Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "system for resonant spectroscopy" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
System do badań nieniszczących warystorów metodą rezonansowej spektroskopii ultradźwiękowej
System for non-destructive testing of varistors by means of resonant ultrasound spectroscopy
Autorzy:
Hasse, L.
Sikula, J.
Smulko, J.
Spiralski, L.
Szewczyk, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/268036.pdf
Data publikacji:
2008
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Tematy:
warystory wysokonapięciowe
rezonansowa spektroskopia ultradźwiękowa
system do spektroskopii rezonansowej
high-voltage varistors
resonant ultrasound spectroscopy
system for resonant spectroscopy
Opis:
Rezonansowa spektroskopia ultradźwiękowa jest efektywną metoda testowania nieniszczącego ukierunkowaną na wykrywanie defektów w badanych obiektach. Procedura testująca bazuje na wzorcu rezonansów i danego obiektu, co umożliwia odrzucenie testowanych próbek nie odpowiadających wzorcowi. W zbudowanym systemie do testowania warystorów wysokonapięciowych zastosowano metodę "przemiatania" częstotliwości do pomiaru widma rezonansów, których częstotliwości zależą od niejednorodności struktury warystora. Jako kryterium testowania zaproponowano parametr jakości struktury Q, na podstawie którego proponuje się eliminację wadliwych elementów we wczesnej fazie procesu produkcyjnego.
Resonant ultrasound spectroscopy is an effective nondestructiye testing method focused on defects in tested objects. The testing procedure based on the resonant pattern allows to reject tested samples with defects do not fitting the pattern. A swept frequency method has been used to measure the spectrum of resonances in high-voltage varistors. The resonant frequencies depend on the varistor heterogeneity. The quality of the structure parameter Q has been proposed as a criterion for the "go- no go" testing for elimination of the defected elements in the preliminary stage of the varistor manufacturing process.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2008, 25; 61-66
1425-5766
2353-1290
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies