- Tytuł:
-
Stanowisko do pomiaru rozkładu widmowego promieniowania lamp ksenonowych
Measuring station for examination of the spectral characteristics of xenon lamps - Autorzy:
-
Ratajczak, J.
Wiczyński, G.
Domke, K. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/377086.pdf
- Data publikacji:
- 2013
- Wydawca:
- Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
- Tematy:
-
lampa ksenonowa
symulator promieniowania słonecznego
widmo promieniowania - Opis:
-
Źródłami promieniowania najczęściej stosowanymi w budowie symulatorów promieniowania słonecznego są lampy: halogenowe, metalohalogenkowe, ksenonowe oraz siarkowe. Znajomość widm promieniowania tych lamp jest warunkiem koniecznym dla poprawnego projektowania symulatora promieniowania słonecznego. Lampy ksenonowe charakteryzują się ciągłym widmem promieniowania w zakresie od 200 - 3000 nm, choć dokładny jego przebieg nie jest zawsze prezentowany przez wytwórców. W artykule opisane zostanie stanowisko pomiarowe do wyznaczania rozkładów widmowych lamp w zakresie od ultrafioletu do podczerwieni. Przedstawiona zostanie również procedura pomiaru widma optycznego spektrometrem. Omówione zostaną rozkłady widmowe lamp ksenonowych różnej mocy wyznaczone doświadczalnie i porównane zostaną z krzywymi przedstawianymi przez producentów w katalogach.
Radiation sources typically used in solar simulators include: halogen lamps, metal halide lamps, xenon lamps, and sulfur lamps. Knowledge of spectral characteristics of these lamps is a necessary condition for the correct design of solar simulator. Xenon lamps are characterized by a continuous radiation spectrum in the range of 200 - 3000 nm, although the exact course of its is not always presented by the manufacturers. The paper described measuring position to determine the spectral distribution of the lamp from the ultraviolet to the infrared. The paper also presented a procedure for measuring the optical spectrum using the spectrometer. Spectral distributions of xenon lamps of different power, set experimentally, are discussed and compared with the curves presented by the producers in catalogs. - Źródło:
-
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering; 2013, 73; 201-207
1897-0737 - Pojawia się w:
- Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł