Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "wavenumber-scanning interferometry" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Depth-resolved measurement of the compression displacement fields on the front and rear surfaces of an epoxy sample
Autorzy:
Zhang, W.
Dong, B.
He, Z.
Xie, S.
Zhou, Y.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/174399.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
depth-resolved measurement
compression displacement field
wavenumber-scanning interferometry
epoxy
Opis:
Compression is one of the typical parameters measured in material mechanics. In this research, the compression displacement fields on the front and rear surfaces of an epoxy sample are measured by using a tilt depth-resolved wavenumber-scanning Michelson interferometer. The light source is a distributed feedback laser diode, the wavenumber of which can be modulated to about 1.017 × 104 m–1 by the temperature without mode hopping. A random-sampling Fourier transform is designed to evaluate the phase differences before and after the applied loads. Experimental results show that the depth-resolved measurement of the compression displacement field is of high accuracy. It can be used to analyze force propagation inside resin-based composites.
Źródło:
Optica Applicata; 2018, 48, 2; 311-323
0078-5466
1899-7015
Pojawia się w:
Optica Applicata
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies