- Tytuł:
-
Szacowanie wartości temperatury złącza półprzewodnikowego na podstawie wartości temperatury wyprowadzenia diody
Estimate of semiconductor diode junction temperature based on diode PIN - Autorzy:
- Dziarski, K.
- Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/376274.pdf
- Data publikacji:
- 2018
- Wydawca:
- Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
- Tematy:
-
dioda półprzewodnikowa
wartość temperatury złącza
wyprowadzenie
termowizja - Opis:
-
W niniejszym artykule przedstawiono związek pomiędzy wartością temperatury wyprowadzenia
i wartością temperatury złącza diody półprzewodnikowej w obudowie do
montażu powierzchniowego. Przedstawiono parametry wybranych diod półprzewodnikowych.
Omówiono metodykę przeprowadzonych badań i skonstruowany układ pomiarowy.
Zaprezentowano sposób szacowania temperatury złącza diody półprzewodnikowej
na podstawie charakterystyki wiążącej wartość spadku napięcia UF i wartość temperatury.
Przedstawiono dobór wartości współczynnika emisyjności wyprowadzenia ε pozwalający
uzyskać wystarczająco dokładną wartość temperatury wyprowadzenia, na podstawie
której możliwe jest oszacowanie wartości temperatury złącza. Dodatkowo przedstawiono
zastosowaną kamerę termowizyjną.
Junction temperature is one of the most important parameters of semiconductor diode. Diode operation depends on junction temperature. Correct measurement is difficult because of a small size of the object. The measurements are especially complex for SMD (Surface Mount Device) diodes, which have a size of a few millimeters. Contact measurement method with temperature sensor is unreliable. Alternative way is the noncontact thermovision measurement, which can give an information about the temperature of the diode pins. In practice the information about diode junction is more significant. This article describe relation between a result of diode pins thermovision measurement and temperature of junction. The diodes with two semiconductors junctions in the same case was used. Junctions of the diodes was connected in various kind (common anode and common cathode). It was found relation, which allow estimate of junction temperature value based on pin temperature. - Źródło:
-
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering; 2018, 95; 243-254
1897-0737 - Pojawia się w:
- Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki