Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "spektroskopia absorpcyjna w podczerwieni" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-5 z 5
    Tytuł:
    Badanie zawartości wybranych metali ciężkich w separatorze polimerowym akumulatora kwasowo-ołowiowego
    Analysis of the selected heavy metals content in the lead-acid battery polymeric separator
    Autorzy:
    Kolasa, Dorota
    Łukomska, Aneta
    Sołtysiak, Joanna
    Soszko, Michał
    Ciężarek, Olga
    Lach, Jakub
    Wróbel, Kamil
    Czerwiński, Andrzej
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/947358.pdf
    Data publikacji:
    2019
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Chemii Przemysłowej
    Tematy:
    separatory elektrod
    polietylen
    oznaczanie metali ciężkich
    mineralizacja mikrofalowa
    absorpcyjna spektrometria atomowa z atomizacją w płomieniu (FAAS)
    analizator rtęci
    skaningowa mikroskopia elektronowa/spektrometria dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego (SEM/EDS)
    spektroskopia w podczerwieni z transformacją Fouriera (FT-IR)
    electrode separators
    polyethylene
    heavy metals determination
    microwave-assisted digestion
    flame atomic absorption spectrometry (FAAS)
    mercury analyzer
    scanning electron microscopy/energy dispersive X-ray spectrometry (SEM/EDS)
    Fourier transform infrared spectroscopy (FT-IR)
    Opis:
    W materiale polimerowym stosowanym jako separator elektrod w akumulatorze kwasowo-ołowiowym oznaczano zawartość kadmu, ołowiu i rtęci. W kontekście obowiązujących przepisów dotyczących wprowadzanych do obrotu baterii i akumulatorów oraz przetwarzania zużytych baterii i zużytych akumulatorów porównano wyniki badania próbek separatora przed użyciem w procesach elektrochemicznych oraz próbek odpadowych. W badaniach separatora [poprzedzonych analizą jakościową tworzywa metodami: skaningowej mikroskopii elektronowej/spektrometrii dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego (SEM/EDS) i spektroskopii w podczerwieni z transformacją Fouriera (FT-IR)] wykorzystano nowoczesny aparat do mikrofalowego roztwarzania próbek w połączeniu z techniką absorpcyjnej spektrometrii atomowej z atomizacją w płomieniu (FAAS) i analizatorem rtęci. Zastosowane procedury analityczne weryfikowano na podstawie wyników badania certyfikowanego materiału odniesienia (PE-LD) zawierającego śladowe ilości analitów.
    Results of cadmium, lead and mercury determination in the polymeric material used as an electrode separator in the lead-acid battery have been presented. Samples of the separator before use in the electrochemical processes and the waste separator samples have been compared with reference to the existing laws on batteries and accumulators and waste batteries and accumulators. In the polymer separator examination [preceded by a qualitative analysis of the material using scanning electron microscopy/ energy dispersive X-ray spectrometry (SEM/EDS) and Fourier transform infrared spectroscopy (FT-IR) techniques], a modern UltraWAVE digestion system combined with flame atomic absorption spectrometry (FAAS) technique and a DMA-80 Direct Mercury Analyzer has been used. The quality of metal determination results has been evaluated using a certified PE-LD reference material containing trace amounts of analytes.
    Źródło:
    Polimery; 2019, 64, 6; 442-451
    0032-2725
    Pojawia się w:
    Polimery
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Korelacyjny pomiar gęstości widmowej mocy szumów detektorów fotonowych do spektroskopii absorpcyjnej
    Cross-correlation method for noise measurements of photodetectors used for laser absorption spectroscopy
    Autorzy:
    Achtenberg, Krzysztof
    Mikołajczyk, Janusz
    Bielecki, Zbigniew
    Wojtas, Jacek
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1857073.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
    Tematy:
    szumy
    detektory IR
    spektroskopia absorpcyjna w podczerwieni
    detektor supersieciowy
    noise
    infrared detectors
    infrared absorption spectroscopy
    superlattice detector
    Opis:
    W pracy przedstawiono wyniki pomiarów gęstości widmowej napięcia szumów detektorów fotonowych o małych rezystancjach przy użyciu specjalnie opracowanego stanowiska pomiarowego. Badania tych detektorów mają duże znaczenie dla wielu aplikacji. Są one szczególnie istotne dla układów laserowej spektroskopii absorpcyjnej do wykrywania śladowych ilości gazów. Uzyskiwana w nich granica wykrywalności jest bezpośrednio związana nie tylko z szumami źródeł promieniowania i szumem tła, lecz także z szumami detektora oraz kolejnych stopni fotoodbiornika. Zastosowanie w opracowanym systemie specjalnie zaprojektowanych ultramałoszumowych torów pomiarowych (wzmacniacze o napięciu szumów 3,6 × 10⁻¹⁹ V² /Hz dla f > 1 kHz) oraz operacji korelacji sygnałów w czasie 10 minut umożliwiło uzyskanie szumu tła poniżej 10⁻¹⁸ V² /Hz dla f > 10 Hz oraz poniżej 10⁻¹⁹ V² /Hz dla f > 1 kHz. Efektywność systemu zweryfikowano poprzez pomiary referencyjnych rezystorów, a następnie detektora z supersieci drugiego rodzaju (T2SL) wykonanego z InAs/InAsSb.
    The paper presents noise measurements of low-resistance photon detectors with a specially developed system. These measurements are significant for many applications. This issue is particularly critical for laser absorption spectroscopy systems to detect trace amounts of gases. In these systems, the detection limit is determined by noise origins, e.g., light source, background, and detector noise and its readout electronics. The use of some specially designed components of the system (low-noise - 3.6 × 10⁻¹⁹ V² /Hz for f >1 kHz) cross-correlation signal processing provides to obtain a measuring floor noise below 10⁻¹⁸ V² /Hz for f > 10 Hz and below 10⁻¹⁹ V² /Hz for f > 1 kHz after ten minutes’ analysis. Measurements of some reference resistors have verified the system’s performance. Finally, the system was also applied to determine the spectral noise density of the II-Type SuperLattice photodetector made of InAs/InAsSb.
    Źródło:
    Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej; 2020, 69, 4; 73-83
    1234-5865
    Pojawia się w:
    Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Spektroskopia NIR - modelowanie kwantowo-mechaniczne widm jako narzędzie w badaniach podstawowych i wsparcie zastosowań analitycznych
    NIR spectrometry - spectra simulation as a potent tool in basic research and analytical applications
    Autorzy:
    Beć, Krzysztof B.
    Grabska, Justyna
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/27310036.pdf
    Data publikacji:
    2023
    Wydawca:
    Polskie Towarzystwo Chemiczne
    Tematy:
    modelowanie kwantowo-mechaniczne widm
    spektroskopia absorpcyjna w zakresie bliskiej podczerwieni (NIR)
    interpretacja widm
    nadtony
    pasma drgań kombinacyjnych
    przypisania pasm
    spectra simulation
    near-infrared (NIR)
    spectra interpretation
    overtones
    combination bands
    band assignments
    Opis:
    Near-infrared (NIR) spectroscopy is a powerful technique that has been extensively used for the qualitative and quantitative analysis of a broad range of chemical compounds in various fields, such as pharmaceuticals, food, and environmental monitoring. However, the interpretation of NIR spectra is often challenging due to the complex line shape and overlapping signals that make it difficult to assign the bands to specific molecular vibrations. In recent years, significant advancements in theoretical methods have enabled the calculation of NIR spectra for a variety of molecules, paving the way for the integration of computational chemistry and NIR spectroscopy. This emerging field offers a wealth of opportunities to improve our understanding of the spectral features and to provide detailed molecular fingerprints that are essential for fundamental research and practical applications. Accurate simulation of NIR bands unlocks new potential in exploring the solvent effect or intermolecular interactions, in which cases interpreted overtones and combination bands provide unique information, complementary to that extracted from the fundamental bands observed in mid-infrared (MIR) region. In the area of applications, by reproducing the spectra of molecules with complex structures, theoretical calculations can provide new physical insights into the nature of the vibrational modes that contribute to the spectral signals. This knowledge can be used to improve the accuracy and reliability of chemometric models that are commonly used in quantitative analysis.
    Źródło:
    Wiadomości Chemiczne; 2023, 77, 7-8; 719--743
    0043-5104
    2300-0295
    Pojawia się w:
    Wiadomości Chemiczne
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Układ detekcji metanu z laserem kaskadowym oraz komórką wielokrotnych przejść
    Quantum cascade laser, multipass cell instrument design for methane detection
    Autorzy:
    Miczuga, M.
    Głogowski, P.
    Kubicki, J.
    Kopczyński, K.
    Kwaśny, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/160154.pdf
    Data publikacji:
    2010
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
    Tematy:
    laserowa spektroskopia absorpcyjna
    laser kaskadowy
    detekcja metanu
    spektroskopia w podczerwieni
    optoelektronika
    Opis:
    W artykule przedstawiono budowę oraz zasadę działania optoelektronicznego układu przeznaczonego do detekcji śladowych ilości metanu (na poziomie ppm oraz sub-ppm). Podstawowymi elementami układu są komórka wielokrotnych przejść (komórka White’a) oraz laser kaskadowy QCL. W trakcie badań wykorzystano laser kaskadowy emitujący promieniowanie o długości fali 7,85 µm. Zastosowanie laserów kaskadowych umożliwia dopasowanie parametrów emitowanego promieniowania laserowego do widma absorpcji metanu. W artykule przedstawiono także podstawowe charakterystyki kalibracyjne układu, wpływ stężenia, temperatury oraz ciśnienia gazu na mierzone wartości transmisji promieniowania przez próbkę. Dzięki wysokiej czułości, selektywności oraz stabilności pracy układy detekcji metanu zbudowane na bazie laserów kaskadowych mogą znaleźć zastosowanie w ochronie środowiska, diagnostyce medycznej oraz systemach ostrzegania w kopalniach.
    The article presents construction and principle of operation of the optoelectronic system for methane detection at low gas concentrations (at level of ppm and sub-ppm). Designed instrument is based on quantum cascade laser QCL (wavelength 7,85 µm) and multipass cell (White cell configuration). Quantum cascade lasers enables adjust parameters of laser radiation to absorption spectrum of measured gas (methane). Main calibration characteristics of the instrument including: effects of concentration, temperature and pressure of methane on transmission of laser radiation trough the sample was presented. Instrument based on QC Lasers because of its high responsivity, selectivity and stability can find application in medicinal diagnosis, nature conservation and mining safety systems.
    Źródło:
    Prace Instytutu Elektrotechniki; 2010, 245; 139-152
    0032-6216
    Pojawia się w:
    Prace Instytutu Elektrotechniki
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Zastosowanie fourierowskiej spektroskopii absorpcyjnej w podczerwieni do badania interfejsu SiO2//Si w łączonych strukturach SOI
    Infrared spectroscopic analysis of the SiO2//Si interface of soi structures
    Autorzy:
    Możdżonek, M.
    Piątkowski, B.
    Kozłowski, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/192054.pdf
    Data publikacji:
    2008
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
    Tematy:
    spektroskopia absorpcyjna w podczerwieni
    interfejs SiO2//Si
    badanie tlenków
    Opis:
    Badania tlenków w pobliżu interfejsu SiO2//Si powstałego w wyniku połączenia płytek krzemowych oraz interfejsu Si/SiO2 uformowanego w procesie termicznego utleniania płytek Si w łączonych strukturach SOI przeprowadzono metodą fourierowskiej spektroskopii absorpcyjnej w podczerwieni. Określono zmiany energii fononów TO i LO wiązań O-Si-O w zależności od grubości tlenku, pocieniając badane tlenki poprzez trawienie w rozcieńczonym kwasie fluorowodorowym. Uzyskane wyniki zmian energii fononów optycznych w funkcji grubości tlenków pokazują, że w pobliżu obu interfejsów istnieją obszary substechiometrycznego SiOx. Struktura tlenków w tych obszarach jest jednak różna. W przypadku interfejsu SiO2//Si występuje SiO2 + Si, co powoduje przesunięcie linii absorpcyjnej modu TO w stronę wyższych liczb falowych. Zmiany położenia linii modu TO obserwowane są dla tlenków o grubości poniżej 4,0 nm. W interfejsie Si/SiO2 warstwa SiOx jest taka sama jak warstwa przejściowa w tlenkach termicznych. Badania absorpcyjne wykonano dla tlenków w zakresie grubości l,5-20nm.
    Infrared absorption spectroscopy has been used to investigate the silicon oxide near the two interfaces in the SOI structure, the SiO2//Si interface created by bonding of two silicon wafers and the Si/SiO2 interface created by thermal oxidation. The oxide films were thinned by etching in dilute hydrofluoric acid for the spectroscopic analysis. The behavior of the transverse (TO) and longitudinal (LO) optical phonon modes, which are associated with asymetric streching the O-Si-O bonds as a function of the oxide film thickness provides an evidence that near the both interfaces exist region of sub-stoichiometric silicon oxide (SiO ). The structure of this SiOx layer is different at each interface. We propose a model in which the sub-oxide layer in the SiO2//Si interface is composed with SiO2 and Si. We found that the TO phonon frequency apparently starts to shift toward higher wave number at around 4,0 nm from the interface. The structure of this SiOx layer in the Si/SiO2 interface is just the same as that observed for the thermal oxide. Spectroscopic investigations were performed for the oxide films range from 1,5 nm to 20 nm.
    Źródło:
    Materiały Elektroniczne; 2008, T. 36, nr 1, 1; 38-48
    0209-0058
    Pojawia się w:
    Materiały Elektroniczne
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-5 z 5

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies