Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Two heuristic alghorithms for test point selection in analog circuit diagnoses

Tytuł:
Two heuristic alghorithms for test point selection in analog circuit diagnoses
Autorzy:
Pułka, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221005.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
analog circuit diagnosis
fault diagnosis
testing
search methods
heuristic optimization
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2011, 18, 1; 115-128
0860-8229
Język:
angielski
Prawa:
CC BY-NC-ND: Creative Commons Uznanie autorstwa - Użycie niekomercyjne - Bez utworów zależnych 3.0 PL
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
The paper presents a heuristic approach to the problem of analog circuit diagnosis. Different optimization techniques in the field of test point selection are discussed. Two new algorithms: SALTO and COSMO have been introduced. Both searching procedures have been implemented in a form of the expert system in PROLOG language. The proposed methodologies have been exemplified on benchmark circuits. The obtained results have been compared to the others achieved by different approaches in the field and the benefits of the proposed methodology have been emphasized. The inference engine of the heuristic algorithms has been presented and the expert system knowledge-base construction discussed.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies