- Tytuł:
-
Analiza parametrów metrologicznych systemu pomiarowego tomografii impedancyjnej
Analysis of metrological parameters of measurement system for impedance tomography - Autorzy:
- Wójtowicz, S.
- Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/159407.pdf
- Data publikacji:
- 2007
- Wydawca:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
- Tematy:
-
tomografia impedancyjna
model pomiaru - Opis:
-
Analiza metrologiczna torów pomiarowych umożliwia oszacowanie przedziałów ufności wielkości mierzonych i w konsekwencji rozkładu przestrzennego przedziałów ufności parametrów impedancyjnych. Artykuł przedstawia strukturę systemu pomiarowego, probabilistyczny model pomiaru w systemie wielowejściowym oraz analizę rozkładów składowych błędów. Do oszacowania przedziałów ufności zastosowano i porównano metodę propagacji przedziałów ufności i metodę propagacji rozkładów gęstości prawdopodobieństwa.
The metrological analysis of measuring chain enable to estimate a confidence interval of measured quantity as a consequence of confidence intervals for spatial distribution of impedance parameters. In the paper, the structure of measurement system, the probabilistic model of the measurement in multi-port system and the analysis of error components are presented. To estimate the confidence intervals a method of confidence interval propagation was applied as well this method with a method of probability density function propagation were compared. - Źródło:
-
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2007, 230; 43-64
0032-6216 - Pojawia się w:
- Prace Instytutu Elektrotechniki
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki