Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "temperature variance" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Coherent structures and transport of temperature variance and oscillatory heat fluxes in a stimulated round jet
Autorzy:
Drobniak, S.
Klajny, R.
Pełka, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/281836.pdf
Data publikacji:
2001
Wydawca:
Polskie Towarzystwo Mechaniki Teoretycznej i Stosowanej
Tematy:
turbulent jet
coherent structures
temperature variance
Opis:
The paper deals with heat transfer processes taking place in the near flow region of axisymmetric free jet in the presence of coherent motion stimulated by acoustic wave. The parameters selected for qualitative and quantitative analysis were the temperature variance and coherent as well as oscillatory heat fluxes. Temperature variance was treated as a measure of intensity of heat transport while heat fluxes described spatial characteristics of the heat transfer processes. Analysis of transport equations of the above quantities should explain the physics of heat transfer realised in the presence of coherent structures.
Struktury koherentne i transport wariancji temperatury oraz oscylacyjnych strumieni ciepła w strudze kołowej. W pracy przedstawiono wyniki eksperymentalnej analizy procesów transportu ciepła zachodzących w początkowym obszarze osiowosymetrycznej strugi swobodnej w obecności struktur koherentnych stymulowanych polem akustycznym. Przyjęto, że parametrami, przy pomocy których można w sposób jakościowy i ilościowy opisać zachodzące w przepływie procesy są wariancja temperatury i oscylacyjne strumienie ciepła. Wariancja temperatury może być bowiem traktowana jako miara intensywności transportu ciepła, podczas gdy strumienie ciepła opisują jego przemieszczanie się w obszarze przepływu. Uzyskane na drodze eksperymentalnej przestrzenne rozkłady obu wielkości fizycznych, uzupełnione fizykalną analizą ich równań transportu, pozwoliły na rozpoznanie procesów przemieszczania się ciepła w przepływie w obecności struktur koherentnych.
Źródło:
Journal of Theoretical and Applied Mechanics; 2001, 39, 4; 885-908
1429-2955
Pojawia się w:
Journal of Theoretical and Applied Mechanics
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Lifetime prediction method for MEMS gyroscope based on accelerated degradation test and acceleration factor model
Metoda prognozowania czasu pracy żyroskopu MEMS na podstawie testu przyspieszonej degradacji i modelu współczynnika przyspieszenia
Autorzy:
Liu, Yao
Wang, Yashun
Fan, Zhengwei
Hou, Zhanqiang
Zhang, Shufeng
Chen, Xun
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/301995.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
MEMS gyroscope
temperature stress
accelerated degradation test
acceleration factor model
Allan variance
żyroskop MEMS
naprężenie cieplne
test przyspieszonej degradacji
model współczynnika przyspieszenia
wariancja Allana
Opis:
The reliability analysis of MEMS gyroscope under long-term operating condition has become an urgent requirement with the enlargement of its application scope and the requirement of good durability. In this study we propose a lifetime prediction method for MEMS gyroscope based on accelerated degradation tests (ADTs) and acceleration factor model. Firstly, the degradation characteristic (bias instability) is extracted based on Allan variance. The effect of temperature stress on the degradation rate of bias instability is analyzed, and it shows that the degradation rate of bias instability would increase with the increase of the temperature. Secondly, the ADTs of MEMS gyroscope are designed and conducted, the degradation model of MEMS gyroscope is established based on the output voltage of MEMS gyroscope and Allan variance. Finally, the acceleration factor model of MEMS gyroscope under temperature stress is derived, and the lifetime of the MEMS gyroscope is predicted based on two group tests data under high stress level. The results show that the lifetime calculated by the acceleration factor model and mean lifetime under high stress levels is close to the mean lifetime calculated by the linear equation at normal temperature stress.
Analiza niezawodności żyroskopu MEMS w warunkach długotrwałej pracy stała się pilną koniecznością wraz z rozszerzeniem zakresu jego zastosowania i wprowadzeniem wymogu dobrej trwałości. W niniejszym artykule, zaproponowano metodę prognozowania czasu pracy żyroskopu MEMS w oparciu o testy przyspieszonej degradacji i model współczynnika przyspieszenia. W pierwszej kolejności, wyznaczono charakterystykę degradacji (niestabilność wskazań) na podstawie wariancji Allana. Analizowano wpływ naprężenia cieplnego na szybkość degradacji w zakresie niestabilności wskazań. Analiza wykazała, że szybkość degradacji wzrastała wraz ze wzrostem temperatury. Następnie, opracowano i przeprowadzono testy przyspieszonej degradacji żyroskopu MEMS, a model jego degradacji ustalono na podstawie napięcia wyjściowego żyroskopu i wariancji Allana. Na koniec, wyprowadzono model współczynnika przyspieszenia dla żyroskopu MEMS w warunkach naprężenia cieplnego, a żywotność żyroskopu prognozowano na podstawie danych z dwóch testów grupowych przeprowadzonych w warunkach wysokiego naprężenia. Wyniki pokazują, że czas pracy obliczony na podstawie modelu współczynnika przyspieszenia i średni czas pracy przy wysokich poziomach naprężeń są zbliżone do średniego czasu pracy obliczonego na podstawie równania liniowego przy normalnym naprężeniu cieplnym.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2020, 22, 2; 221-231
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies