Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "urządzenie elektroniczne" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-5 z 5
Tytuł:
Assurance of the electromagnetic compatibility in the chosen transport telematic systems
Autorzy:
Siergiejczyk, M.
Pas, J.
Rosinski, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/393321.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polskie Stowarzyszenie Telematyki Transportu
Tematy:
electromagnetic compatibility
transport
electronic device
kompatybilność elektromagnetyczna
urządzenie elektroniczne
Opis:
This paper presents the issues related to electromagnetic compatibility in the chosen transport telematic systems. Intentional or unintentional (stationary or mobile) electromagnetic disturbance occurring over a large rail area may cause disruption of their operations. Therefore, it becomes important to analyse disturbances affecting these systems and to develop methods for reducing their impact.
Źródło:
Archives of Transport System Telematics; 2013, 6, 3; 38-41
1899-8208
Pojawia się w:
Archives of Transport System Telematics
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Realizacja ochrony przeciwprzepięciowej urządzeń elektronicznych instalowanych wzdłuż szlaku kolejowego
The methodology of realization surge protection of electronics device installations alongside railway routs
Autorzy:
Białoń, A.
Kruczek, W.
Laskowski, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/251505.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Instytut Naukowo-Wydawniczy TTS
Tematy:
szlak kolejowy
urządzenie elektroniczne
ochrona przeciwprzepięciowa
railtrack
electronic device
Surge protection
Opis:
Elektroniczne urządzenia sterowania ruchem kolejowym należą do najbardziej rozbudowanych przestrzennie systemów. Cechuje je duża wrażliwość na impulsowe zaburzenia elektromagnetyczne, przede wszystkim na przepięcia wywołane wyładowaniami elektromagnetycznymi i procesami komutacyjnymi.
This paper presents problematic aspects connected to correct design of surge protection for electronics device which are installed alongside railway routes in the trackside cabinet in order to provide appropriate requirements for the reliable work. If any possible mistakes are make during designing installations of inside lightning protection in extreme conditions it may appear widespread and expensive failure.
Źródło:
TTS Technika Transportu Szynowego; 2015, 3; 48-52
1232-3829
2543-5728
Pojawia się w:
TTS Technika Transportu Szynowego
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Badania poziomu społecznej świadomości występowania syndromu tech neck wśród przedstawicieli „Pokolenia Z”
Research on the social awareness of the tech neck syndrome among the "Z" generation representatives
Autorzy:
Chuchnowska, Iwona
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2201500.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Politechnika Śląska. Katedra Biomechatroniki
Tematy:
tech neck
pokolenie Z
ból głowy
urządzenie elektroniczne
generation Z
headache
electronic device
Opis:
W artykule zaprezentowano wyniki badania ankietowego, którego celem było ustalenie społecznej świadomości występowania syndromu tech-neck wśród reprezentantów tzw. pokolenia z – w najwyższym stopniu uzależnionego od korzystania z urządzeń elektronicznych. Badaniem objęto także zagadnienie podejmowania prób świadomego, celowego zapobiegania przedmiotowemu problemowi oraz podatność na bóle głowy i poszczególnych partii kręgosłupa. Wyniki zestawiano z szacunkowym deklarowanym przez respondentów czasem korzystania z poszczególnych urządzeń elektronicznych.
The article presents the results of a survey whose aim was to establish public awareness of the occurrence of the tech-neck syndrome among representatives of the so-called generation z - the most addicted to using electronic devices. The study also covered the issue of making deliberate attempts to prevent the problem in question, and the susceptibility to headaches and pain in individual parts of the spine. The results were compared with the estimated time of using particular electronic devices declared by the respondents.
Źródło:
Aktualne Problemy Biomechaniki; 2020, 20; 5--12
1898-763X
Pojawia się w:
Aktualne Problemy Biomechaniki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wybrane zagadnienia optymalizacji przeglądów okresowych urządzeń elektronicznych
Selected issues of the optimization of electronic equipment periodical inspections
Autorzy:
Rosiński, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/215331.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Instytut Kolejnictwa
Tematy:
komputerowe wspomaganie
optymalizacja
przegląd okresowy
urządzenie elektroniczne
computer aiding
electronic equipment
optimization
periodical inspections
Opis:
Urządzenia elektroniczne są obecnie stosowane w wielu gałęziach transportu. Szczególnie znaczenie mają w transporcie kolejowym, zwłaszcza w urządzeniach sterowania ruchem kolejowym, gdzie ich niezawodność i poprawność funkcjonowania w istotny sposób wpływa na bezpieczeństwo przewożonych osób i ładunków. W artykule zaprezentowano metodę optymalizacji przeglądów okresowych tych urządzeń, która uwzględnia wybrane własności niezawodnościowe (intensywność uszkodzeń), eksploatacyjne (intensywność napraw, intensywność obsługiwania eksploatacyjnego) i ekonomiczne (nakłady finansowe przeznaczone a przeglądy okresowe). Kryterium optymalizacyjne maksymalizuje wartość wskaźnika gotowości.
At present electronic equipment is widely used in many transport segments. It plays significant role in the rail transport and particularly in the automatic train operation where reliability and correct functioning is important fos safe transport of passengers and goods. The paper presents the optimization method for periodical inspections of such equipment. This method takes into consideration selected reliability properties (failure intensity), operating properties (repair intensity, routine maintenance intensity) and economic properties (financial outlays spent on routine inspections) Optimization criterion maximizes the value of availabiliy factor.
Źródło:
Problemy Kolejnictwa; 2009, 149; 89-107
0552-2145
2544-9451
Pojawia się w:
Problemy Kolejnictwa
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Zmodyfikowany model prognozowania niezawodności urządzeń elektronicznych
A modified model of electronic device reliability prediction
Autorzy:
Zeng, S.
Sun, B.
Tong, Ch.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/301431.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
prognozowanie niezawodności
modyfikacja modelu
fizyka uszkodzeń
urządzenie elektroniczne
test K-S
testy cenzurowania losowego
reliability prediction
model modification
physics of failure
electronic device
K-S test
random censored tests
Opis:
Prognozowanie niezawodności urządzeń elektronicznych oparte na modelu fizyki uszkodzeń (PoF) jest obarczone niepewnościami. Opierając się na połączeniu testu Kołmogorowa-Smirnowa (testu K-S) i metody symulacji Monte Carlo, w niniejszej pracy zaprezentowano zmodyfikowaną metodę prognozowania niezawodności urządzeń elektronicznych, która bierze pod uwagę ograniczoną liczbę danych testowych o uszkodzeniach. Ilościową charakterystykę głównych czynników niepewności modelu stworzono na podstawie wskaźnika zdolności procesu (Cpk). W pierwszej części pracy badano stopień dopasowania pomiędzy teoretycznym rozkładem podobieństwa uszkodzeń urządzeń elektronicznych obliczanym w oparciu o PoF przy użyciu metody symulacji Monte-Carlo a empirycznym rozkładem podobieństwa uszkodzeń urządzeń elektronicznych uzyskanym na podstawie testowych lub terenowych danych o uszkodzeniach przy życiu metody K-S. W części drugiej, dokonano optymalizacji skorygowanego współczynnika modelu. Wreszcie, na podstawie przykładu modelu oceny termicznej wytrzymałości zmęczeniowej połączenia lutowanego oraz wybranych danych testowych o uszkodzeniach dokonano weryfikacji proponowanej metody. Wyniki prognoz uzyskane na podstawie zmodyfikowanego modelu są zgodne z wynikami testowymi.
There exist uncertainties in the prediction of electronic device reliability based on PoF (physics of failure) model. Based on the combination of Kolmogorov-Smirnov test (KS-test) and Monte-Carlo simulation method, this paper presents a modified method for reliability prediction of electronic devices considering limited test failure data. The process capability index (Cpk) is used to quantitatively characterize the main factors of model uncertainties. Firstly the degree of fitting between the theoretical probability distribution of electronic device failures based on PoF by using the Monte-Carlo simulation method and the practical probability distribution of electronic device failures based on test or field failure data is tested by using K-S test method. Secondly the corrected coefficient of the model is optimized. Finally, a solder thermal fatigue life assessment model and some test failure data are used to verify the proposed method in the illustrative example. The prediction results calculated by modifi ed model are consistent with test results.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2009, 4; 4-9
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-5 z 5

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies