Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "spectrograph" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-2 z 2
    Tytuł:
    Spectral resolution of Cauchois-Johansson spectrometer
    Autorzy:
    Baronova, E. O.
    Stepanenko, M. M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/147963.pdf
    Data publikacji:
    2001
    Wydawca:
    Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
    Tematy:
    resolution
    spectrograph
    X-rays
    Opis:
    Spectral resolution of a Cauchois-Johansson spectrometer is analyzed analytically and studied experimentally, using an X-ray tube. Widening of Mo K-alpha spectra, taken in the transmission regime are discussed. Spectral resolution is shown to be δλ/λ ≈ 1.7×10–3. This value is explained by the influence of crystal thickness and diffraction defocusing of line.
    Źródło:
    Nukleonika; 2001, 46, suppl. 1; 53-56
    0029-5922
    1508-5791
    Pojawia się w:
    Nukleonika
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Oznaczanie zawartości Y, Al, Nd oraz zanieczyszczeń w próbkach Y4Al2O9 (YAM) niedomieszkowanych i domieszkowanych neodymem
    The determination of Y, Al, Nd and impurities in Y4Al2O9 (YAM) undoped and neodymium-doped samples
    Autorzy:
    Harasimowicz-Siemko, J.
    Karaś, A.
    Sokołowska, W.
    Dąbrowska, D.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/192228.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
    Tematy:
    YAM
    Y
    Al
    Nd
    oznaczanie zanieczyszczeń
    FAAS
    ICP-OES
    spektrografia
    spektrofotometria UV-VIS
    determination of impurities
    UV-VIS spectrophotometre
    spectrograph
    Opis:
    Celem niniejszej pracy było oznaczenie głównych pierwiastków (Y, Al, Nd) kryształów YAM niedomieszkowanych i domieszkowanych neodymem oraz zanieczyszczeń śladowych. Pierwszym etapem pracy było dobranie odpowiednich warunków pracy urządzenia do mikrofalowego roztwarzania w celu przeprowadzenia próbek do fazy ciekłej. Następnie wykonano analizę jakościową i półilościową z wykorzystaniem spektrografu emisyjnego w celu określenia poziomu zanieczyszczeń. Oznaczono za pomocą FAAS Al i Nd przy zastosowaniu 0,1% chlorku cezu (bufor jonizacyjny) i 0,2% chlorku lantanu (bufor chemiczny) oraz oznaczono itr za pomocą ICP-OES.
    The purpose of this study was to determine both the major elements (Y, Al, Nd) of YAM crystals, undoped and doped with neodymium, and impurities. The first stage of the study was the selection of conditions appropriate for microwave digestion in order to transfer the samples to the liquid phase. Then, the qualitative and semiquantitative analysis of the samples using emission spectrography was performed with a view to identifying the level of impurities. The concentration of aluminium and neodymium in YAM samples was determined by FAAS, using 0.1% of cesium chloride (ionization buffer) and 0.2% of lanthanum chloride (chemical buffer). The concentration of yttrium was measured by the ICP-OES method.
    Źródło:
    Materiały Elektroniczne; 2011, T. 39, nr 2, 2; 26-31
    0209-0058
    Pojawia się w:
    Materiały Elektroniczne
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-2 z 2

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies