling. A decrease of capacitance in time had been evaluated for 2000 hours of ageing of SC. A relative change of capacitance is ΔC/C0 = 16% for the 75% energy cycling test and ΔC/C0 = 20% for the 100% energy cycling test at temperature 25°C, while ΔC/C0 = 6% for the calendar test at temperature 22°C for a voltage bias V = 1.0 Vop. The energy cycling causes a greater decrease of capacitance in comparison with the calendar test; such results may be a consequence of increasing the temperature due to the Joule heat created in the SC structure. The charge/discharge current value is the same for both 75% and 100% energy cycling tests, so it is the Joule heat created on both the equivalent series resistance and time-dependent diffuse resistance that should be the source of degradation of the SC structure. The diffuse resistance reaches a value of up to 30Ω within each 75% energy cycle and up to about 43Ω within each 100% energy cycle.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2016, 23, 3; 345-358
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Analysis of positivity and stability of time-varying continuous-time linear systems and electrical circuits
Autorzy:
Kaczorek, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/97265.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:
positive
linear
time-varying
system
electrical circuit
stability
Lyapunov method
test
Opis:
The positivity and stability of a class of time-varying continuous-time linear systems and electrical circuits are addressed. Sufficient conditions for the positivity and asymptotic stability of the system are established. It is shown that there exists a large class of positive and asymptotically stable electrical circuits with time-varying parameters. The Lyapunov method is extended to positive nonlinear systems. Examples of positive electrical circuits are presented.
Źródło:
Computer Applications in Electrical Engineering; 2015, 13; 1-18
1508-4248
Pojawia się w:
Computer Applications in Electrical Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Wyświetlanie 1-15 z 16

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies