Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "uszkodzenie parametryczne" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Optimal replacement policy for a periodically inspected system subject to the competing soft and sudden failures
Optymalna polityka wymiany do zastosowania w systemach poddawanych przeglądom okresowymnarażonych na konkurujące uszkodzenia parametryczne i nagłe
Autorzy:
Tang, D.
Yu, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/301652.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
condition-based maintenance
periodic inspections
competing risk
soft failure
sudden failure
utrzymanie ruchu zależne od stanu technicznego urządzeń
przegląd okresowy
zagrożenie konkurujące
uszkodzenie parametryczne
uszkodzenie nagłe
Opis:
This paper analyzes a replacement problem for a continuously degrading system which is periodically inspected and subject to the competing risk of soft and sudden failures. The system should be correctively replaced by a new one upon failure, or it could be preventively replaced before failure due to safety and economic considerations. Dependent soft and sudden failures are considered. The degradation process of the system observed by inspections exhibits a monotone increasing pattern and is described by a gamma process. The failure rate of the sudden failure is characterized by its dependency on the system age and the degradation state. By formulating the optimization problem in a semi-Markov decision process framework, the specific form of the optimal replacement policy which minimizes the long-run expected average cost per unit time is found, considering a cost structure that includes the cost for inspections, the cost for preventive replacement, and the costs for different failure modes. The corresponding computational algorithm to obtain the optimal replacement policy is also developed. A real data set is utilized to illustrate the application of the optimal replacement policy.
W artykule przeanalizowano problem wymiany dotyczący poddawanego przeglądom okresowym systemu ulegającego ciągłej degradacji i narażonego na konkurujące zagrożenie uszkodzeniami parametrycznymi i nagłymi. System taki powinien zostać wymieniony na nowy w ramach konserwacji korygującej w przypadku wystąpienia uszkodzenia lub też, ze względów bezpieczeństwa i względów ekonomicznych, można dokonać wymiany profilaktycznej jeszcze przed wystąpieniem uszkodzenia. W artykule rozważono przypadek zależnych od siebie uszkodzeń parametrycznych i nagłych. Proces degradacji systemu obserwowany podczas przeglądów ma charakter monotonicznie rosnący i można go opisać za pomocą procesu gamma. Intensywność uszkodzeń nagłych zależy od wieku systemu i jego stanu degradacji. Formułując problem optymalizacyjny w ramach semi-markowskiego procesu decyzyjnego, można określić formę optymalnej polityki wymiany, która minimalizowałaby długookresowy średni koszt na jednostkę czasu, z uwzględnieniem struktury kosztów, która obejmuje koszty przeglądów, koszty wymiany profilaktycznej oraz koszty różnych przyczyn uszkodzeń. Opracowano odpowiedni algorytm obliczeniowy umożliwiający ustalenie optymalnej polityki wymiany. Zastosowanie proponowanej optymalnej polityki wymiany zilustrowano na przykładzie zbioru rzeczywistych danych.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2015, 17, 2; 228-235
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
On-chip Parametric Test of R-2R Ladder Digital-to-Analog Converter and Its Efficiency
Autorzy:
Arbet, D.
Stopjakova, V.
Brenkus, J.
Gyepes, G.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/397993.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
wykrywanie uszkodzeń
uszkodzenie katastroficzne
uszkodzenia parametryczne
test parametryczny
mieszany test sygnału
fault detection
catastrophic faults
parametric faults
on-chip parametric test
mixed-signal test
Opis:
This paper deals with the investigation of the fault detection in separated parts of a mixed-signal integrated circuit example by implementing parametric test methods. The experimental Circuit Under Test (CUT) consisting of an 8-bit binary-weighted R-2R ladder digital-to-analog converter and additional on-chip test hardware was designed in a standard 0.35 μm CMOS technology. For detection of catastrophic and parametric faults considered in different parts of the CUT, two dedicated parametric test methods: oscillation-based test technique and IDDQ monitoring were used. For the operational amplifier, on-chip and off-chip approaches have been used to compare the efficiency of both approaches in covering catastrophic faults that are hard to detect. For respective converter parts, the excellent fault coverage of 94.21% of hard-detectable faults by the proposed parametric tests was achieved.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2012, 3, 2; 73-80
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies