Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Fedotov, V." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-4 z 4
Tytuł:
Hopping Conductance in Nanocomposites $(Fe_{0.45}Co_{0.45}Zr_{0.10})_{x}(Al_2O_3)_{1 - x}$ Manufactured by Ion-Beam Sputtering of Complex Target in $Ar+O_2$ Ambient Gas
Autorzy:
Kołtunowicz, T.
Zhukowski, P.
Fedotova, V.
Saad, A.
Fedotov, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1503812.pdf
Data publikacji:
2011-07
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
79.20.Rf
73.22.-f
84.37.+q
72.20.Ee
Opis:
We report the investigation of a real part of the admittance σ of granular nanocomposites $(Fe_{0.45}Co_{0.45}Zr_{0.10})_{x}(Al_2O_3)_{1 - x}$ with 0.30 < x < 0.70 in the dielectric (hopping) regime. An analysis of the σ(T, f, x) dependences in the as-deposited and annealed films over the temperature 77 K < T < 300 K and frequency 50 < f < $10^6$ Hz ranges displayed the predominance of an activation (hopping) conductance mechanism with dσ/ dT > 0 for the samples below the percolation threshold $x_{C}$ ≈ 0.76 ± 0.05. Based on the earlier models for hopping AC conductance, computer simulation of the frequency coefficient $α_{f}$ of hopping conductance depending on the probability of jump p, frequency f, and also on the shape of σ(f) curve was performed. The experimental and simulation results revealed a good agreement.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 120, 1; 39-42
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The Features of Real Part of Admittance in the Nanocomposites $(Fe_{45}Co_{45}Zr_{10})_{x}(Al_2O_3)_{100 - x}$ Manufactured by the Ion-Beam Sputtering Technique with Ar Ions
Autorzy:
Kołtunowicz, T.
Zhukowski, P.
Fedotova, V.
Saad, A.
Larkin, A.
Fedotov, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1503798.pdf
Data publikacji:
2011-07
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
79.20.Rf
73.22.-f
84.37.+q
72.20.Ee
Opis:
The temperature and frequency dependences of the admittance real part σ (T, f) in granular $(Fe_{45}Co_{45}Zr_{10})_{x}(Al_2O_3)_{100 - x}$ nanocomposite films around the percolation threshold $x_{C}$ were investigated. The behaviour of σ (T, f) vs. the temperature and frequency over the ranges 77-300 K and 50 Hz-1 MHz, respectively, displays the predominance of an activation (hopping) conductance mechanism for the samples below the percolation threshold $x_{C}$ and of a metallic one beyond the $x_{C}$ determined as 54 ± 2 at.%. The mean hopping range d for the nanoparticles diameter D was estimated at different metallic phase content x.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 120, 1; 35-38
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Mechanisms of Carrier Transport in $Cu_x(SiO_2)_{1-x}$ Nanocomposites Manufactured by Ion-Beam Sputtering with Ar Ions
Autorzy:
Fedotov, A.
Mazanik, A.
Svito, I.
Saad, A.
Fedotova, V.
Czarnacka, K.
Koltunowicz, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1402220.pdf
Data publikacji:
2015-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
84.37.+q
72.80.Ga
73.22.-f
61.46.Df
64.60.ah
Opis:
The present paper investigates the temperature/frequency dependences of admittance Z in the granular $Cu_x(SiO_2)_{1-x}$ nanocomposite films around the percolation threshold $x_{C}$ in the temperature range of 4-300 K and frequencies of 20-10⁶ Hz. The behavior of low-frequency ReZ(T) dependences displayed the predominance of electrons hopping between the closest Cu-based nanoparticles for the samples below the percolation threshold $x_{C}$ ≈ 0.59 and nearly metallic behaviour beyond the $x_{C}$. The high-frequency curves ReZ(f) at temperatures T > 10 K for the samples with x < $x_{C}$ exhibited behavior close to ReZ(f) ≈ $f^{-s}$ with s ≈ 1.0 which is very similar to the known Mott law for electron hopping mechanism. For the samples beyond the percolation threshold (x > $x_{C}$), the frequency dependences of ReZ(f) displayed inductive-like (not capacitive) behaviour with positive values of the phase shift angles.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2015, 128, 5; 883-886
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Magnetoresistance in n-Si/$SiO_2$/Ni Nanostructures Manufactured by Swift Heavy Ion-Induced Modification Technology
Autorzy:
Fedotova, J.
Ivanou, D.
Ivanova, Y.
Fedotov, A.
Mazanik, A.
Svito, I.
Streltsov, E.
Saad, A.
Tyutyunnikov, S.
Kołtunowicz, T.
Demyanov, S.
Fedotova, V.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1504014.pdf
Data publikacji:
2011-07
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.Ln
81.05.Rm
73.22.-f
73.50.Jt
Opis:
A study of magnetotransport in the n-Si/$SiO_2$/Ni nanostructures with granular Ni nanorods in $SiO_2$ pores was performed over the temperature range 2-300 K and at the magnetic fields induction up to 8 T. The n-Si/$SiO_2$/Ni Schottky nanostructures display the enhanced magnetoresistive effect at 25 K due to the impurity avalanche mechanism.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 120, 1; 133-135
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies